-
公开(公告)号：CN117198889A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202310786486.5
申请日：2023-06-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明提供一种芯片凸点加工方法、封装方法及芯片，属于芯片技术领域。芯片凸点加工方法包括：准备待加工芯片晶圆，并在待加工芯片晶圆上确定多个凸点位置；根据各个凸点位置的需求，将多个凸点位置进行分组，得到多组凸点位置集；根据各个凸点位置的需求，分别对每一组凸点位置集进行凸点加工，得到多个凸点。通过对凸点位置进行分组，然后根据凸点位置的需求，对不同凸点位置分组进行独立曝光、电镀的加工方法，可以控制各类凸点的垂直高度，以保证加工得到的各个凸点的高度在水平面上一致，实现了不同高度凸点的加工。还可以实现特定高度差凸点的加工，以满足不同封装形式对凸点高度的需求，有利于提高封装的良率及可靠性。
-
公开(公告)号：CN117118878A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310889805.5
申请日：2023-07-19
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本申请涉及一致性测试技术领域，实施例提供了一种电力无线传感网络协议一致性测试方法及装置。其中，一种电力无线传感网络协议一致性测试方法包括：向测试平台中的待测传感器发送多参数的配置指令，所述配置指令经若干中继节点到达所述待测传感器并触发所述待测传感器执行所述多参数对应的多个配置功能；获取所述待测传感器和所述若干中继节点与所述多参数的配置指令相关的日志信息；根据获取的日志信息得到所述配置指令对应的测试结果。本申请提供的实施方式采用多参量融合和多指标互证的协议一致性检测方法，提高了检测效率和测试准确率。
-
公开(公告)号：CN117032838A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310764873.9
申请日：2023-06-26
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种调用方法和装置、定位方法和装置及业务接口测试系统，属于计算机领域。该调用方法包括：确定测试业务接口时的调用类型；确定测试所述业务接口时使用的操作系统的系统类型；基于所确定的调用类型和确定的系统类型及预设调用规则，确定调用对象；以及调用所确定的调用对象，以测试所述业务接口。籍此，实现了跨平台及不同调用对象的调用。
-
公开(公告)号：CN116864280A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310815705.8
申请日：2023-07-04
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明提供一种电流互感器、回路状态巡检仪以及能源控制器，属于电子技术领域。电流互感器包括：磁芯；一次绕组，一次绕组绕设于磁芯上；直流电流传感器，与一次绕组的异名端电连接，用于检测出流经一次绕组的电流中的直流分量；以及补偿绕组，与直流电流传感器的输出端电连接，用于基于直流分量产生的补偿直流磁场，抵消电流流经一次绕组产生的直流分量磁场。通过使用直流电流传感器检测一次侧输入电流中的直流分量，并将直流分量输出到补偿绕组，一次侧的补偿绕组所产生的补偿直流磁场与一次绕组中产生的直流分量磁场相抵消，使磁芯中的磁场只留有交流磁场，本发明可以不受一次侧的电流直流分量的影响，从而降低电流互感器的测量误差。
-
公开(公告)号：CN116132043B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310425387.4
申请日：2023-04-20
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明涉及信息安全领域，其实施方式提供了一种会话密钥协商方法、装置及设备。其中一种会话密钥协商方法，应用于包括服务端和客户端的系统，所述方法包括：所述服务端生成第一随机数，所述客户端生成第二随机数，并通过预设于本端的会话建立密钥经加密算法加密传输至对端；所述服务端和所述客户端分别根据所述第一随机数、所述第二随机数和分散算法得到一组分散因子，将所述一组分散因子中的每一分散因子分散为会话密钥，分别得到会话密钥组，所述会话密钥组用于所述服务端和所述客户端之间的通信加密。本发明提供的实施方式简洁高效，且避免了会话密钥在网络上的传输，极大提高了会话密钥的安全性。
-
公开(公告)号：CN115754433A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202310029898.4
申请日：2023-01-09
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种特征电流编码识别方法、装置及网络拓扑识别方法，本发明涉及特征电流编码识别技术领域，其中特征电流编码识别方法包括：获取用于进行特征电流信号检测的谐波次数；根据谐波次数对特征电流信号进行检测，得到谐波能量；根据谐波能量对特征电流信号进行解调，得到特征电流编码。由此，根据谐波次数确定的谐波能量对特征电流信号进行解调，不仅可以实现对特征电流编码的有效识别，而且识别方法简单便捷，提高了特征电流编码识别的效率。
-
公开(公告)号：CN115202952B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202211118757.1
申请日：2022-09-15
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种电能表费控功能的测试方法、系统及测试主机、存储介质。该方法包括：与终端安全芯片进行会话协商，确定第一会话密钥，并采用第一会话密钥对预埋密钥包和测试任务进行加密后，发送给终端安全芯片；接收终端安全芯片发送的数据验证码；将数据验证码发送给电能表进行验证，以在验证通过后建立终端安全芯片与电能表之间的应用连接，并确定终端安全芯片与电能表之间的第二会话密钥；接收终端安全芯片发送的测试密文；将测试密文发送给电能表，以对电能表进行费控功能测试。以能够在不依靠终端设备的情况下，完成电能表费控功能测试环境的搭建，从而提高电能表费控软件的开发和测试速度。
-
公开(公告)号：CN115048256B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
-
公开(公告)号：CN114860531A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210789737.0
申请日：2022-07-06
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定故障检测文件中当前行数据的类型，并在当前行数据为检测策略数据时，确定检测策略数据的组成信息，其中，检测策略数据的组成信息包括指令成分，在指令成分为复合指令时，根据故障检测字典和指令成分生成检测指令，其中，故障检测字典根据故障检测文件中在先行数据的检测结果生成，根据检测指令和组成信息对待检测芯片进行故障检测。本发明的安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质，能够以复合指令的形式实现在先行数据的检测结果自动传递至当前行数据对应的故障检测中，避免了通过人工手动复制进行传递，减少了人工参与，提升了故障检测的自动化程度。
-
公开(公告)号：CN114783975A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210706456.4
申请日：2022-06-21
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC分类号： H01L23/488 , H01L23/485 , H01L21/60
摘要： 本发明公开了一种缓冲焊垫及其制造方法和芯片及其制造方法。该缓冲焊垫用于芯片，缓冲焊垫包括：第一绝缘层、第二绝缘层、第一导电层和第二导电层，第二绝缘层设于第一绝缘层的上方，第二绝缘层设有沿厚度方向贯通的焊垫开孔，第一导电层设于第一绝缘层和第二绝缘层之间，且第一导电层在焊垫开孔正下方的位置处设置有至少一个缓冲孔，第二导电层至少部分设于焊垫开孔内，且第二导电层与第一导电层导通。根据本发明实施例的缓冲焊垫，第一导电层在焊垫开孔正下方的位置处设置有至少一个缓冲孔，以在缓冲焊垫与金属线采用绑定连接时，缓冲绑定时产生的压力，降低缓冲焊垫失效的风险，从而有利于提升缓冲焊垫的可靠性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
234 条记录 (耗时 0.234 秒)
