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公开(公告)号：CN103471968A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310467043.6
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/00
Abstract: 一种利用单频调制激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域。解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。通过建立球形颗粒系频域反射信号和频域透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用粒度分析仪测量得到颗粒系的粒径分布情况，最后基于这些信号结合逆问题求解技术获得颗粒的光谱复折射率在已知颗粒其他物性参数的前提下，结合频域辐射传输模型，运用Mie理论结合微粒群优化算法反演获得球形颗粒光谱复折射率的方法。本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN102353478B
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201110304148.0
申请日：2011-10-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 半透明介质环境下非接触测温的校正方法，属于高温测量技术领域。它解决了被测物体表面处于半透明介质覆盖的环境下时，采用传统方法探测到的辐射能量不能通过传统的材料表面发射率修正方法进行修正得到其真实温度的问题。首先判断半透明介质与被测材料表面是否接触，若接触，选择一维耦合换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；若不接触，选择一维纯辐射换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；然后测量被测材料表面的实际辐射能量值；采用智能微粒群优化算法反演被测材料表面的真实温度值。本发明适用于半透明介质环境下被测材料表面的温度测量。
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公开(公告)号：CN110132875B
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN201910447569.5
申请日：2019-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多源脉冲激光信息融合的弥散介质多宗量场重建装置及方法，属于光学成像技术领域，为解决现有技术对弥散介质多宗量场同时重建的研究中，大多采用单一的脉冲激光入射的探测及重建方法，这种方法存在探测得到的信息较少、重建得到的图像边缘较为模糊，不能较好地反映真实的情况的问题。包括激光控制器、激光头、1×4光开关、光电探测器、数据采集处理系统和1×16光开关；所述光电探测器的输入端与1×16光开关的输出端连接，所述光电探测器的输出端与数据采集处理系统的输入端连接，所述激光控制器的输出端同时与激光头的输入端和数据采集处理系统的输入端连接，所述激光头的输出端与1×4光开关的输入端连接。本发明能有效解决现有技术中存在的问题。
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公开(公告)号：CN109632718B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201910075887.3
申请日：2019-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括：利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像，并作为时域模型的初始的光学参数场，通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。
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公开(公告)号：CN109092378B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201810776829.9
申请日：2018-07-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B01L3/00
Abstract: 一种基于等离激元纳米结构的微流控芯片流量光控制方法，本发明涉及微流控芯片流量光控制方法。本发明的目的是为了解决现有微流控设备操作复杂，设备昂贵，且便携性较差以及光控微流体技术需要向微流体中加入其他介质，或使用特殊的微流道材料等，极大限制了微流控技术的应用范围的问题。过程为：一、计算得到不同尺寸，不同间隔以及不同材料的纳米棒阵列在不同入射激光强度和偏振方向下纳米棒阵列吸收截面，纳米棒阵列所在微流道内流体的温度场和流场分布情况；二、选取符合要求的纳米阵列；三、使用特性波长的激光照射选取的符合要求的纳米棒阵列，通过调节特性波长的激光强度和偏振方向调控微流道内流体的微流动。本发明用于微流控领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108362733B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT‑SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN109632718A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910075887.3
申请日：2019-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/59 , G01N2021/4735
Abstract: 基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括：利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像，并作为时域模型的初始的光学参数场，通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。
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公开(公告)号：CN108362733A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810143017.0
申请日：2018-02-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法，涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置，然后将背景材料光学和热物性赋给内含物，作为内含物的光学和热物性初始值，通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数；基于重建半透明材料光热特性分布的LIT-SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。
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公开(公告)号：CN105675646B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201610169267.2
申请日：2016-03-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于本征光热信息同时测量高温半透明介质热导率及吸收系数的方法，属于半透明介质物性测量技术领域。解决现有测量方法存在结果误差较大，并且对于温度相关热物性的反演需要更多测量信息的问题。测量过程中使用加热器将半透明介质加热至某一高温，借助探测器测量待测样品的本征温度响应以及方向辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的热导率及谱带吸收系数。通过建立随温度变化的热导率及谱带吸收系数的半透明介质导热辐射耦合换热的正、逆问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演高温半透明介质温度相关热导率及谱带吸收系数的方法，提高对于半透明介质热物性测量的精度。
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公开(公告)号：CN105547485B
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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