公开(公告)号：CN112986291A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN202011435523.0

申请日：2020-12-10

申请人： 株式会社理学

发明人： 小林信太郎 ,  稻叶克彦 ,  小中尚

IPC分类号： G01N23/20016 ,  G01N23/20025

摘要： 本发明提供一种控制装置、系统、方法以及程序，有效利用衍射计的测角器所具备的轴，即便不具有特别的轴结构，也能够进行伴随轴的精密的入射角度的控制。控制装置对试样的姿势进行控制，其具备：输入部，接受表示试样相对于轴的倾斜的倾斜信息的输入；调整量决定部，使用倾斜信息，决定用于相对于变化的值来对试样面法线或者晶格面法线与散射矢量的偏离量进行修正的ω值以及χ值的调整量；和驱动指示部，在X射线衍射测定时，基于所决定的ω值以及χ值的调整量，与试样的轴旋转相应地驱动测角器。这样，能够将消除不受轴的旋转的影响的试样的倾斜角度的调整角度，变换为独立于轴旋转的ω值以及χ值的调整量。

公开(公告)号：CN112930478A

公开(公告)日：2021-06-08

申请号：CN202080005907.0

申请日：2020-07-10

申请人： 株式会社理学

发明人： 田中伸

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 本发明提供了一种可高精度的定量分析的方法、定量分析程序以及荧光X射线分析装置。在通过荧光X射线分析装置进行的定量分析方法中，包括以下步骤：取得步骤(S202)，在不同的条件下，从包含多个元素的样品中取得至少在第1能量位置具有第1峰的多个光谱；指定步骤(S206)，在多个光谱中，指定主光谱、和在第2能量位置具有第2峰的副光谱；第1拟合步骤(S208、S210)，对副光谱所包含的所述第1峰进行拟合，计算在所述第1峰的所述第2能量位置处的背景强度；以及第2拟合步骤(S212)，对所述主光谱的所述第1峰进行拟合，并且在所计算出的所述背景强度被包含在所述第2能量位置的条件下，对副光谱的所述第2峰进行拟合。

公开(公告)号：CN108770365B

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN201780011596.7

申请日：2017-02-15

申请人： 株式会社理学

发明人： 大渕敦司 ,  绀谷贵之 ,  藤绳刚 ,  姫田章宏

IPC分类号： G01N23/207 ,  G01N23/223

摘要： 提供即使由不熟练者对高性能性水泥的组成进行分析也能高精度地进行定量分析的解析装置、解析方法以及解析程序。进行水泥的含有成分的定量分析的解析装置(100)具备：含有率变换部(120)，其将作为元素分析结果得到的、水泥样本中的主要元素的含有率通过给定的公式变换成构成水泥样本的主晶相的含有比；尺度因子推定部(140)，其根据通过变换得到的主晶相的含有比推定里特沃尔德解析的尺度因子的初始值；以及里特沃尔德解析部(150)，其使用所推定出的尺度因子的初始值来对水泥样本的X射线衍射测定结果进行里特沃尔德解析，算出水泥样本的各相的含有率。

公开(公告)号：CN110312928B

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN201880012059.9

申请日：2018-03-14

申请人： 株式会社理学

发明人： 片冈由行 ,  川久航介

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/207

摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

公开(公告)号：CN112394074A

公开(公告)日：2021-02-23

申请号：CN202010804679.5

申请日：2020-08-12

申请人： 株式会社理学

发明人： 伊藤幸一郎

IPC分类号： G01N23/20025 ,  G01N23/2204

摘要： 本发明提供一种X光分析用试料保持装置，该X光分析用试料保持装置将填充有试料的试料支架(10)保持于基体构件(20)，并以包覆试料支架(10)的周围的方式向基体构件(20)装配气密构件(30)，由此形成密闭空间内的试料保持结构。在气密构件(30)形成有向装配部(21)嵌入并而被装配的嵌合部(35)。

公开(公告)号：CN112041670A

公开(公告)日：2020-12-04

申请号：CN201980024124.4

申请日：2019-01-24

申请人： 株式会社理学

发明人： 虎谷秀穂 ,  室山知宏

IPC分类号： G01N23/2055 ,  G01N23/207

摘要： 本发明提供了一种能够更简便地对包含一个非晶相和样品进行定量分析的定量分析装置。该非晶相的定量分析装置包括粉末衍射图取得单元、定性分析结果取得单元、取得针对一个或多个晶相的拟合函数的拟合函数取得单元、使用取得的拟合函数对样品的粉末衍射图执行的全图拟合单元、和计算一个非晶相和一个或多个晶相的重量比的重量比计算单元，针对一个或多个晶相的拟合函数分别为使用通过全图分解而得到的积分强度的第一拟合函数、使用通过观测或计算的积分强度的第二拟合函数、使用通过观测或计算的分布强度的第三拟合函数中的一个，对一个非晶相使用第三拟合函数。

公开(公告)号：CN109073570B

公开(公告)日：2020-11-06

申请号：CN201780017067.8

申请日：2017-02-20

申请人： 国立大学法人东北大学 ,  株式会社理学

发明人： 百生敦 ,  小池崇文 ,  影山将史

IPC分类号： G01N23/041 ,  A61B6/00 ,  A61B6/06

摘要： 获取强度分布图像(10)的第1关注区域(101)中的第1ROI像素值和第2关注区域(102)中的第2ROI像素值。在第1和第2的关注区域的其中一方相对于另一方，被设定在强度分布图像中的强度调制的周期中相位差为π/2的位置或者其附近。接着，决定将第1和第2ROI像素值按每个强度分布图像进行绘制而得到的椭圆轨迹。接着，使用按每个规定角度分割椭圆轨迹而得到的至少k个角度区域所对应的强度分布图像来获取k张角度区域图像。接着，使用k张角度区域图像来生成放射线图像。在这里，k为3以上的整数。

公开(公告)号：CN111812129A

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN202010267347.8

申请日：2020-04-07

申请人： 株式会社理学

发明人： 武田佳彦

IPC分类号： G01N23/046

摘要： 提供一种能以非破坏的方式高效地取得高分辨率的图像的CT用图像的拍摄方法、控制装置、控制程序、处理装置及处理程序。是针对旋转中心来说外形为非均匀的试样的投影像的拍摄方法，包括：将试样(S0)配置于在X射线源(116a)与检测器(117)之间设定的旋转中心(C0)的位置的步骤；以及使试样(S0)绕着旋转中心(C0)旋转，根据试样(S0)的外形及试样(S0)的旋转角度，将光轴方向上的X射线源与旋转中心的距离或者旋转中心与检测器的距离相对地改变，由此遍及180°以上的旋转角度，针对不同的放大率以不同的旋转角度拍摄试样(S0)的投影像的步骤。

公开(公告)号：CN111735828A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN202010190202.2

申请日：2020-03-18

申请人： 株式会社理学

发明人： 刑部刚 ,  小泽哲也 ,  尾本和树

IPC分类号： G01N23/00 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

摘要： 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。

公开(公告)号：CN111033246A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201880050768.6

申请日：2018-05-18

申请人： 株式会社理学

发明人： 虎谷秀穂 ,  室山知宏

IPC分类号： G01N23/2055 ,  G01N23/207

摘要： 本发明提供一种晶相定量分析装置，能够更简便地进行包含多个晶相的样品的定量分析。该晶相定量分析装置包括：取得样品的粉末衍射图的单元；取得多个晶相的信息的单元；取得分别针对多个晶相的拟合函数的单元；使用这些拟合函数，对粉末衍射图执行全图拟合，取得其结果的单元；以及基于其结果计算多个晶相的重量比的单元，其中，各拟合函数从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择，第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度，第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度，第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。