一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统

    公开(公告)号:CN111914684B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202010675924.7

    申请日:2020-07-14

    IPC分类号: G06V20/80

    摘要: 本发明公开了一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统,方法包括:获取设备物理指纹特征参数,所述设备物理指纹特征参数包括:频率偏差,根据预设采样点数量得到的直流偏置序列及信号幅度包络序列;根据设备物理指纹特征参数和信号预设采样率,建立离散极坐标方程;利用离散极坐标方程,绘制设备物理指纹特征的图像;改变信号预设采样率,调整采样点数量,对应绘制多组设备物理指纹特征图像;选取多组设备物理指纹特征图像中符合预设稳定性条件的一组设备物理指纹特征图像,作为设备物理指纹特征图像。实现了对于不同的设备和调制方式,通过统一的图像形式进行展现,使得最终的提取方法能够统一。