公开(公告)号：CN110085267A

公开(公告)日：2019-08-02

申请号：CN201910326192.8

申请日：2019-04-23

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 冯杰 ,  张坤

IPC: G11B20/10

Abstract: 本发明涉及集成电路技术领域，公开一种弥补器件差异的调节电路，其中包括：至少两种可替换的转换电路；芯片，芯片具有一数字接收引脚，数字接收引脚为寄存器数字接收端，将寄存器数字接收端的采样频率设置为一预设频率，以使得寄存器数字接收端满足至少两种可替换的转换电路。有益效果在于，通过调整芯片的寄存器，改变寄存器数字接收端的采样频率，使得寄存器数字接收端满足至少两种可替换的转换电路，以弥补器件的差异性，解决电子器件的兼容性问题，减少对电子器件的依赖，并且针对组装好的机器，能够通过升级代码来解决，避免更换器件，降低成本。

公开(公告)号：CN110048391A

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201910301272.8

申请日：2019-04-15

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 李远远 ,  张坤 ,  冯杰

IPC: H02H9/04

Abstract: 本发明涉及过压保护电路技术领域，尤其涉及一种过压保护电路，其中包括，一设置有储能元件的工作单元；一稳压单元，连接于所述直流电源的输入端与所述工作单元的输入端之间；一控制单元，连接于所述工作单元的输出端与所述直流电源的输出端之间；过压保护电路通过输入不同档位的输入电压，以对直流电源进行保护。有益效果在于：采用分立器件实现过压保护电路的功能，并且通过调整单个器件，即可满足不同档位输入电压对直流电源的保护，电路结构简单，成本较低，便于推广。

公开(公告)号：CN109962709A

公开(公告)日：2019-07-02

申请号：CN201910239161.9

申请日：2019-03-27

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 冯杰 ,  张坤

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了模数转换器的测试方法及系统，属于测试领域。本发明通过控制控制器向模数转换器发送时钟信号，判断控制器的设置是否异常，防止因控制器设置异常导致测试失败；通过监测控制器与模数转换器之间的通信状态，判断模数转换器的通信是否成功，防止因模数转换器的通信接口异常影响测试结果；通过监测模数转换器是否输出数据信号，识别模数转换器的设置是否正常，防止因模数转换器的设置异常影响测试结果。本发明在控制器与模数转换器的通信过程中将故障由控制器到模数转换器一步一步排除，实现了精准定位故障的目的，且用时短效果高。

公开(公告)号：CN109286535A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201811037346.3

申请日：2018-09-06

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 冯杰 ,  张坤

IPC: H04L12/26

Abstract: 本发明公开了获取存储模块内部延时阶梯时间的方法及系统，属于通信技术领域。所述方法为：控制单元在至少两个不同相位下分别向存储单元发送时钟信号，并分别对控制单元的信号输入接口进行延时处理，获取信号输入接口的两个边界；根据信号输入接口的两个边界之间的延时阶梯个数之差计算一个延时阶梯的延时时间。本发明通过调整控制单元向存储单元发送时钟信号相位，以及对控制单元的信号输入接口进行延时处理，获取在不同时钟信号相位下对应的信号输入接口的两个边界，再根据不同时钟信号相位下的不同延时阶梯个数计算单个延时阶梯的延时时间，以便于根据实际计算获取的延时阶梯的延时时间对控制单元进行的延时时间进行调整。

公开(公告)号：CN108418580A

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：CN201810069453.8

申请日：2018-01-24

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 罗进宇 ,  张坤 ,  冯杰

IPC: H03L7/085 ,  H03B5/32 ,  G06F11/22

Abstract: 本发明提供一种通过频率计测量中央处理器内部锁相环稳定性的方法，包括：中央处理器向晶体电路输出震荡激励信号；晶体电路根据震荡激励信号产生时钟信号；内部环路通过设置在中央处理器上的一输出端口输出未经锁相环的时钟信号；采用一频率计，接收未经锁相环的时钟信号并进行时钟精度测试以得到第一测试结果；内部环路输出经过锁相环的时钟信号；采用频率计，接收经过锁相环的时钟信号并进行时钟精度测试以得到第二测试结果；根据预设策略对第一测试结果和第二测试结果进行比较处理以得到锁相环的稳定性结果。本发明的有益效果：不需要购买昂贵的示波器，操作简单，能够避免晶体的影响，测量到PLL准确的精度。

公开(公告)号：CN108390732A

公开(公告)日：2018-08-10

申请号：CN201810008527.7

申请日：2018-01-04

Applicant: 晶晨半导体(上海)股份有限公司

Inventor： 李双庆 ,  张坤 ,  冯杰

IPC: H04B17/11 ,  H04B17/21

CPC classification number: H04B17/11 ,  H04B17/21

Abstract: 本发明提供一种通过射频信号来校准晶体频偏的方法，属于通信领域，所述方法包括：步骤S1、被测器件的射频端口通过铜管连接件连接射频线的一端，所述射频线的另一端连接无线局域网测试仪，所述无线局域网测试仪连接控制端；步骤S2、用户通过所述控制端控制所述无线局域网测试仪对所述被测器件的射频信号进行测试以得到测试结果，用户根据所述测试结果判断所述射频信号的偏差是否合格：若判断结果为是，随后退出；若判断结果为否，则所述用户对所述被测器件的晶体电路进行调节，随后转步骤S2。本发明的有益效果：不会受到探头的影响，测量更加准确。