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公开(公告)号：CN119741377A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411993239.3
申请日：2020-05-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种定位目标区域的方法，包括：获取被检查物品的体数据，所述体数据对应于多个图像层；基于所述体数据，生成所述被检查物品在第一方向上的第一三维图像；基于所述第一三维图像绘制选取区域，并生成所述选取区域在第二方向上的第二三维图像，所述选取区域由所述体数据的多个图像层中的一个或连续多个图像层构成，所述第一三维图像和所述第二三维图像具有透视效果；以及基于所述第二三维图像确定所述选取区域是否为所述目标区域。
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公开(公告)号：CN110907481B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN201811086635.2
申请日：2018-09-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明实施例公开了一种X射线的检测系统和检测方法，检测系统包括：光源发生器、第一探测器、第二探测器、准直器和处理器；第一探测器和第二探测器在待探测物体的传动方向上交替排布；光源发生器，用于发射多列光束信号，每列光束信号包括多条光束信号；第一探测器，用于接收透过待探测物体后的多列透射光束信号；准直器，用于对透过待探测物体后的多列散射光束信号进行特异性选择；第二探测器，用于接收经准直设备选择后的散射光束信号；处理器，用于依据多列透射光束信号和选择后的散射光束信号，确定待探测物体的检测结果。
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公开(公告)号：CN108614303B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN201810761941.5
申请日：2018-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/226
Abstract: 一种安全检查通道包括通道结构和屏蔽结构。屏蔽结构包括依次堆叠设置的第一碳纤维层、聚氨酯层及第二碳纤维层，以构造为两端敞开的屏蔽通道，第二碳纤维层为屏蔽通道的外层，第一碳纤维层和第二碳纤维层由碳纤维材料制成，聚氨酯层由聚氨酯材料制成，通道结构分别连接且连通于屏蔽通道的两端，以形成贯通的安全检查通道。本发明在两层碳纤维层之间增加聚氨酯板层，碳纤维层强度好，将碳纤维层覆盖在聚氨酯板两侧，保证整体的强度，从而提高了屏蔽结构的刚性，并且，屏蔽结构的刚性对成像质量的影响小，因此，实现了在减少对成像质量影响的前提下，提高屏蔽结构的刚性。此外，聚氨酯板层的密度小，重量比碳纤维层轻，使总重量减轻。并且，聚氨酯板层成本低，因此降低了整体的成本。
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公开(公告)号：CN109471185B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN201811542627.4
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括：高能探测器组件，高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器；低能探测器组件，与高能探测器组件层叠设置，低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器；其中，低能探测器的排数小于高能探测器的排数；每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本发明实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置，提高了对材料的分辨能力。
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公开(公告)号：CN109216140B
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN201710523837.8
申请日：2017-06-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 新鸿电子有限公司
Abstract: 本发明提供一种多焦点X射线管和壳体。多焦点X射线管包括：壳体；阴极，所述阴极位于壳体内并且被构造成从多个位置分别产生电子束流；以及阳极，所述阳极位于壳体内并且被构造成与阴极对准以从多个靶点产生多束X射线。在壳体上设有引出窗口，所述引出窗口形成为细长的狭缝并且引出窗口布置成与阳极上的多个靶点对准。在所述引出窗口上设置有窗体，所述窗体设置成对所述壳体进行密封并允许所述X射线通过所述窗体引出所述壳体。通过在多焦点X射线管的壳体上与设置在壳体内部的阳极的多个靶点对齐的位置处布置一个细长的引出窗口，可以将从阳极的多个靶点射出的多束X射线引出到壳体外部，同时可以实现射线管内部的高真空状态。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118311062A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202211742845.9
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了成像定位方法及成像检测系统，可应用于安检技术领域。该方法包括：由第一检测系统对物品进行第一检测，生成第一检测信息；根据第一检测信息确定物品的至少一个嫌疑位置；由输送系统将物品输送至第二检测系统，第二检测系统产生第一成像束面和第二成像束面；将物品定位在第一成像束面处，对所述物品进行第二检测，生成第二检测信息；根据第一检测信息和第二检测信息，确定物品的至少一个目标位置，目标位置与嫌疑位置相关联；根据第一成像束面和第二成像束面的预定距离和至少一个目标位置的当前坐标信息控制输送系统将物品从第一成像束面移动至第二成像束面，使得物品的至少一个目标位置位于第二成像束面处，以对物品进行第三检测。
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公开(公告)号：CN115598719B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202110770950.2
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115598718B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202110769972.7
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源，每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在壳体内的多个靶点；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN116095932B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202111310304.4
申请日：2021-11-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H05G1/38 , H05G1/30 , G01N23/046 , G01V5/00
Abstract: 本公开涉及安检成像技术领域，更具体地，涉及一种成像系统中光机出束控制方法。所述方法包括接收编码器信号、光机出束信号，并对编码器信号、光机出束信号进行初始化同步；记录tm时刻编码器的编码值M，tm+1时刻编码器的编码值N，M、N、m为整数；判断编码值M和编码值N的差值满足预设值a时，确定tm时刻到tm+1时刻的时长为光机的实际出束时间间隔T，a为整数；基于成像系统的预设出束时间间隔TJ和实际出束时间间隔T确定实际出束时间间隔T中的间隙时间TG；控制光机在间隙时间TG内不发射光束。本公开解决了带速波动导致的采样图像错乱的问题。本公开还涉及成像系统中光机出束控制装置、CT成像系统、电子设备、存储介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN116095932A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202111310304.4
申请日：2021-11-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H05G1/38 , H05G1/30 , G01N23/046 , G01V5/00
Abstract: 本公开涉及安检成像技术领域，更具体地，涉及一种成像系统中光机出束控制方法。所述方法包括接收编码器信号、光机出束信号，并对编码器信号、光机出束信号进行初始化同步；记录tm时刻编码器的编码值M，tm+1时刻编码器的编码值N，M、N、m为整数；判断编码值M和编码值N的差值满足预设值a时，确定tm时刻到tm+1时刻的时长为光机的实际出束时间间隔T，a为整数；基于成像系统的预设出束时间间隔TJ和实际出束时间间隔T确定实际出束时间间隔T中的间隙时间TG；控制光机在间隙时间TG内不发射光束。本公开解决了带速波动导致的采样图像错乱的问题。本公开还涉及成像系统中光机出束控制装置、CT成像系统、电子设备、存储介质和程序产品。
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