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公开(公告)号：CN107290637A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710432606.6
申请日：2017-06-09
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明提供了一种基于等效电路参数提取的单PN结型器件激光损伤效应分析方法，以解决现有分析方法测试成本过高及可能会对器件造成永久性破坏的问题。首先建立待研究单PN结型器件的等效电路模型，然后通过粒子群算法准确获取该等效电路模型中的模型参数(ISD、Rs和Rsh)，分析激光损伤前后相应模型参数的变化，通过这些模型参数与单PN结型器件材料内部物理量的联系，对单PN结型器件内部损伤进行分析。本发明方法简单、原理可靠，测试成本低，且能够在不破坏单PN结型器件的前提下准确获取单PN结型器件激光辐照前后的等效电路模型中的模型参数，通过对辐照前后的模型参数进行比较，就能得到单PN结型器件损伤前后的内部掺杂浓度、载流子寿命以及缺陷变化情况。
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公开(公告)号：CN107290637B
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201710432606.6
申请日：2017-06-09
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明提供了一种基于等效电路参数提取的单PN结型器件激光损伤效应分析方法，以解决现有分析方法测试成本过高及可能会对器件造成永久性破坏的问题。首先建立待研究单PN结型器件的等效电路模型，然后通过粒子群算法准确获取该等效电路模型中的模型参数(ISD、Rs和Rsh)，分析激光损伤前后相应模型参数的变化，通过这些模型参数与单PN结型器件材料内部物理量的联系，对单PN结型器件内部损伤进行分析。本发明方法简单、原理可靠，测试成本低，且能够在不破坏单PN结型器件的前提下准确获取单PN结型器件激光辐照前后的等效电路模型中的模型参数，通过对辐照前后的模型参数进行比较，就能得到单PN结型器件损伤前后的内部掺杂浓度、载流子寿命以及缺陷变化情况。
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公开(公告)号：CN104048812A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201410216001.X
申请日：2014-05-21
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种连续波高能激光辐照光学元件效应实验装置，包括旋转反射镜、程控转台、漫反射屏、信号记录及同步单元、若干只光学狭缝和若干只全反射镜；旋转反射镜固定在程控转台上，实现反射镜旋转角度和速度的自动控制；若干只光学狭缝设置在程控转台转轴为中心的圆弧上，其中的每只狭缝正对程控转台的转轴，光学元件一一对应设置在光学狭缝的出口处；本发明实现了高能激光器一次出光分时辐照多个试样，大大提高了高能激光器的使用效率，同时通过旋转反射镜的旋转速度控制光束照射至光学元件的时间，实现了效应辐照时间的精确控制，从而选择高能激光器输出中功率稳定的区间开展实验，确保了实验的有效性。
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公开(公告)号：CN103424198A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310323169.6
申请日：2013-07-29
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于主光斑消隐技术的IT-CCD测量脉冲激光重频的方法，包括标定得到IT-CCD垂直转移驱动频率和帧频、将被测量脉冲激光入射至IT-CCD光敏面、调节IT-CCD有效积分时间使得主光斑消隐、计算相邻次光斑单元的间距或次光斑单元数目，从而得到脉冲激光的重复频率；该测量方法可用于较高重复频率和较窄脉宽的激光参数测量，并有效消隐了主光斑图像，具有原理简单可靠等特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105355638B
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201510672778.1
申请日：2015-10-16
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: H01L27/146 , H01L21/66
Abstract: 本发明公开了一种体沟道CCD表面饱和电荷量幅值大小的筛选方法，对于可以产生表面饱和效应的同一型号的不同CCD器件，通过比较其对同一信号响应所产生的拖尾信号长度的相对大小，可以判断其表面饱和电荷量的相对大小，对于同一信号的响应，拖尾信号越长，则表明其表面饱和电荷量越小。本发明的筛选方法具有原理简单可靠、效率高的特点，其测量结果可直接用于CCD器件强光测量和效应实验中。
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公开(公告)号：CN105355638A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201510672778.1
申请日：2015-10-16
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: H01L27/146 , H01L21/66
CPC classification number: H01L27/14683 , H01L22/30
Abstract: 本发明公开了一种体沟道CCD表面饱和电荷量幅值大小的筛选方法，对于可以产生表面饱和效应的同一型号的不同CCD器件，通过比较其对同一信号响应所产生的拖尾信号长度的相对大小，可以判断其表面饱和电荷量的相对大小，对于同一信号的响应，拖尾信号越长，则表明其表面饱和电荷量越小。本发明的筛选方法具有原理简单可靠、效率高的特点，其测量结果可直接用于CCD器件强光测量和效应实验中。
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公开(公告)号：CN104048812B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410216001.X
申请日：2014-05-21
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种连续波高能激光辐照光学元件效应实验装置，包括旋转反射镜、程控转台、漫反射屏、信号记录及同步单元、若干只光学狭缝和若干只全反射镜；旋转反射镜固定在程控转台上，实现反射镜旋转角度和速度的自动控制；若干只光学狭缝设置在程控转台转轴为中心的圆弧上，其中的每只狭缝正对程控转台的转轴，光学元件一一对应设置在光学狭缝的出口处；本发明实现了高能激光器一次出光分时辐照多个试样，大大提高了高能激光器的使用效率，同时通过旋转反射镜的旋转速度控制光束照射至光学元件的时间，实现了效应辐照时间的精确控制，从而选择高能激光器输出中功率稳定的区间开展实验，确保了实验的有效性。
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公开(公告)号：CN103424198B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310323169.6
申请日：2013-07-29
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于主光斑消隐技术的IT-CCD测量脉冲激光重频的方法，包括标定得到IT-CCD垂直转移驱动频率和帧频、将被测量脉冲激光入射至IT-CCD光敏面、调节IT-CCD有效积分时间使得主光斑消隐、计算相邻次光斑单元的间距或次光斑单元数目，从而得到脉冲激光的重复频率；该测量方法可用于较高重复频率和较窄脉宽的激光参数测量，并有效消隐了主光斑图像，具有原理简单可靠等特点。
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