一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统

    公开(公告)号:CN111914684B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202010675924.7

    申请日:2020-07-14

    Abstract: 本发明公开了一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统,方法包括:获取设备物理指纹特征参数,所述设备物理指纹特征参数包括:频率偏差,根据预设采样点数量得到的直流偏置序列及信号幅度包络序列;根据设备物理指纹特征参数和信号预设采样率,建立离散极坐标方程;利用离散极坐标方程,绘制设备物理指纹特征的图像;改变信号预设采样率,调整采样点数量,对应绘制多组设备物理指纹特征图像;选取多组设备物理指纹特征图像中符合预设稳定性条件的一组设备物理指纹特征图像,作为设备物理指纹特征图像。实现了对于不同的设备和调制方式,通过统一的图像形式进行展现,使得最终的提取方法能够统一。

    一种基于循环谱区分调制类型的方法及系统

    公开(公告)号:CN111800357A

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN202010636330.5

    申请日:2020-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于循环谱区分调制类型的方法及系统,方法包括:获取预知调制方式的信号;将预知调制方式的信号进行循环谱调制,得到循环谱三维图的图谱,并获取图谱截面及图谱截面的波峰坐标;将图谱截面及图谱截面的波峰坐标按照不同的调制方式进行分类存储;将接收的未知调制方式的信号进行循环谱调制,生成未知调制方式信号的图谱截面及图谱截面的波峰坐标,对未知调制方式信号及预知调制方式的信号的图谱截面的波峰坐标进行聚类分析并结合图谱截面的次波峰检测,得到未知调制方式信号的调制类型。本发明提出了通过循环谱特征作为特征提取的样本,实现了对调制信号类型的区分,在低信噪比条件下有较高的识别准确率,且应用广泛。

    一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统

    公开(公告)号:CN111914684A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202010675924.7

    申请日:2020-07-14

    Abstract: 本发明公开了一种设备物理指纹特征图像的提取方法及系统,方法包括:获取设备物理指纹特征参数,所述设备物理指纹特征参数包括:频率偏差,根据预设采样点数量得到的直流偏置序列及信号幅度包络序列;根据设备物理指纹特征参数和信号预设采样率,建立离散极坐标方程;利用离散极坐标方程,绘制设备物理指纹特征的图像;改变信号预设采样率,调整采样点数量,对应绘制多组设备物理指纹特征图像;选取多组设备物理指纹特征图像中符合预设稳定性条件的一组设备物理指纹特征图像,作为设备物理指纹特征图像。实现了对于不同的设备和调制方式,通过统一的图像形式进行展现,使得最终的提取方法能够统一。

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