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公开(公告)号：CN109725364B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN201811654150.9
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，其包括：准光学组件，其适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板；毫米波/太赫兹波探测器阵列，其适用于接收来自准光学组件的波束；以及反射板调节装置，其适用于调节反射板的运动，以使得对视场形成的扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，并包括旋转机构和俯仰摆动机构。通过将扫描轨迹包络为类圆形或类椭圆形，使得采样密集点集中在全视场中间，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀。
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公开(公告)号：CN109444978B
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN201811654175.9
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，该成像设备包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将n个被检对象自发辐射或反射回来的波束分别反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，其中，n大于等于2，准光学组件包括反射板，n个被检对象围绕反射板间隔设置，且反射板能够绕竖直轴线转动以分别接收并反射来自n个被检对象位于视场不同水平位置的部分的波束；以及毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备能够对位于反射板的周向不同位置处的n个被检对象进行成像，因而提高了检测效率，且控制简单、成本低。
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公开(公告)号：CN109633775B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201811654159.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件，包括多面体转镜和第三反射板，多面体转镜能够绕其转动轴线转动，以使得多面体转镜上的多个反射板轮流用作第一反射板接收并反射来自第一被检对象的毫米波/太赫兹波波束；多个反射板中的与第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板接收并反射来自第二被检对象的毫米波/太赫兹波波束；斩波器，被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列，斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。
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公开(公告)号：CN109471198B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN201811654363.1
申请日：2018-12-29
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本申请提供了一种全极化毫米波/太赫兹探测计，包括：接收天线，被配置为接收来自被检对象的毫米波/太赫兹波信号；极化分离器，被配置为将所接收的毫米波/太赫兹波信号进行极化分离，形成水平极化信号和垂直极化信号；水平通道部和垂直通道部，其中每个通道部包括：混频器，被配置为对应地将所述水平极化信号或所述垂直极化信号与本振信号进行混频；中频滤波放大部，被配置为对混频所得信号进行低噪声放大、滤波、功率放大；以及复相关器，被配置为根据中频滤波放大后的信号进行复相关运算，并输出水平极化信号、垂直极化信号以及复相关运算信号。
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公开(公告)号：CN117031569A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310948809.6
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图像处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图像处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
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公开(公告)号：CN109471195B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201811654183.3
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，检测器和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上；检测器，所述检测器包括天线阵列和探测器阵列，其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口，所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
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公开(公告)号：CN109471194B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201811654173.X
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图形处理装置，其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。
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公开(公告)号：CN113126174B
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN201911402652.7
申请日：2019-12-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种被动式安检设备及其光学装置，所述光学装置适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述被动式安检设备的探测器阵列，其中，所述光学装置包括栅条型反射板，所述栅条型反射板适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波进行反射，所述栅条型反射板上的栅条的分布与所述探测器阵列中的探测器的接收天线的极化方向相匹配。该光学装置通过采用通过栅条型反射板，且栅条型反射板上的栅条的分布与探测器阵列的接收天线的极化方向相匹配，从而对反射板进行极化选择，这样可以提升系统的信噪比，从而提升系统的温度灵敏度，并提高图像质量与可疑物识别。
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公开(公告)号：CN113126176B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN201911402454.0
申请日：2019-12-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 公开了一种太赫兹波安检系统及方法，包括：信息采集装置，其包括太赫兹波成像机构和可见光成像机构，太赫兹波成像机构配置成生成被检测对象的太赫兹波图像，可见光成像机构配置成生成被检测对象的可见光图像，其中，可见光成像机构所生成的可见光图像与太赫兹波成像机构所生成的太赫兹波图像在太赫兹波成像机构的景深范围内相匹配；和数据处理装置，其与信息采集装置数据连通，并配置成获取太赫兹波成像机构提供的被检测对象的太赫兹波图像和可见光成像机构提供的可见光图像并基于太赫兹波图像和可见光图像判断被检测对象是否存在嫌疑物品，如果判断存在嫌疑物品，则数据处理装置基于可见光图像和太赫兹波图像判断嫌疑物品是否是违禁物品。
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公开(公告)号：CN109870737A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201811654168.9
申请日：2018-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V8/10
摘要： 本公开提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板；所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束；和所述反射板调节装置适用于调节所述反射板的运动，以使得所述反射板对所述被检对象自发辐射或反射回来的波束进行反射的轨迹包络为类圆形或类椭圆形，以使得采样密集点集中在全视场中间，而不是在视场边缘，且在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
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