金属疲劳微结构演化的准原位EBSD观测方法

    公开(公告)号:CN117030762A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310957495.6

    申请日:2023-08-01

    发明人: 池维乾 王文静

    IPC分类号: G01N23/203

    摘要: 本申请公开了一种金属疲劳微结构演化的准原位EBSD观测方法,其中,所述方法包括:S1.抛光试样的待观测表面以使所述待观测表面平整且无划痕,在抛光后的所述待观测表面上标记观测区域;S2.清洁所述待观测表面并对清洁后的所述待观测表面提供防护;S3.将所述试样装载到疲劳试验机后去除所述防护,对所述试样进行疲劳加载至预定次数,再次对所述待观测表面提供防护后从所述疲劳试验机取下所述试样;S4.在进行EBSD观测前,将所述防护去除并对所述待观测表面进行再次清洁;S5.对所述观测区域进行EBSD观测。本申请的观测方法能够以更高效、经济的方式适于更多加载模式、循环次数的疲劳加载下的试样微结构观测。

    一种X射线成像探测方法、装置、系统和存储介质

    公开(公告)号:CN116973384A

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202310689630.3

    申请日:2023-06-12

    摘要: 本发明实施例公开一种X射线成像探测方法、装置、系统和存储介质,方法包括:在双线双窗盘型扫描器转动过程中,当X射线源发射的射线通过准直器和双线双窗盘型扫描器的双线形成平行四边形的光束照射在待检测对象上发生康普顿散射时,通过背散射探测器获得照射在待检测对象上的背散射信号;当X射线源发射的射线通过准直器和双线双窗盘型扫描器的双窗透射的光束照射在待检测对象上时,通过透射探测器获得照射在待检测对象上的透射信号;根据背散射信号进行背散射成像,得到待检测对象对应的密度分布信息;根据透射信号进行透射成像,得到待检测对象对应的有效原子序数分布信息;基于密度分布信息和有效原子序数分布信息显示待检测对象的图像。

    电子束探测装置、探测组件和校准方法

    公开(公告)号:CN116952997A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202210409220.4

    申请日:2022-04-19

    摘要: 本申请实施例提供了一种电子束探测装置、探测组件和校准方法,电子束探测装置包括:电子源,用于出射电子束,并沿多条扫描路径中的一条移动;探测组件,所述探测组件包括至少两个几何体,所述几何体包括至少两组平行的线性边缘,其中所述至少两组平行的线性边缘的倾斜角度不同,且同时位于所述电子束的所述多条扫描路径中的至少一条上;处理器,用于根据所述电子束扫描过所述至少两组平行的线性边缘来获取所述电子束的参数。能够得到电子束的准确参数,通过该参数校准该电子束,进而保证根据该参数得到的待测样品的组成成分和形貌特征探测更精确。

    一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法

    公开(公告)号:CN111678933B

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202010477831.3

    申请日:2020-05-29

    摘要: 本发明公开了一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法,改变磁处理的参数之一磁场强度,对脉冲磁场放电次数相同、试样尺寸相同的20Cr2Ni4A齿轮钢试样进行微观组织观察,分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化。首先,用EBSD测试材料的晶粒组织变化,并分析晶粒组织变化原因。然后,利用EDS对试样进行测试,通过能谱分析图进行材料的元素种类和含量的分析。最后,分析不同场强下的材料晶粒组织和元素种类含量的变化原因。本方案通过分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化,为以后较为复杂的20Cr2Ni4A齿轮钢零件进行磁场处理的性能奠定了基础。

    一种高强钢中小角度晶界的显示及定量分析方法

    公开(公告)号:CN116773569A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202210221363.2

    申请日:2022-03-07

    IPC分类号: G01N23/203 G01N23/20008

    摘要: 本发明涉及一种高强钢中小角度晶界的显示及定量分析方法,所述方法包括以下步骤:步骤1:取制样:将待测样品镶嵌、磨光、抛光,制成普通金相样品后,再进行震动抛光,切割成0.25~2mm的薄片;步骤2:将制备好的样品放入扫描电镜样品室,步骤3:通过EBSD采集晶体衍射花样;步骤4:利用软件进行数据处理显示小角度晶界;步骤5:利用软件进行数据处理对小角度晶界进行定量分析。该方法将高强钢中大量的小角度晶界显示出来,并定量分析了不同角度晶界的百分含量,该方法填补了现有微观组织观察方法不能清晰显示小角度晶界并进行定量分析的难题,为高强钢组织细化强化机理研究,现场冷却工艺制定提供了重要的理论支撑。

    用于实时可配置的反向扫描器的系统和方法

    公开(公告)号:CN116601485A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202180045293.3

    申请日:2021-06-24

    发明人: J·班达翰

    IPC分类号: G01N23/203

    摘要: 本文描述了用于反向散射成像的系统和方法。提供了一种用于对物体成像的可实时配置的物体反向散射成像系统。该反向散射成像系统包括:源阵列,其包括多个离散源;以及准直器阵列,其包括与损失多个离散源相对应的多个准直器。损失源阵列被配置为以至少部分基于损失物体相对于损失反向散射成像系统的速度确定的频率选择性地激活所述多个离散源。