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公开(公告)号：CN103698386B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201310687895.6
申请日：2010-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N27/622
Abstract: 本发明提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。
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公开(公告)号：CN104749389A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310746569.8
申请日：2013-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N30/18 , G01N27/622 , G01N30/12 , G01N30/20 , G01N30/30 , G01N30/7206 , G01N2030/025
Abstract: 公开了一种通用型进样器，包括：进样端口机构、进样器壳体、气化室、加热器、温控单元、载气通道、隔垫吹扫通道、分流通道、冷却剂通道、多通道气流控制阀、以及温控单元。该通用型进样器相当于一个把分流/不分流和冷柱头进样结合在一起的程序升温进样器，充分发挥了各种进样方式的长处，克服了多个缺点，实用性更强，灵活性更好。
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公开(公告)号：CN104483423A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410852020.1
申请日：2014-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N30/18
CPC classification number: G01N1/02 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N1/2273 , G01N1/38 , G01N1/405 , G01N1/42 , G01N27/622 , G01N30/08 , G01N2030/128 , H01J49/0422 , H01J49/0459 , H01J49/0468
Abstract: 本发明提供了一种样品采集和热解析进样装置，包括：样品采集结构；活塞式吸附器，具有能够与样品采集结构连通的用于吸附所采集的样品的吸附腔；活塞缸，限定用于容纳该吸附器并与吸附腔连通的活塞腔；热解析腔，与吸附腔和活塞腔连通并热解析被吸附在吸附腔内的样品；和泵，通过导管与活塞腔连通并通过样品采集结构将环境气体中的样品抽吸到吸附腔，所述吸附器被构造成能够在样品采集位置和样品解析位置之间在活塞腔内移动，在采集位置中吸附腔定位在热解析腔外并与样品采集结构连通以吸附由其采集的样品，在解析位置中吸附腔定位在热解析腔内使所吸附的样品在热解析腔内被热解析。还提供了采用上述装置进行样品采集和解析的方法和痕量检测设备。
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公开(公告)号：CN102565181A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201010624243.4
申请日：2010-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01N27/622
Abstract: 本发明公开了一种用于离子迁移谱仪的进样装置，其用于将待测样品导入到离子迁移谱仪的迁移管的入口中，所述进样装置包括：固体进样部件；样品进口部件；固定连接部件；其中，所述固体进样口部件在其内部限定有内腔体，其一端通过内腔体与样品进口部件相连通，其另一端通过固定连接部件与离子迁移管的入口相连通；以及气体进样部件，其包括主体和外部连接部件，所述主体内具有气体通道，并且所述外部连接部件包括进气孔，该进气孔与所述气体通道连通，其中，当所述外部连接部与样品进口部件配合时，所述主体插入到所述内腔体中，从而固体进样部件的通道被封闭，仅有气体进样部件的气体通道与迁移谱仪的迁移管的入口连通。
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公开(公告)号：CN116184484A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202111427640.7
申请日：2021-11-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T7/00
Abstract: 本公开提供了一种探测器装置和射线检测设备，其可以应用于辐射检测技术领域。该探测器装置包括：探测器组件，用于接收射线源产生的射线，并生成模拟信号；模拟电路模块，用于接收模拟信号并转换成数字信号，模拟电路模块具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面的第一区域与探测器组件可拆卸连接，第二表面适于与探测器装置的目标安装位置连接；以及数字电路模块，用于接收来自模拟电路模块的数字信号，第一表面的第二区域与数字电路模块可拆卸连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115436989A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110625375.7
申请日：2021-06-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: 本公开涉及一种束流分布专用探测装置和束流分布探测方法。该束流分布专用探测装置包括至少一个探测器模块，探测器模块包括线阵探测器和逻辑控制模组，其中，线阵探测器，被配置为根据逻辑控制模组的指示，采集束流数据；逻辑控制模组，被配置为对束流数据进行处理，根据处理后的束流数据判断束流状态是否满足预定要求；在束流状态不满足预定要求的情况下，对束流进行调整。本公开采用线阵探测器，使用方法简单，大大节省了调试时间。
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公开(公告)号：CN113466186A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010243019.4
申请日：2020-03-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种用于闪烁体余辉的检测装置和方法。该检测装置包括：LED芯片光源，用于在被开启后发出紫外光，以及在被关断后不发出紫外光，其中，该紫外光照射在闪烁体上以使得该闪烁体发出光信号；光电探测器，用于接收闪烁体发出的光信号，并将该光信号转换为电信号；信号处理器，用于对电信号进行信号处理，以得到闪烁体的闪烁光强度；以及信息处理设备，用于从信号处理器接收闪烁光强度，并拟合得到该闪烁光强度随时间变化的曲线，并根据该曲线获得闪烁体的余辉特性参数。本公开实现了闪烁体余辉的便捷检测。
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公开(公告)号：CN110333252A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
Abstract: 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
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公开(公告)号：CN105203692B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201510673716.2
申请日：2015-10-16
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N30/88
Abstract: 本发明提供一种安检设备、采样装置、安检方法和采样方法。安检设备包括：采样装置，所述采样装置具有采样面，在采样面内设置用于吸入被检目标的样品颗粒的多个吸入口和用于吹出气流的多个吹扫口；预处理装置以及，检测装置。采样装置将样品输送至预处理装置，预处理装置将预处理后的样品输送至检测装置。本发明的设备可以方便地靠近被检目标实施检测，并且不会对被检目标带来损坏或不适，并且在一个被检目标采样的同时，对从前一被检目标采集的样品进行分析，效率高。
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公开(公告)号：CN104535379B
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：CN201410855315.4
申请日：2014-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N1/24
CPC classification number: G01N1/24 , G01N1/2211 , G01N30/30
Abstract: 本发明公开了一种采样装置和气帘引导体。采样装置包括：腔体，具有位于腔体的第一端的吸入样品的采样入口和位于腔体的与第一端相对的第二端附近的排出样品的样品出口。腔体还包括位于腔体的壁内的充气入口和排气口，充气入口配置成向腔体内吹入旋转气流，排气口配置成排出气体，以便与充气入口一起在腔体内形成龙卷风式气流，所述龙卷风式气流沿从腔体的第一端至第二端螺旋式前进。此外，给所述腔体设计加热温控系统，能使进入腔体内的难挥发性物质快速气化进样。本发明实现对广泛的物质的快速、高效的采样。
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