一种触控屏幕响应时间的测量设备

    公开(公告)号:CN118349126A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410448770.6

    申请日:2024-04-15

    摘要: 本发明属于平板电脑测量技术领域,具体为一种触控屏幕响应时间的测量设备,包括传送带设备、放卷单元、收卷单元、清洁件、夹持扶正机构、一号加热丝和二号加热丝,能够在平板电脑测量过程中无需人工拿取平板电脑,避免因人为接触导致触控屏幕上粘附有杂质,并能够自动连续测量多个平板电脑,在平板电脑被传送过程中,通过夹持扶正机构扶正固定,并通过放卷单元、收卷单元和清洁件去除触控屏幕上的灰尘和水渍,保证测量结果的准确性,通过一号加热丝和二号加热丝,一,能够通过清洁件使触控屏幕升温,避免因温度过低而影响测量结果的准确性,二,能够使清洁件升温产生静电效应,提高除尘效果,三,对粘附有水渍的清洁件起到烘干效果。

    用于定量给料可流动固体的容器
    32.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118339541A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202280079686.0

    申请日:2022-12-01

    IPC分类号: G06F11/26

    摘要: 实施方案涉及用于分配相等剂量的可流动固体的容器。该容器可包括限定内部体积的主体,该内部体积包括储存体积、出口通道以及与该储存体积和该出口通道连通的定量给料室。该容器可包括具有盖和柱塞的闭合件。盖可以可旋转地联接到该主体,使得该盖围绕第一轴线从关闭位置旋转到打开位置。该柱塞可以可旋转地联接到该盖并且被构造成密封该定量给料室。该容器可被构造成当该柱塞处于未密封位置并且该容器至少部分地倒置时分配一定剂量的可流动固体,并且每个剂量可具有相等的体积。

    硬盘背板测试工具及硬盘背板测试方法

    公开(公告)号:CN118331810A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410531671.4

    申请日:2024-04-29

    摘要: 本申请实施例涉及硬件测试技术领域,公开了一种硬盘背板测试工具及硬盘背板测试方法,包括:硬盘模拟模块和诊断模块,硬盘模拟模块与诊断模块连接,在进行测试时,硬盘模拟模块用于与待检测硬盘背板传输硬盘信息,诊断模块还用于从待检测硬盘背板的信号传输端获取参数信息,并将参数信息与基准信息进行比较,在参数信息与基准信息不同时,输出故障结果,通过这种方式,在待检测硬盘背板的测试中省去了服务器的参与,且不需要将硬盘在待检测硬盘背板上反复插拔进行测试,降低了测试成本的同时也能提高测试效率。

    一种芯片设计的验证方法及装置
    34.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118331805A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410440488.3

    申请日:2024-04-12

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本发明提供一种芯片设计的验证方法及装置,涉及芯片设计技术领域,所述方法包括:基于项目规格要求,在激励基类中配置脉动阵列的配置参数和规格参数;其中,规格参数用于标识脉动阵列第一矩阵和第二矩阵的规格大小,配置参数用于分割第一矩阵和第二矩阵;根据脉动阵列的规格参数和配置参数,在验证环境中将第一矩阵拆分为多个行指令单元,以及将第二矩阵拆分为多个列指令单元;通过激励基类分别调用第一激励生成函数和第二激励生成函数,将行指令单元和列指令单元按照预设次序依次生成脉动激励发送至待测模块进行验证,可以实现任意尺寸脉动阵列结构的数据激励的自动生成并进行验证,灵活性和扩展性高。

    硬件在环台架、诊断测试方法及诊断测试系统

    公开(公告)号:CN113900866B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202111006412.2

    申请日:2021-08-30

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本发明提供一种硬件在环台架、诊断测试方法及诊断测试系统,包括:实时处理器和控制器局域网板卡;所述实时处理器中运行有硬件在环仿真模型;所述硬件在环仿真模型包括统一诊断服务应用层模型、传输层模型以及控制器局域网通讯模型;所述统一诊断服务应用层模型包括发送信号处理模块和接收信号解析模块;所述控制器局域网板卡,用于完成所述控制器局域网通讯模型的功能。本发明的硬件在环台架、诊断测试方法及诊断测试系统,不需要外接诊断仪即可实现自动化的统一诊断服务测试功能;成本低、测试系统集成度高,便于快速、灵活测试;从而提高统一诊断服务测试效率。

    算子精度验证方法、装置、芯片及存储介质

    公开(公告)号:CN118312375A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410482044.6

    申请日:2024-04-19

    摘要: 本公开涉及人工智能技术领域,提出一种算子精度验证方法、装置、芯片及存储介质。所述方法包括:执行第一模型的脚本,确定第一算子的参数配置以及第二算子使用所述参数配置时的输入数据、输出数据,第二算子的精度正常且对应于第一算子;将第二算子的输入数据作为第一算子的输入数据,执行第一算子,确定第一算子的输出数据;比对第一算子的输出数据和第二算子的输出数据,根据比对结果确定第一算子使用所述参数配置时精度是否正常。该方法提出一种自动验证算子精度的通用方式,可降低算子精度验证的时间成本和人力成本,提高算子精度验证准确度的稳定性。

    一种芯片调试、测试以及固件更新的方法及其系统

    公开(公告)号:CN112506727B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202011490989.0

    申请日:2020-12-16

    发明人: 李鹏

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26 G06F8/65

    摘要: 本发明提供一种芯片调试、测试以及固件更新的方法及其系统,该方法包括将硬件调试器连接至调试芯片的功能接口,将硬件调试器连接至调试主机,当调试芯片的功能接口作为调试接口时,将调试芯片的功能接口切换至调试模式,当选择调试芯片的一种功能接口当作调试接口时,该功能接口处于调试模式,调试主机将接收到的调试操作指令生成调试命令,并将调试命令发送至硬件调试器,硬件调试器对调试命令中数据进行解析后,传输至调试芯片,以完成相应的调试、测试、烧录操作,并将反馈结果发送回调试主机。该系统用于实现上述的方法。本发明在芯片本身具备的功能基础上,复用相应的资源,以较低成本支持芯片的调试、测试、固件更新及维护。

    一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN111949470B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202010862182.9

    申请日:2020-08-24

    发明人: 黄书茜

    IPC分类号: G06F11/26

    摘要: 本申请提供一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:验证平台向芯片发送第一预设通道的第一验证请求,并强制拉取循环仲裁算法模块对应的第二预设通道的信号,以使循环仲裁算法模块接收到第一预设通道的请求和所述第二预设通道的请求;验证平台接收芯片发送的第一验证结果,第一验证结果包括循环仲裁算法模块根据当前通道信号优先级确定响应的目标通道对应的请求以及响应结果,以实现对芯片验证。本申请实施例通过上述方式能够覆盖到循环仲裁模块同时接收到多个通道发送的请求的场景,从而更加全面的对芯片进行验证。

    一种面向ADAS的超异构芯片安全机制测试方法和装置

    公开(公告)号:CN118245296A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410151332.3

    申请日:2024-02-02

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26 G06F11/07

    摘要: 本发明涉及智能驾驶技术领域,具体公开一种面向ADAS的超异构芯片安全机制测试方法和装置,该方法包括:在所述异构芯片中同时运行LINUX系统和MCU实时操作系统;在所述MCU实时操作系统中执行MCU故障注入程序,对所述异构芯片的安全机制进行遍历测试。本发明中的面向ADAS的超异构芯片安全机制测试方法,在LINUX系统算法应用程序运行的同时执行MCU故障注入程序,实现了故障的动态注入,实现了模拟超异构芯片真实应用场景中注入故障进行安全机制测试的目的。