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公开(公告)号：CN109856696B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN201811654178.2
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括准光学组件，用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括反射板；探测器阵列，用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其包括旋转机构，用于驱动反射板在水平方向旋转运动，使得反射板对被检对象位于视场不同水平位置部分的波束进行反射，和俯仰摆动机构，用于驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，当反射板在旋转机构带动下每旋转一定角度，俯仰摆动机构驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，使得反射板对来自被检对象位于视场不同竖直位置的部分的波束进行反射，从而使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点排布均匀。
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公开(公告)号：CN109633776B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN201811654172.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
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公开(公告)号：CN109471197A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811654207.5
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种安检设备及其控制方法，所示安检设备包括：设备本体，所述设备本体上设置有检测空间，所述检测空间用于容纳待测物品；二维(2D)多发多收(MIMO)装置，设置在所述检测空间中，用于向待测物品发送检测信号，并接收来自待测物品的回波信号；处理器，与所述2D MIMO装置相连，用于根据接收到的回波信号来重建待测物品的图像。本公开的实施例能够以更高的准确性重建待测物品的图像，从而提高检测准确性和检测效率。
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公开(公告)号：CN109856696A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201811654178.2
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括准光学组件，用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括反射板；探测器阵列，用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其包括旋转机构，用于驱动反射板在水平方向旋转运动，使得反射板对被检对象位于视场不同水平位置部分的波束进行反射，和俯仰摆动机构，用于驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，当反射板在旋转机构带动下每旋转一定角度，俯仰摆动机构驱动反射板在竖直方向俯仰摆动，使得反射板对来自被检对象位于视场不同竖直位置的部分的波束进行反射，从而使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点排布均匀。
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公开(公告)号：CN209433032U
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201822275905.6
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置结构和人体安检设备。稀疏多发多收阵列布置结构，包括一组发射天线和一组接收天线；其中，所述一组发射天线包括在弧面内沿第一弧排列的多个发射天线，所述一组接收天线包括在弧面内沿第二弧排列的多个接收天线，所述一组发射天线平行于所述一组接收天线且间隔开，且位于同一弧面；其中，与沿第一弧排列的两个相邻的发射天线之间的间隔弧长对应的第二弧的相等弧长范围内布置至少一个接收天线。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209296946U
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201822275837.3
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将第一被检对象和第二被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括反射板，第一被检对象和第二被检对象分别位于反射板的相对侧处，反射板能够绕水平轴线转动以分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同竖直位置的部分的波束和第二被检对象位于第二视场不同竖直位置的部分的波束；毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备通过对位于反射板相对侧处的两个被检对象同时进行成像，因而提高了检测效率且控制简单、成本低。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209182531U
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201822275828.4
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板；所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束；和所述反射板调节装置适用于调节所述反射板的运动，以使得所述反射板对所述被检对象自发辐射或反射回来的波束进行反射的轨迹包络为类圆形或类椭圆形，以使得采样密集点集中在全视场中间，而不是在视场边缘，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209821372U
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201822275814.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置，包括：二维多发多收收发阵列面板，其包括至少一个子阵列，其中每个阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线，所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交；信号处理装置；显示装置；以及测距雷达。在每个子阵列中，每个发射天线和相应一个接收天线的连线的中点被看作这对发射天线-接收天线的虚拟的等效相位中心，多个发射天线和多个接收天线被设置为产生等效相位中心网；相邻的发射天线或相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长，在所产生的等效相位中心网中，相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的30％至70％的范围内。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210534345U
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201822275885.2
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种安检设备，所述安检设备包括固定在现场中的本体和安装在本体上的电磁成像装置，所述电磁成像装置包括：二维多发多收收发阵列面板，所述二维多发多收收发阵列面板包括：至少一个二维多发多收收发子阵列，每个二维多发多收收发子阵列包括多个发射天线和多个接收天线，所述多个发射天线和所述多个接收天线被布置为使得等效相位中心排列成二维阵列；以及控制电路；信号处理装置，用于根据接收到的回波信号来重建被检对象的图像；显示装置，用于显示所重建的被检对象的图像。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209433033U
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201822275984.0
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/20
摘要： 本公开的实施例公开了一种用于主动式毫米波安检成像的稀疏多发多收阵列布置结构和人体安检设备。稀疏多发多收阵列布置结构，包括沿第一行排列的多个发射天线的一组发射天线和沿第二行排列的多个接收天线的一组接收天线，所述一组发射天线平行于所述一组接收天线，且位于同一平面；其中，发射天线之间的间隔距离和接收天线之间的间隔距离不小于辐射波的波长的一倍，使得发射天线和接收天线的总数量减少；其中，所述稀疏多发多收阵列布置结构包括：多个部段，相邻的两个部段之间形成夹角。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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