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公开(公告)号：CN114088200B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202111357218.9
申请日：2021-11-16
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J1/04
Abstract: 本发明涉及激光测量技术，具体涉及一种强激光远场功率衰减取样方法，以解决现有激光衰减装置无法实现远场激光系统光轴对准的技术问题。该衰减取样装置包括机架、设置在机架上级联的第一级楔镜和第二级楔镜、第一楔镜调节单元、第二楔镜调节单元及机架调节单元；第一级楔镜将入射激光束反射后，反射激光束入射到到第二级楔镜，经第二级楔镜反射后，获得衰减后的取样激光束；入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°；第一级楔镜和第二级楔镜的楔角相等且均为3‑8°。同时本发明还提出一种强激光远场功率衰减取样方法，实现了高功率激光在远场靶点处的高精度衰减取样。
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公开(公告)号：CN114112029A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111376414.0
申请日：2021-11-19
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种激光参数测量装置及使用该装置的激光参数测量方法，以解决现有激光PIB因子测量及光斑空间分布测量方法，尤其在测量厘米级尺度的PIB因子时，现有扫描取样方法中，由于取样孔的数量有限，且探测器采样的频率高，导致取样空间分辨率严重不对称的问题。本发明提供的基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置和方法，采用正交排布的两组渐开线阵列取样孔分时同步扫描激光光斑，获取两个维度上比较均匀的空间分辨率，最终实现光斑最强功率点的捕捉，测量得到较准确的PIB因子，同时还可以将两幅扫描图像合并为一幅图像进行融合处理，实现光斑的高分辨测量。
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公开(公告)号：CN109814243B
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN201910202482.1
申请日：2019-03-11
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明提出一种用于高温状态下在线监测的光学显微成像方法及装置，旨在解决现有高分辨率动态光学显微成像方案系统复杂、显微镜与热源距离较近等问题。该方法包括以下步骤：1)将试样和光学显微镜分别放置于共轭成像面的焦点A和焦点B处；2)对试样进行加热，并维持高温状态；3)利用照明光照射试样表面，产生漫反射，再经所述共轭成像面反射，由光学显微镜接收共轭像进行放大，获取显微图像；4)若需要观测试样表面的不同区域，则移动试样，确保被测区域中心始终处于焦点A上，按照步骤3)获取显微图像。
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公开(公告)号：CN109741266B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201811465657.X
申请日：2018-12-03
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种阵列探测法激光光斑图像的复原显示方法，利用频域滤波方法将混叠的高频成分滤除，保留的低频成分包含了长曝光积分光斑的大部分信息，重构阵列采样所丢失的数据，进而将光斑形貌近似恢复出来。与现有的线性插值法相比，可以降低复原光斑的误差，对探测点的布放位置不敏感，从而更为准确地复原光斑图像。
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公开(公告)号：CN109759799A
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201910185216.2
申请日：2019-03-12
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种旋转半椭球非回转反射面结构的加工方法。通过该方法可有效降低较大尺寸旋转半椭球非回转反射面的加工难度和技术风险，具有加工精度高、成本低、结果可控性好等特点。其主要加工步骤为：1)加工两个1/4椭球壳；2)中间过程回转体拼接；3)精铣加工中间过程回转体；4)安装封光堵头；5)对中间过程回转体进行精车；6)拼接反射面结构雏形；7)精铣反射面结构雏形；8)拼接二次中间过程回转体；9)精细抛光形成镜面；10)拼接最终反射面结构；11)镀膜。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109612581A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811614406.3
申请日：2018-12-27
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明属于强激光光束参数测量技术领域，涉及一种自带相机防护功能的漫反射成像强激光参数测量装置，包括漫反射板、第一相机和第一反射镜；漫反射板垂直于入射激光束的光轴设置，漫反射板上开有第一光阑孔，第一相机设置在漫反射板背光面一侧且正对第一光阑孔的位置处，第一反射镜设置在漫反射板迎光面一侧且正对第一光阑孔的位置处；第一反射镜与漫反射板呈倾斜角度设置，使得第一相机通过第一反射镜可对漫反射板的迎光面成像。解决了相机易被激光辐照损坏的问题。
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公开(公告)号：CN104019891B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201410279528.7
申请日：2014-06-20
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J1/04
Abstract: 本发明公开了一种用于大角度入射高能激光的衰减取样装置，包括前面板、衰减单元和后面板，前面板上设置有激光入射的取样直孔，后面板上设置有激光出射孔，衰减单元包括前透射窗、后透射窗和与圆柱空腔，圆柱空腔与取样直孔、激光出射孔同轴设置，圆柱空腔内填充有颗粒状的光学体散射材料。激光经过取样孔耦合进衰减单元，经内壁及材料吸收和体散射后由激光出射孔射出，可以将光束能量在较大范围内的空间中重新分布，并具有匀化效果，同时实现激光斜入射时的大角度衰减取样，且可以满足激光功率密度的大幅衰减，并可用于高空间分辨的光强探测。
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公开(公告)号：CN104048754B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201410216004.3
申请日：2014-05-21
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明提出了一种光导型探测器在激光参数测量应用中的光热效应修正方法，包括以激光辐照结束后瞬间的热残留信号作为激光辐照结束时刻的基线温漂；取激光作用过程中的基线漂移量与热残留信号之比等于分析时刻之前探测器输出信号之和与辐照全过程输出信号总和的比值。本发明的方法能有效减轻辐照所致光导型探测器光敏元温升给激光参数测量结果所带来影响，可在基于光导型HgCdTe、InSb等红外探测器的激光参数测量中发挥重要作用。基于本发明的方法，激光参数测量系统可使用单一传感芯片探测器，降低了测量系统的成本、功耗和重量，并可解决利用温度传感器进行光敏元工作温度监测所产生的监测温度与光敏元实际工作温度不一致的问题。
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公开(公告)号：CN103424198B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310323169.6
申请日：2013-07-29
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于主光斑消隐技术的IT-CCD测量脉冲激光重频的方法，包括标定得到IT-CCD垂直转移驱动频率和帧频、将被测量脉冲激光入射至IT-CCD光敏面、调节IT-CCD有效积分时间使得主光斑消隐、计算相邻次光斑单元的间距或次光斑单元数目，从而得到脉冲激光的重复频率；该测量方法可用于较高重复频率和较窄脉宽的激光参数测量，并有效消隐了主光斑图像，具有原理简单可靠等特点。
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公开(公告)号：CN102620815B
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201210080147.7
申请日：2012-03-23
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J1/00
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤光栅的高能激光光束参数诊断方法和诊断仪装置，根据光纤布拉格光栅中心波长随温度线性漂移的原理，利用光纤对高能激光吸收系数小、吸收面积小、表面积体积比高的特点，结合光纤光栅波长解调方法，实现了对大面积高功率密度激光光斑的长时间实时测量。另外本装置还可以根据实际测量需要灵活的更换纤光栅阵列，如阵列的大小、所使用光纤光栅栅区长度以及光纤半径等，实现对不同光斑大小、不同分辨率以及不同灵敏度的测量。另外，本发明能够实现高功率激光能量分布和总能量等光束参数测量并具有结构简单，抗激光损伤能力强等特点。
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