一种尺寸测量评分装置及调节方法和评分方法

    公开(公告)号:CN112330599B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202011103725.5

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 一种尺寸测量评分装置及调节方法和评分方法,其中尺寸测量评分装置包括固定架、操作台、检测台、光源以及相机;所述检测台、光源以及相机设置于固定架;检测台的中间部位设置有通孔,在通孔处设置有载物板,载物板为透明材质;光源设置于检测台下方,与载物板对应设置;相机设置于载物板的正上方的相机固定板;操作台与光源以及相机电性连接;相机和检测台之间设置有标准平晶;相机的镜头处设置有远心同轴镜头,远心同轴镜头的侧面设置有He‑Ne激光器;通过在相机和载物板之间设置标准平晶,并且在载物板的四个角上设置微调节旋钮,在相机上设置He‑Ne激光器,实现相机的镜头和载物板之间的平行设置。

    一种基于评分系统的尺寸测量方法

    公开(公告)号:CN114608444B

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202210266333.3

    申请日:2020-10-15

    Abstract: 一种基于评分系统的尺寸测量方法,其中评分系统包括操作模块和检测模块,所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块;系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能;进入系统设置模块需要输入密码;尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能;尺寸测量评分系统还包括退出系统模块;本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能,实现模板的制作以及待检测零件的精确测量;并通过模板信息提取制作试题的模板源图,用于和待检测零件进行比较,进而实现打分。

    一种高可靠的研磨机关停控制装置及其方法

    公开(公告)号:CN107877355B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN201711377317.7

    申请日:2017-12-19

    Abstract: 本发明公开了一种高可靠的研磨机关停控制装置,包括测频系统研磨机控制电路模块、连接口、两个串联的研磨机关停控制器、研磨机;所述测频系统控制电路模块与两个串联的研磨机关停控制器通过连接口连接,所述研磨机与两个串联的研磨机关停控制器通过电性连接;所述研磨机关停控制器为固态继电器或光电耦合器;所述测频系统控制电路模块包括研磨机控制输出自检模块、研磨机控制自检模块和关停研磨机控制模块;本发明提供了一种可靠性高、结构简单合理、制作方便、基于双路控制和带自检功能的适用于石英晶片研磨在线测频系统关停研磨机的控制装置及其方法。

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