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公开(公告)号:CN117030770A
公开(公告)日:2023-11-10
申请号:CN202311004967.2
申请日:2023-08-10
申请人: 江苏科技大学
IPC分类号: G01N23/2251 , G01N23/20058 , G01N23/203 , B22F10/85 , B22F10/66 , B22F10/25 , B33Y40/20 , B33Y50/02 , C22F1/00
摘要: 本发明提供了一种用于测量超声冲击作用深度的测试方法及基于该方法建立的超声冲击作用深度预测模型。该方法通过对超声冲击试样进行电子背散射衍射(EBSD)观察和分析,获取整个横截面内晶粒取向分布,并通过晶界分布图中的大角度晶界和小角度晶界来评估超声冲击的深度,测量结果更加准确。基于上述方法构建包含超声波振幅、冲击时间、工件材质、表面增材制造工艺和参数的超声波冲击深度预测模型,能够为超声冲击辅助激光定向能量沉积工艺提供准确指导,从而实现增材制造金属零部件中组织与内应力的精确控制和改善,有效提升增材件的力学性能,并解决残余应力对零部件的负面影响。
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公开(公告)号:CN117030762A
公开(公告)日:2023-11-10
申请号:CN202310957495.6
申请日:2023-08-01
申请人: 北京交通大学
IPC分类号: G01N23/203
摘要: 本申请公开了一种金属疲劳微结构演化的准原位EBSD观测方法,其中,所述方法包括:S1.抛光试样的待观测表面以使所述待观测表面平整且无划痕,在抛光后的所述待观测表面上标记观测区域;S2.清洁所述待观测表面并对清洁后的所述待观测表面提供防护;S3.将所述试样装载到疲劳试验机后去除所述防护,对所述试样进行疲劳加载至预定次数,再次对所述待观测表面提供防护后从所述疲劳试验机取下所述试样;S4.在进行EBSD观测前,将所述防护去除并对所述待观测表面进行再次清洁;S5.对所述观测区域进行EBSD观测。本申请的观测方法能够以更高效、经济的方式适于更多加载模式、循环次数的疲劳加载下的试样微结构观测。
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公开(公告)号:CN116992724A
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN202310972124.5
申请日:2023-08-03
申请人: 唐山钢铁集团有限责任公司 , 河钢乐亭钢铁有限公司 , 河钢股份有限公司唐山分公司
IPC分类号: G06F30/23 , G06Q10/04 , G01N1/32 , G01N23/203 , G01N23/2251 , G01N21/84 , G06F119/14
摘要: 本发明涉及一种基于微观组织的多相钢成型极限预测方法,属于板材成形性能评价方法技术领域。本发明的技术方案是:建立多相钢微观组织的代表性体积单元模型,得到基于微观组织的多相钢宏观本构模型;赋予对应的失效模型,对RVE模型施加不同的边界条件,开展RVE的双轴拉伸仿真,得到不同应力三轴度所对应的RVE失效临界应变;将多相钢的宏观本构模型以及不同应力三轴度对应的失效应变输入到宏观成形极限有限元仿真模型中,求解多项钢的成形极限。本发明的有益效果是:通过多相钢的微观组织对其宏观成形极限进行预测,建立起多相钢微观组织与成形极限之间的关系,对于通过调控多相钢微观组织进而提高其宏观成形极限具有重要意义。
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公开(公告)号:CN116973384A
公开(公告)日:2023-10-31
申请号:CN202310689630.3
申请日:2023-06-12
申请人: 中国原子能科学研究院
IPC分类号: G01N23/04 , G01V5/00 , G01N23/203 , G01N23/20008
摘要: 本发明实施例公开一种X射线成像探测方法、装置、系统和存储介质,方法包括:在双线双窗盘型扫描器转动过程中,当X射线源发射的射线通过准直器和双线双窗盘型扫描器的双线形成平行四边形的光束照射在待检测对象上发生康普顿散射时,通过背散射探测器获得照射在待检测对象上的背散射信号;当X射线源发射的射线通过准直器和双线双窗盘型扫描器的双窗透射的光束照射在待检测对象上时,通过透射探测器获得照射在待检测对象上的透射信号;根据背散射信号进行背散射成像,得到待检测对象对应的密度分布信息;根据透射信号进行透射成像,得到待检测对象对应的有效原子序数分布信息;基于密度分布信息和有效原子序数分布信息显示待检测对象的图像。
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公开(公告)号:CN116952997A
公开(公告)日:2023-10-27
申请号:CN202210409220.4
申请日:2022-04-19
申请人: 华为技术有限公司
IPC分类号: G01N23/203 , G01N23/2251 , G01N23/2252
摘要: 本申请实施例提供了一种电子束探测装置、探测组件和校准方法,电子束探测装置包括:电子源,用于出射电子束,并沿多条扫描路径中的一条移动;探测组件,所述探测组件包括至少两个几何体,所述几何体包括至少两组平行的线性边缘,其中所述至少两组平行的线性边缘的倾斜角度不同,且同时位于所述电子束的所述多条扫描路径中的至少一条上;处理器,用于根据所述电子束扫描过所述至少两组平行的线性边缘来获取所述电子束的参数。能够得到电子束的准确参数,通过该参数校准该电子束,进而保证根据该参数得到的待测样品的组成成分和形貌特征探测更精确。
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公开(公告)号:CN111678933B
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN202010477831.3
申请日:2020-05-29
申请人: 中国人民解放军陆军装甲兵学院
IPC分类号: G01N23/203 , G01N1/28 , G01N1/32 , C21D10/00
摘要: 本发明公开了一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法,改变磁处理的参数之一磁场强度,对脉冲磁场放电次数相同、试样尺寸相同的20Cr2Ni4A齿轮钢试样进行微观组织观察,分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化。首先,用EBSD测试材料的晶粒组织变化,并分析晶粒组织变化原因。然后,利用EDS对试样进行测试,通过能谱分析图进行材料的元素种类和含量的分析。最后,分析不同场强下的材料晶粒组织和元素种类含量的变化原因。本方案通过分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化,为以后较为复杂的20Cr2Ni4A齿轮钢零件进行磁场处理的性能奠定了基础。
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公开(公告)号:CN116908230A
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN202310788167.8
申请日:2023-06-29
申请人: 首钢京唐钢铁联合有限责任公司
IPC分类号: G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/2251 , G01N23/2202
摘要: 本申请的实施例提供了一种夹杂物评价方法、装置、存储介质及电子设备,所述方法包括:获取目标样品在初始分析面积中存在的目标夹杂物的尺寸,所述目标夹杂物为尺寸大于预设尺寸且为预设类别的夹杂物;基于每个目标夹杂物的尺寸,将所述每个目标夹杂物映射于至少一个预设尺寸区间中;统计每个预设尺寸区间包括的目标夹杂物的数量,作为目标夹杂物数量;根据各个所述目标夹杂物数量确定所述目标样品的目标夹杂物级别,所述夹杂物级别用于评价样品中预设类别夹杂物的含量程度。本申请的实施例提供了一种能精准且自动评价产品中夹杂物含量水平的方法,从而能为相关工艺或产品改进提供数据支撑。
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公开(公告)号:CN116879114A
公开(公告)日:2023-10-13
申请号:CN202310556126.6
申请日:2023-05-17
申请人: 成都北方石油勘探开发技术有限公司
IPC分类号: G01N15/02 , G01N23/20 , G01N23/2251 , G01N3/12 , G01N23/203 , G01N15/08
摘要: 本发明公开了一种含油气盆地有效盖层的识别方法及识别装置,包括以下步骤:(1)典型样品选取;(2)岩石粒度、矿物含量与成岩作用分析;(3)岩石突破压力计算;(4)岩石孔隙系统刻画;(5)岩石最大连通孔隙系统分析;(6)建立有效盖层判别模型,厘定有效盖层参数;本发明通过大视域孔隙图像分析以及突破压力测试,明确不同物质组成盖层岩石样品的孔隙系统特征与最大连通孔隙系统特征,从最大连通孔隙系统这一影响盖层封闭能力的根本因素出发,通过少量样品的图像分析,综合考虑物质组成差异以及成岩作用差异对有效盖层发育的影响。对于短时间、低成本识别有效盖层的发育条件,预测天然气保存、二氧化碳封存有利区具有重要帮助。
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公开(公告)号:CN116773569A
公开(公告)日:2023-09-19
申请号:CN202210221363.2
申请日:2022-03-07
申请人: 上海梅山钢铁股份有限公司
IPC分类号: G01N23/203 , G01N23/20008
摘要: 本发明涉及一种高强钢中小角度晶界的显示及定量分析方法,所述方法包括以下步骤:步骤1:取制样:将待测样品镶嵌、磨光、抛光,制成普通金相样品后,再进行震动抛光,切割成0.25~2mm的薄片;步骤2:将制备好的样品放入扫描电镜样品室,步骤3:通过EBSD采集晶体衍射花样;步骤4:利用软件进行数据处理显示小角度晶界;步骤5:利用软件进行数据处理对小角度晶界进行定量分析。该方法将高强钢中大量的小角度晶界显示出来,并定量分析了不同角度晶界的百分含量,该方法填补了现有微观组织观察方法不能清晰显示小角度晶界并进行定量分析的难题,为高强钢组织细化强化机理研究,现场冷却工艺制定提供了重要的理论支撑。
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公开(公告)号:CN116601485A
公开(公告)日:2023-08-15
申请号:CN202180045293.3
申请日:2021-06-24
申请人: 史密斯探测公司
发明人: J·班达翰
IPC分类号: G01N23/203
摘要: 本文描述了用于反向散射成像的系统和方法。提供了一种用于对物体成像的可实时配置的物体反向散射成像系统。该反向散射成像系统包括:源阵列,其包括多个离散源;以及准直器阵列,其包括与损失多个离散源相对应的多个准直器。损失源阵列被配置为以至少部分基于损失物体相对于损失反向散射成像系统的速度确定的频率选择性地激活所述多个离散源。
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