公开(公告)号：CN203438103U

公开(公告)日：2014-02-19

申请号：CN201320440371.2

申请日：2013-07-23

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 翟玉卫 ,  梁法国 ,  默江辉 ,  付兴昌

IPC分类号： B25B11/00 ,  G01J5/02

摘要： 本实用新型公开了一种用于微波功率器件显微红外结温检测的通用测试夹具，属于红外测温技术领域，其结构为分体式结构，主要由底座、中间载体和两块电路载体三个部分组成，底座上设置两块电路载体和一块中间载体，两块电路载体平行设置，并且处于同一平面，在两块电路载体之间设有中间载体，电路载体和中间载体之间均留有间隙，电路载体上设置有测试电路板，两个电路载体上的测试电路板通过被测器件的管腿连通，被测器件固定于中间载体上。本实用新型具有较高的通用性和易操作性，大大提高了检测效率，降低人力、物力成本，缩短产品研制周期。

公开(公告)号：CN215297571U

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202120665664.5

申请日：2021-03-31

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 默江辉 ,  王川宝 ,  马杰 ,  张力江 ,  崔玉兴 ,  高永辉 ,  徐守利 ,  蔡树军 ,  卜爱民

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本实用新型提供了一种用于微带电路调试的模块，微带电路与相应的微波测试系统匹配，模块为金属块状物，金属块状物的底面为长方形、上部设有便于夹取的夹持部，该长方形的宽度小于等于待测微波器件波长的四分之一；一个或多个金属块状物借助绝缘夹沿微带电路延伸方向设置、用于微波器件或微波模块的阻抗匹配调试；金属块状物的材质与微波测试系统配套的微带线的材质相同，可以使用无氧铜，金属块状物也可以使用铝。金属块状物的宽度大于等于1mm，且小于等于待测微波器件波长的四分之一，金属块状物的长度为所述金属块状物的宽度的整数倍。本实用新型提供的微带电路调试的模块可实现待测微波器件的精细调试，可提高微波器件测试的准确性。

公开(公告)号：CN204142912U

公开(公告)日：2015-02-04

申请号：CN201420587405.5

申请日：2014-10-11

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 默江辉 ,  杨中月 ,  李亮 ,  崔玉兴 ,  付兴昌 ,  蔡树军 ,  杨克武

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R1/04

摘要： 本实用新型公开了一种毫米波单片电路芯片的可靠性测试系统，涉及测量电变量的装置技术领域。所述系统包括在片测试模块和直流馈电模块，所述在片测试模块包括单片电路钨铜载片、四个第一滤波电容以及四个第二滤波电容；所述直流馈电模块包括铜支撑件、四个侧面铜片以及四个穿心电容。所述系统基于常规测试夹具，设计并制作了单片电路芯片的在片测试模块，使用该模块，在可靠性试验前后可对单片电路芯片进行微波测试，具有成本低，易实现，使用方便的特点。

公开(公告)号：CN204142865U

公开(公告)日：2015-02-04

申请号：CN201420586805.4

申请日：2014-10-11

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 李亮 ,  默江辉 ,  崔玉兴 ,  付兴昌 ,  蔡树军 ,  杨克武

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本实用新型公开了一种微波器件可靠性测试装置，涉及测量电变量的装置技术领域。所述装置包括管壳、第一滤波电容和第二滤波电容，所述第一滤波电容和第二滤波电容位于所述管壳内，管壳外设有管壳输入端子和管壳输出端子，所述第一滤波电容和第二滤波电容的一端与所述管壳输入端子连接，微波器件管芯的一端与管壳输入端子连接，微波器件管芯的另一端与管壳输出端子连接。在进行微波器件可靠性测试时，将所述装置连接入微波器件，成功消除了微波器件可靠性测试过程中的自激现象，同时由于采用了烧结工艺及芯片滤波电容，保证微波器件可工作在高温状态，可开展高温加速寿命试验。

公开(公告)号：CN203166842U

公开(公告)日：2013-08-28

申请号：CN201320183549.X

申请日：2013-04-12

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 默江辉 ,  马杰 ,  李亮 ,  杨中月 ,  崔玉兴 ,  付兴昌 ,  蔡树军 ,  杨克武

IPC分类号： H03F3/20

摘要： 本实用新型公开了一种用于大功率合成的多级3dB电桥电路，涉及波导型耦合器件技术领域。输入耦合电路的输入端依次经第一级输入耦合微带线、第一级输入3dB电桥、第二级输入3dB电桥、第二级输入耦合微带线与输入端匹配网络电路连接，所述输入耦合电路的输入端为所述多级3dB电桥电路的输入端，所述输入端匹配网络电路的输出端与场效应管的栅极连接，所述场效应管的漏极依次经输出端匹配网络电路、第二级输出耦合微带线、第二级输出3dB电桥、第一级输出3dB电桥与第一级输出耦合微带线连接，第一级输出耦合微带线连接后作为所述多级3dB电桥电路的输出端。所述电路具有工作稳定，可用于制作大功率微波模块。

公开(公告)号：CN202748447U

公开(公告)日：2013-02-20

申请号：CN201220433637.6

申请日：2012-08-29

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 默江辉 ,  李静强 ,  马杰 ,  李亮 ,  崔玉兴 ,  付兴昌 ,  蔡树军 ,  杨克武

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本实用新型公开了一种宽禁带半导体芯片直流性能测试系统，属于半导体芯片直流性能的测试方法领域。本实用新型包括用于提供直流电源的栅极电源和漏极电源、栅极电流表和漏极电流表、测试信号发生器、测试信号调制器以及用于放置目标测试芯片的探针台。本实用新型利用现有的成熟设备搭建了一个测试平台，用简单的方法实现了宽禁带半导体芯片的直流性能测试，该测试系统成本低，便于操作和维护，性能稳定，可靠性高，同时降低了宽禁带半导体芯片的制作成本，提高了宽禁带半导体芯片的测试效率，为宽禁带半导体芯片特性的表征积累了宝贵数据，为宽禁带半导体器件性能的提高提供了可靠保障。