光谱芯片、光谱仪及光谱芯片制备方法

    公开(公告)号:CN111811651B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202010718462.2

    申请日:2020-07-23

    申请人: 清华大学

    IPC分类号: G01J3/433 G01J3/02

    摘要: 本发明提供一种光谱芯片、光谱仪及光谱芯片制备方法,芯片包括:在晶圆级别的图像传感器的感光区域的表面制备有光调制层,光调制层由金属和介质两种材料交替排布形成;光调制层包含由多个微纳单元组成的单元阵列;微纳单元包含有多组微纳结构阵列,每组微纳结构阵列由二维光栅结构形成,每组微纳结构阵列中的二维光栅结构为具有偏振无关特性的光栅结构;各微纳单元的多组微纳结构阵列中的二维光栅结构用于对入射光进行调制,将入射光的频谱信息编码到晶圆的不同像素点上,得到包含频谱信息的图像。本发明提供的光谱芯片对入射角度、偏振不敏感,从而使得光谱测量结果不会受到待测光入射角度和偏振特性的影响,进而能够保证光谱测量性能的稳定性。

    原子吸收光谱检测装置、制作方法及原子气室的检测方法

    公开(公告)号:CN118190851A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410484781.X

    申请日:2024-04-22

    摘要: 本发明公开一种原子吸收光谱检测装置、制作方法及原子气室的检测方法,该装置包括光纤连接模块,用于调制接收的光纤激光光束的功率,并将调制后的光纤激光光束转化为空间激光光束输出;入射光路模块,用于将所述空间激光光束分束为第一线偏振光和第一圆偏振光并分别输出;反馈模块,用于检测所述第一线偏振光的功率,并基于第一线偏振光的功率控制所述光纤连接模块的功率调制;第一光电探测器,用于检测通过待测原子气室而被所述待测原子气室中原子吸收后的所述第一圆偏振光,获得光谱信号。本发明检测装置的体积较小,结构更加紧凑、结实;通过检测装置对原子气室进行在线检测,能够保障原子气室拥有正常的功能及性能。

    机壳以及拉曼光谱仪
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118190161A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202211599866.X

    申请日:2022-12-14

    发明人: 孙德兴

    IPC分类号: G01J3/44 G01J3/02 F16F15/02

    摘要: 本申请涉及一种机壳以及拉曼光谱仪。机壳包括外箱体和支撑组件,外箱体包括内壁;支撑组件包括支架、承载构件和减震构件,支架设置于外箱体内且环绕内壁形成容纳空间,承载构件设置于容纳空间,减震构件位于支架和承载构件之间且连接支架和承载构件;其中,承载构件用于承载拉曼光谱仪的光学电气组件,减震构件被配置为受力变形以减缓震动传递。本申请的机壳用于拉曼光谱仪时,减震构件能够减缓震动向拉曼光谱仪的光学电气组件传递,从而能够提高拉曼光谱仪的抗震性能,进而能够提高拉曼光谱仪的多场景拓展能力。

    一种基于物理的滤光片设计及光谱成像方法

    公开(公告)号:CN118169793A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410047454.8

    申请日:2024-01-12

    摘要: 本发明公开的一种基于物理的滤光片设计及光谱成像方法,属于光谱成像技术领域。本发明实现方法为:从多层介质干涉原理出发,建立基于物理约束的滤光片模型,将滤光片的透过率参数化地表示为膜系厚度的函数。通过光谱成像系统成像过程模型,描述光谱图像被光谱成像系统捕获的前向过程。通过滤光片的结构参数和光谱重建网络的参数联合优化,将滤光片膜系厚度的优化设计和光谱重建网络训练结合起来,通过数据驱动的方式端到端地训练,得到训练好的滤光片参数和光谱重建网络;根据训练优化好的滤光片参数d加工滤光片实物;将滤光片实物和光谱成像系统耦合;将观测图像输入训练好的光谱重建神经网络,进行推理过程,得到重建的光谱图像。

    光谱芯片
    45.
    发明公开
    光谱芯片 审中-实审

    公开(公告)号:CN118168655A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410166258.2

    申请日:2024-02-05

    IPC分类号: G01J3/02

    摘要: 本申请涉及一种光谱芯片。所述光谱芯片包括光传感区,所述光传感区由光电探测层和位于所述光电探测层上方的光调制层组成,其中,所述光调制层包括由不同种类的染料形成的多个滤光单元,所述不同种类的染料具有不同的透射率曲线,所述不同种类的染料以染料单元阵列排列,且在所述染料单元阵列中,不易成型的染料单元不相邻。这样,通过所述不同种类的染料在阵列中,不易成型的染料单元的不相邻,来克服所述光谱芯片的生产工艺限制。

    允许同时测量对象的角度和光谱发射的光学装置

    公开(公告)号:CN112041645B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN201980028928.1

    申请日:2019-03-29

    发明人: 蒂埃里·勒鲁

    摘要: 一种用于测量对象(1)的测量区域(2)的光谱发射的空间分布的系统(100),该系统包括:第一物镜(202);装置(204),用于选择由第一物镜形成的图像的片段;光阑(208);光分散装置(210),其位于光阑附近,并且允许分散来自选择装置的光;第二物镜(206),其被放置在选择装置与光阑之间,该第二物镜与第一物镜交互,使得光阑的孔径通过第一物镜和第二物镜与测量区域光学共轭,并且使得测量区域。根据本发明,第一物镜在预定的傅立叶表面上形成图像,在该预定的傅立叶表面上每个点对应于对象的针对一个特定波长的发射方向,选择装置具有形状取决于预定的傅立叶表面的选择表面,并且选择装置被放置在预定的傅立叶表面上。

    一种散射特性分析的光谱收集装置和光谱系统

    公开(公告)号:CN118150527A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202211563611.8

    申请日:2022-12-07

    发明人: 郭恒 王震 杨红军

    摘要: 本申请提供一种散射特性分析的光谱收集装置和光谱系统,涉及光谱测量技术领域,包括参比窗片、样品窗片、椭球面反射镜组、检测器、样品架,椭球面反射镜组包括两个相对设置的椭球面反射镜,检测器和样品架分别位于两个椭球面反射镜的焦点,检测器和样品架之间设置有用于反射光束或吸收光束的光束处理器;样品光束经样品窗片照射样品,经样品反射发出镜面反射光和漫反射光;检测器根据镜面反射光和漫反射光得到样品的全反射能量值、根据漫反射光得到样品的漫反射能量值;参比光束经参比窗片照射样品,经样品透射发出规则透射光和散射透射光;检测器根据规则透射光和散射透射光得到样品的全透射能量值、根据散射透射光得到样品的漫透射能量值。

    一种用于空间外差光谱仪干涉数据的盲元校正方法

    公开(公告)号:CN118149973A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202311491084.9

    申请日:2023-11-10

    IPC分类号: G01J3/45 G01J3/02

    摘要: 本发明提供了一种用于空间外差光谱仪干涉数据的盲元校正方法,包括:原始干涉数据进行去基线处理,将预处理后的干涉数据进行傅里叶变换得到光谱数据,对光谱数据进行归一化处理,求解该光谱数据的协方差矩阵的特征值和对应的特征向量,将特征值和其对应的特征向量从大到小排序,选择前n维数据进行光谱重构,重构后的光谱数据通过傅里叶逆变换得到去噪后的干涉图,去噪后的干涉图盲元数量明显低于原始干涉图的盲元数量。本发明可降低盲元误差对光谱复原的影响,有助于提高后续光谱复原的精度,具有广泛的应用面。

    一种微尺寸同轴功率传感器及其实施方法

    公开(公告)号:CN118149966A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410262325.0

    申请日:2024-03-07

    摘要: 本发明公开了一种微尺寸同轴功率传感器及其实施方法,包括同轴结构,所述同轴结构包括导体腔和同轴导体缺陷腔且导体腔和同轴导体缺陷腔位于同一轴线上,所述同轴导体缺陷腔的两侧对称设置有导体腔,所述导体腔包括同轴结构金属外导体壳和布拉格反射结构,同轴结构金属外导体壳内设置有布拉格反射结构,在两个所述布拉格反射结构之间通过所述同轴导体缺陷腔连接,所述同轴导体缺陷腔包括导电连接外壳,衬底和导电连接杆,所述导电连接杆与所述导体腔的连接,同轴导体缺陷腔中间位置放置衬底层,衬底层上涂覆有微量薄膜分析物。本发明通过对称设置的布拉格反射结构,避免了采用不同电磁波角度入射,以及加工不同复杂尺寸的金属光栅结构。

    一种用于电力设备电晕放电检测的方法及系统

    公开(公告)号:CN114839489B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202210512410.9

    申请日:2022-05-12

    摘要: 本发明涉及一种用于电力设备电晕放电检测的方法及系统,其中系统包括滤光片盘、滤光片驱动模块、级联式分光器件、紫外光探测器、紫外图像处理芯片、可见光探测器、可见图像处理芯片、红外光探测器、红外图像处理芯片、图像融合模块、指令输入模块、处理器和显示模块,滤光片盘在滤光片驱动模块的控制下切换光路中的滤光片,从而滤除不同成像要求下的杂光;紫外光探测器、可见光探测器、红外光探测器分别对日盲紫外光、可见光以及红外光进行采集,并由相应的图像处理芯片进行图像的初步处理后,在图像融合模块中进行融合,适应不同光照条件下的电力设备电晕放电检测,能够实现多谱段的成像,从而提高电力设备电晕放电检测的效率和准确性。