一种四束分光的等光程分光棱镜组装置

    公开(公告)号:CN107024774A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201610071425.0

    申请日:2016-02-01

    CPC classification number: G02B27/106 G02B27/286

    Abstract: 本发明公开了一种四束分光的等光程分光棱镜组装置,包括λ/4波片、三个分光棱镜组、偏振阵列和探测器。每个分光棱镜组均由三个三角棱镜胶合而成,可将一束入射光等光程地分为两束出射光。三个分光棱镜组组合后,可将经过λ/4波片后的一束正交的圆偏光分为四束相同的光,经偏振阵列移相,成像在探测器上形成四幅干涉图像。本发明利用特殊设计的分光棱镜组对入射光进行等光程地分光,可达到很高的光能利用率。且四束出射光均平行于光轴,无需再利用其他光学元件准直,所以位置匹配精度很高。

    钻削模拟实验装置
    32.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104123879B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410351661.9

    申请日:2014-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种钻削模拟实验装置,包括伺服油缸、油缸支架、位移传感器、力传感器、推力架、液压马达、马达游走支架、扭矩转速传感器、推力托盘、推力轴承、钻头连接器、钻头、滑轨、实验台;发明可以更经济、方便的研究钻削过程中各种影响系数对钻进过程的影响,能控制钻削过程中的各项参数变化;本发明能实时的输出与钻进过程相关的参数,如力、扭矩、钻速等参数到计算机上;本发明能在轴向加载正弦或者方波变化的力,来研究有特殊加载的钻削过程。

    快速爆破装置
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104034216B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201410246620.3

    申请日:2014-06-05

    Abstract: 本发明公开了一种快速爆破装置,包括一级前壳体、聚能药柱、一级药托、击针、二层壳体、一层下壳体、二层底螺、推进火药、一层底螺、延期药座、延期药、二层装药、一级雷管衬、雷管、传爆药与一级药型罩;本发明采用前级聚能开孔,后级炸药随进的方式,在一次操作中完成开孔和爆破的作业。适合在救灾或行军过程中,快速破除障碍开辟道路;且操作简单方便,储存安全可靠。

    色散剪切像面干涉超光谱成像装置及方法

    公开(公告)号:CN103063304B

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201210563015.X

    申请日:2012-12-21

    Abstract: 本发明提供一种色散剪切像面干涉超光谱成像装置及方法,该装置包括沿光路方向依次放置的前置光学系统、Sagnac色散剪切分束系统、成像系统和信号处理系统。来自目标各点的入射光进入前置光学系统,确定目标视场,消除杂散光并形成准直光束;进入Sagnac色散剪切分束系统被横向剪切一分为二,形成剪切距离随波数变化的两束光;进入成像系统,在成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带有干涉信息的目标图像;推扫探测目标以获取目标各点不同光程差下的干涉信息;信号处理系统对干涉信息进行傅里叶变换获取目标各点的光谱信息及各个谱段的二维图像信息;该方法具有超光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率等优点。

    一种精确标定波片和偏振片夹角的装置及标定方法

    公开(公告)号:CN104931234A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201410098097.4

    申请日:2014-03-17

    Abstract: 本发明公开了一种精确标定波片和偏振片夹角的装置及标定方法,该方法是基于偏振成像实验中,目标场景的光强信息和偏振器件的方向角之间的傅里叶级数关系,包括一个可旋转的线偏振片和偏振成像装置。可旋转的线偏振片由步进电机带动旋转;偏振成像装置由一个可旋转的相位延迟器和一个固定的线偏振片组成。待测目标光束入射到线偏振片,形成一束线偏振光,再经过偏振成像装置,在成像探测器靶面上得到携带一组偏振态信息的目标图像,通过步进电机带动线偏振片连续旋转一周,并同时连续探测目标场景的光强信息。最终通过矩阵相乘、傅里叶积分和三角函数等运算标定出偏振器件的方向角。本发明具有精度高,装置简单,易操作等优点。

    一种采用对称光栅的焦距测量装置

    公开(公告)号:CN103063414B

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201210566224.X

    申请日:2012-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种采用对称光栅的焦距测量装置,包括在同一光轴上顺次放置的激光器、准直扩束镜、待测透镜、第一光栅、第二光栅、接收屏、成像物镜、CCD相机,其中第二光栅为对称光栅;放入待测透镜前,激光器发出的激光经过准直扩束镜形成准直光,入射到待测透镜上,再经第一光栅,在第二光栅处形成泰伯像,与第二光栅叠加得到莫尔条纹,形成的莫尔条纹被接收屏接收,再经过成像物镜成像于CCD相机,此时接收到的图像记为莫尔条纹L1,放入待测透镜后接收到的图像记为莫尔条纹L2,计算莫尔条纹L1与莫尔条纹L2的夹角就可以得到被测系统的焦距。本发明结构简单、精度高、易于实现,可以用于长焦距系统的精确测量。

    一种基于对称楔形干涉腔的高光谱全偏振成像装置及方法

    公开(公告)号:CN104568151A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201310483123.0

    申请日:2013-10-15

    Abstract: 本文发明一种基于对称楔形干涉腔的高光谱全偏振成像装置和方法,该装置沿光路方向依次放置前置成像物镜、对称楔形干涉腔系统、微偏振调制阵列、探测器及信号处理系统。方法步骤为:第一步,入射光经前置成像物镜,到达对称楔形腔,形成多光束干涉;第二步,光束经过微偏振调制阵列,同一物点经过微偏振调制阵列四个偏振象元调制后在探测器靶面上同时生成四个偏振态的干涉像点;第三步,经过推扫,获取目标点不同光程差下的四组偏振干涉信息;第四步,信号处理系统经过光谱复原、偏振信息重构后获取场景的二维光强信息、光谱信息及各谱段的全偏振参量。该方法具有高光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率以及光谱信息和偏振信息同步获取等优点。

    共光路型多重倾斜波面补偿非零位干涉测量装置

    公开(公告)号:CN103575229A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201210263270.2

    申请日:2012-07-27

    Abstract: 本发明公开了一种共光路型多重倾斜波面补偿非零位干涉测量装置,包括菲索干涉仪、标准平晶、自由曲面梯度补偿模块和待测自由曲面,自由曲面梯度补偿模块的主光轴与干涉测试装置主光轴重合,菲索干涉仪的发出的平行光束经过标准平晶后分成两束光,一束光从标准平晶表面反射回菲索干涉仪形成参考光,另一束光进入自由曲面梯度补偿模块,并从自由曲面梯度补偿模块出射,形成不同倾斜角度的测试光束入射到待测自由曲面,经过待测自由曲面反射回到自由曲面梯度补偿模块,最终从自由曲面梯度补偿模块出射,返回菲索干涉仪形成测试光。本装置同时实现了局部梯度较大的光学自由曲面的高精度测量和测试装置的可移植性模块化。

    可自动装载大口径光学镜片的三维调整测量台

    公开(公告)号:CN102175434B

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201110045211.3

    申请日:2011-02-25

    Abstract: 本发明公开了一种可自动装载大口径光学镜片的三维调整测量台,它主要由多工位平衡台、传送机构、三维调整机构组成,其中,三维调整机构中的传动台组件可以自动的将夹持有大口径光学镜片的工件架传送到调整测量台中心对准干涉系统,三维调整机构中的精密升降部件、俯仰调节组件以及旋转台组件可以方便的对大口径光学镜片的三维姿态进行调整,实现全自动的被测件测试前的装载对准工作。本发明各部件加工方便,工作稳定灵活,可靠性强,同时检测效率高,被测大口径光学镜片的高低调节范围达100mm~150mm,俯仰及水平旋转的调整精度可达0.02″,实现了流水线式的自动化检测要求。能广泛应用于大口径光学元件的自动装载和精密检测中。

    基于泰伯-莫尔技术的一体化长焦距测量装置

    公开(公告)号:CN103063413A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201210566110.5

    申请日:2012-12-24

    Abstract: 本发明是一种基于泰伯-莫尔条纹技术的一体化长焦距测量装置,包括激光器、非球面准直物镜、一面增透一面增反透镜、平面反射镜、半反半透镜、泰伯干涉仪、成像透镜、第一CCD、对点系统和待测长焦距透镜;泰伯干涉仪包括第一光栅、第二光栅、第一散射板,对点系统包括会聚透镜、第二散射板、第二CCD;待测长焦距透镜未放入时,利用对点系统调整系统光轴一致;然后将第一CCD采集到的莫尔条纹L1输入到计算机;放入待测长焦距透镜,再次通过第一CCD采集包含焦距信息的莫尔条纹L2并输入到计算机;利用计算机求得莫尔条纹L1和莫尔条纹L2的夹角进而求得待测透镜的焦距f。本装置设计有对点系统,确保系统光轴的一致性,可以实现高精度的长焦距测量。

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