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公开(公告)号：CN114947911A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110217737.9
申请日：2021-02-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/06 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统。公开了一种用于射线检查的成像系统，包括：第一射线源组件，包括多个射线源；第二射线源组件，包括多个射线源，第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内，第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内；多个第一探测器单元，多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内；多个第二探测器单元，多个第二探测器单元布置在第二探测器平面内；和探测器支架，多个第一探测器单元和多个第二探测器单元都安装在探测器支架上，其中，第一射线源平面、第二射线源平面、第一探测器平面与第二探测器平面沿行进方向依次分布。
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公开(公告)号：CN114167507A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
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公开(公告)号：CN113643361A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202010395323.0
申请日：2020-05-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种目标区域定位方法，包括：获取被检查行李的第一三维体数据。基于第一三维体数据，生成被检查行李在第一方向上的第一投影图像。基于第一投影图像绘制选取层，该选取层的延伸平面平行于第一方向。然后生成选取层在第二方向上的第二投影图像，第二方向垂直于选取层的延伸平面。基于第二投影图像确定该选取层是否仅包含被检查行李中的目标物体的包络区域。如果是，则将该选取层作为目标区域。本公开还提供了一种目标区域定位装置、设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN113643360A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202010395321.1
申请日：2020-05-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种目标物体定位方法，包括：获取被检查行李的第一三维体数据。基于第一三维体数据，生成被检查行李在任一方向上的投影图像。基于该投影图像，从第一三维体数据中分割出第二三维体数据，并基于第二三维体数据，确定针对被检查行李中的至少一个物体的至少一个包络区域。然后，从所确定的至少一个包络区域中确定目标物体的包络区域。本公开还提供了一种目标物体定位装置、设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN107688194B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201610630202.3
申请日：2016-08-03
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明涉及一种数据处理方法和数据处理装置。该方法可以包括根据已知能量射线入射得到的探测器响应对该探测器响应进行标定获得探测器响应模型的步骤；根据该探测器响应模型获得探测器入射能谱数据与探测器测得能谱数据之间的探测器光子计数模型的步骤；根据该探测器光子计数模型对该探测器测得能谱数据中各个能区探测器的光子计数进行反卷积处理计算获得探测器入射能谱数据中真实的各能区的光子计数的步骤。本发明还公开了一种数据处理装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107345925B
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201610294907.2
申请日：2016-05-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/20091 , G01N23/20 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种液体检测方法和系统。根据本发明实施例的液体检测方法，包括：对液体物质同时进行CT扫描以及XRD扫描，以获取液体物质的CT数据和XRD能谱数据；根据液体物质的CT数据和XRD能谱数据，提取液体物质的分子干涉函数；以及利用液体物质的分子干涉函数以及CT数据，识别液体物质。根据本发明实施例的液体检测方法和系统可以得到液体物质的信噪比更高、有效范围更大的分子干涉函数，从而可以对更广泛范围的液体物质进行识别。
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公开(公告)号：CN109471185A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811542627.4
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括：高能探测器组件，高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器；低能探测器组件，与高能探测器组件层叠设置，低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器；其中，低能探测器的排数小于高能探测器的排数；每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本发明实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置，提高了对材料的分辨能力。
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公开(公告)号：CN108614303A
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201810761941.5
申请日：2018-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 一种安全检查设备的屏蔽结构及安全检查通道，安全检查设备的屏蔽结构包括依次堆叠设置的第一碳纤维层、聚氨酯层及第二碳纤维层，以构造为两端敞开的屏蔽通道，第二碳纤维层为屏蔽通道的外层，第一碳纤维层和第二碳纤维层由碳纤维材料制成，聚氨酯层由聚氨酯材料制成。本发明在两层碳纤维层之间增加聚氨酯板层，碳纤维层强度好，将碳纤维层覆盖在聚氨酯板两侧，保证整体的强度，从而提高了屏蔽结构的刚性，并且，屏蔽结构的刚性对成像质量的影响小，因此，实现了在减少对成像质量影响的前提下，提高屏蔽结构的刚性。此外，聚氨酯板层的密度小，重量比碳纤维层轻，使总重量减轻。并且，聚氨酯板层成本低，因此降低了整体的成本。
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公开(公告)号：CN107991327A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201810013109.7
申请日：2018-01-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种安检系统及方法。该安检系统包括：至少一个行李车，具有至少一个容纳旅客行李的舱体，被配置为行驶通过扫描通道；以及扫描设备，至少基于行李车的行驶速度，对包括旅客行李在内的、通过扫描通道的行李车进行检查。
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公开(公告)号：CN107657653A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201610590192.5
申请日：2016-07-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T15/04
Abstract: 本发明公开了用于对三维表面的图像进行重建的方法、装置和系统。所述方法包括：利用对所述三维表面进行X光成像的X光成像数据，构建所述三维表面的三维模型，并提取特征点的三维坐标参数；利用对所述三维表面进行可见光成像的可见光成像数据，构建所述三维表面的一个或多个二维姿态图像，并从每个二维姿态图像提取特征点的二维坐标参数；通过对每个二维姿态图像中的特征点的三维坐标参数与二维坐标参数进行匹配，建立所述二维姿态图像与所述三维模型之间的映射关系；以及利用针对每个二维姿态图像分别建立的映射关系，将所述一个或多个二维姿态图像填充到所述三维模型上，形成重建的三维表面图像，其中，所述三维表面的相同方位的X光成像数据和可见光成像数据是同步捕获的。
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