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公开(公告)号：CN112118223B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202010802177.9
申请日：2020-08-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明公开了一种主站与终端的认证方法、主站、终端及存储介质，方法包括：主站向终端发起会话密钥协商获得第一会话密钥；主站向终端发送第一认证报文，其包括第一认证标识、第一非对称密钥索引、第一对称密钥索引和第一数据报文，第一数据报文包括主站生成的第一随机数和主站利用第一会话密钥对第一随机数进行加密生成的第一加密密文；主站接收终端发送的第一认证响应报文，其包括终端利用第一非对称密钥索引对第一随机数和终端生成的第二随机数进行数字签名生成的第一签名信息；主站验证第一签名信息的正确性，并在验证通过后完成对终端的认证。由此，采用对称与非对称加密算法相结合的方式进行主站与终端之间的认证，安全性高。
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公开(公告)号：CN115048317B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN117269716A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202310961952.9
申请日：2023-08-01
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明实施例提供一种基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法，属于磁传感芯片测试技术领域。所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元。所述装置增加了被测磁传感芯片的样本数量，能够为多颗被测磁传感芯片提供不同的测试方向，实现了磁传感芯片的多个不同方向的同时测试，减少了改变磁传感芯片方向的次数以及变换线圈方向的次数，同时减少了测试组件体积，提高了测试的效率和对磁传感芯片性能评估的完整性。
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公开(公告)号：CN114860531B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210789737.0
申请日：2022-07-06
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定故障检测文件中当前行数据的类型，并在当前行数据为检测策略数据时，确定检测策略数据的组成信息，其中，检测策略数据的组成信息包括指令成分，在指令成分为复合指令时，根据故障检测字典和指令成分生成检测指令，其中，故障检测字典根据故障检测文件中在先行数据的检测结果生成，根据检测指令和组成信息对待检测芯片进行故障检测。本发明的安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质，能够以复合指令的形式实现在先行数据的检测结果自动传递至当前行数据对应的故障检测中，避免了通过人工手动复制进行传递，减少了人工参与，提升了故障检测的自动化程度。
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公开(公告)号：CN112073198A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010803342.2
申请日：2020-08-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明公开了一种用电信息采集系统及其电表的内部认证方法、终端，方法包括：终端向电表发送电表内部认证指令，该认证指令包括电表内部认证标识、第一密钥索引、第二密钥索引和数据报文，数据报文包括认证数据；终端接收电表发送的响应报文，响应报文包括电表利用第一密钥索引对认证数据进行加密生成的第一数据密文；终端利用第一密钥索引对认证数据进行加密生成第二数据密文，并判断第二数据密文与第一数据密文是否相同，如果相同，则判定电表为合法电表。由此，通过终端下发、计算电表的内部认证指令，以完成电表的合法性认证，有效节省了主站与电表之间的交流过程，充分发挥终端的中间作用，不仅提高了认证效率，也提高了认证的执行率。
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公开(公告)号：CN118132404B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
摘要： 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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公开(公告)号：CN117032838A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310764873.9
申请日：2023-06-26
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种调用方法和装置、定位方法和装置及业务接口测试系统，属于计算机领域。该调用方法包括：确定测试业务接口时的调用类型；确定测试所述业务接口时使用的操作系统的系统类型；基于所确定的调用类型和确定的系统类型及预设调用规则，确定调用对象；以及调用所确定的调用对象，以测试所述业务接口。籍此，实现了跨平台及不同调用对象的调用。
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公开(公告)号：CN115048256B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN114860531A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210789737.0
申请日：2022-07-06
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定故障检测文件中当前行数据的类型，并在当前行数据为检测策略数据时，确定检测策略数据的组成信息，其中，检测策略数据的组成信息包括指令成分，在指令成分为复合指令时，根据故障检测字典和指令成分生成检测指令，其中，故障检测字典根据故障检测文件中在先行数据的检测结果生成，根据检测指令和组成信息对待检测芯片进行故障检测。本发明的安全芯片的故障检测方法、装置、电子设备及介质，能够以复合指令的形式实现在先行数据的检测结果自动传递至当前行数据对应的故障检测中，避免了通过人工手动复制进行传递，减少了人工参与，提升了故障检测的自动化程度。
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公开(公告)号：CN118132404A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
摘要： 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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