正电子寿命谱测量系统及其采用的测量方法

    公开(公告)号:CN103336020B

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201310300078.0

    申请日:2013-07-17

    IPC分类号: G01N23/22

    摘要: 本发明涉及一种正电子寿命谱测量系统,包括控制系统、移动系统和探测系统;控制系统包括多道分析器和计算机;移动系统包括放置待测样品的平移台,其设置于手动升降台上并与控制系统相连;探测系统包括放射源、标准样品、第一探测器、第二探测器、第一恒比甄别器、第二恒比甄别器、时间幅度转换器;标准样品与待测样品分设于放射源两侧;第一探测器和第二探测器设置于标准样品的一侧;第一恒比甄别器与第一探测器相连;第二恒比甄别器与第二探测器相连;时间幅度转换器与第一恒比甄别器和第二恒比甄别器相连并输出连接至控制系统。本发明能够对固定于平移台上的单样品进行精确的二维平面的缺陷分布进行测量,可靠、准确。

    正电子寿命谱测量系统及其采用的测量方法

    公开(公告)号:CN103336020A

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201310300078.0

    申请日:2013-07-17

    IPC分类号: G01N23/22

    摘要: 本发明涉及一种正电子寿命谱测量系统,包括控制系统、移动系统和探测系统;控制系统包括多道分析器和计算机;移动系统包括放置待测样品的平移台,其设置于手动升降台上并与控制系统相连;探测系统包括放射源、标准样品、第一探测器、第二探测器、第一恒比甄别器、第二恒比甄别器、时间幅度转换器;标准样品与待测样品分设于放射源两侧;第一探测器和第二探测器设置于标准样品的一侧;第一恒比甄别器与第一探测器相连;第二恒比甄别器与第二探测器相连;时间幅度转换器与第一恒比甄别器和第二恒比甄别器相连并输出连接至控制系统。本发明能够对固定于平移台上的单样品进行精确的二维平面的缺陷分布进行测量,可靠、准确。

    增材制造材料的应力腐蚀敏感性测试方法

    公开(公告)号:CN117110181A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202310992516.8

    申请日:2023-08-08

    IPC分类号: G01N17/00 B33Y70/00

    摘要: 本发明涉及一种增材制造材料的应力腐蚀敏感性测试方法,包括以下步骤:在增材部件的不同方向上取样,获取若干测试样品;在模拟测试条件下,对测试样品进行应力腐蚀模拟试验,得出模拟环境下的延伸率δ模;在惰性测试环境下,采用与模拟测试相同的测试条件进行应力腐蚀模拟试验,得出惰性环境下的延伸率δ惰;根据模拟环境下的延伸率δ模与惰性环境下的延伸率δ惰的差异得出应力腐蚀敏感性ISCC。部件的应力腐蚀敏感性评价方法能分别考虑不同方向的应力腐蚀敏感性权重,综合计算获得部件的应力腐蚀敏感性,获得的结果可有效对增材制造材料的应力腐蚀敏感性进行评价,充分考虑增材制造过程中各向异性的影响。

    金属材料离子辐照肿胀率的评估方法

    公开(公告)号:CN118090776A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410206242.X

    申请日:2024-02-26

    IPC分类号: G01N23/00 G16C60/00

    摘要: 本发明公开了一种金属材料离子辐照肿胀率的评估方法,包括如下步骤:将金属材料制备成试样,并进行辐照损伤分布模拟计算,获得辐照损伤‑损伤深度的分布曲线、峰值损伤深度及最大损伤深度;将掩膜贴合在待辐照试样的表面;对固定好掩膜的试样进行离子辐照,测量确定试样表面的法向与离子辐照束流方向之间的夹角;去除掩膜,确定掩膜遮挡区域即未辐照区域和未遮挡区域即辐照区域之间的相对高度;基于获得的辐照损伤‑损伤深度曲线,在0至峰值损伤深度的区域内确定2/5~4/5dpeak位置处的损伤量;基于获得的辐照损伤‑损伤深度曲线,在峰值损伤深度至最大损伤深度区域内确定损伤量对应的dL;计算名义辐照肿胀深度d*;计算确定金属材料的辐照肿胀率S。