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公开(公告)号：CN117460950A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202280040950.X
申请日：2022-03-14
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2209
摘要： 本发明的X射线荧光分析装置包括使用FP方法的定量机构(13)，该定量机构(13)进行：强度比装置灵敏度曲线制作步骤，其中，制作强度比装置灵敏度曲线，该强度比装置灵敏度曲线为作为对比主成分的测定强度与基准主成分的测定强度之比的测定强度比、与作为对比主成分的理论强度与基准主成分的理论强度之比的理论强度比之间的相关性；强度比换算步骤，其中，基于上述强度比装置灵敏度曲线，将上述测定强度比换算为理论强度标度，作为换算测定强度比；含有率比更新步骤，其中，基于换算测定强度比来更新含有率比，上述含有率比是对比主成分的含有率与基准主成分的含有率之比；以及含有率更新步骤，其中，基于最新的含有率比来更新各成分的含有率。
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公开(公告)号：CN113748333B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202080031348.0
申请日：2020-06-04
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 包括使用基本参数法的定量机构，定量机构对于各标准样品，使用测量强度、装置灵敏度常数和比例系数，该比例系数为，理论强度式中为了计算理论强度而与测量元素的质量分数相乘的比例系数，计算与测量元素相对应的成分的含量的定量值，对于各成分，输出表示标准值和定量值的相关性的图表和/或每个标准样品的标准值、定量值、定量误差和已采用的一组标准样品的定量值整体的准确度。
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公开(公告)号：CN109791116A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780059601.1
申请日：2017-08-31
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01N2223/076 , G01N2223/315
摘要： 一种波长色散型荧光X射线分析装置，包括单一的一维检测器(10)，该一维检测器(10)具有呈直线状而排列的多个检测元件(7)，该波长色散型荧光X射线分析装置包括检测器位置变更机构(11)，该检测器位置变更机构(11)用于针对一维检测器(10)的位置，设定在检测元件(7)的排列方向与分光元件(6)中的分光角度方向平行的平行位置和与该分光元件(6)中的分光角度方向相交叉的交叉位置中的任意者，在平行位置，一维检测器(10)的感光面位于汇聚二次X射线(42)的焦点处，在交叉位置，感光狭缝(9)设置于汇聚二次X射线(42)的焦点处，一维检测器(10)的感光面位于感光狭缝(9)的与分光元件(6)离开的汇聚二次X射线(42)的行进方向侧。
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公开(公告)号：CN109196340A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201780028012.7
申请日：2017-08-31
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
摘要： 本发明的波长分散型荧光X射线分析装置包括：位置敏感型检测器(10)，该位置敏感型检测器(10)通过对应的检测元件(7)，检测不同的分光角度的二次X射线(41)的各强度；测定波谱显示机构(14)，该测定波谱显示机构(14)将检测元件(7)的排列方向的位置和检测元件的检测强度的关系作为测定波谱而显示于显示器(15)中；检测区域设定机构(16)，该检测区域设定机构(16)设定峰值区域和本底区域；定量机构(17)，该定量机构(17)根据峰值区域的峰值强度、本底区域的本底强度与本底补偿系数，计算作为净强度的测定对象的荧光X射线的强度，进行定量分析。
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公开(公告)号：CN102187208B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201080002934.9
申请日：2010-07-01
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/203
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/637
摘要： 本发明涉及一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素和以氢为主成分的液体试样(3A)照射一次X射线(2)，测定：由液体试样(3A)中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线(4)的强度、以及在液体试样(3A)中散射的一次X射线的连续X射线的散射线(12)的强度，根据由各元素产生的荧光X射线(4)的测定强度和一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度的比，计算液体试样(3A)的元素的浓度，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由各元素产生的荧光X射线(4)的波长，并且在液体试样(3A)的组成的变化范围内，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度和质量吸收系数成反比。
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公开(公告)号：CN113692533A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN201980094805.8
申请日：2019-12-06
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01B15/02 , G01N23/2209
摘要： 本发明的荧光X射线分析装置所具有的计数时间计算机构(13)以改变使其测定强度变化的测定射线的方式，反复进行下述的流程，即，通过规定的定量运算方法，采用一个标准样品的参考强度，求出每个定量值，并且求出仅使一条测定射线的测定强度仅以规定量而变化的场合的每个定量值，将每个定量值变化与规定量的比作为定量值变化与强度比而求出，反复进行该流程，采用像这样而针对全部的测定射线求出的定量值变化与强度比，根据相对每个定量值而指定的定量精度，计算每条测定射线的计数时间。
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公开(公告)号：CN109196340B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201780028012.7
申请日：2017-08-31
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
摘要： 本发明的波长分散型荧光X射线分析装置包括：位置敏感型检测器(10)，该位置敏感型检测器(10)通过对应的检测元件(7)，检测不同的分光角度的二次X射线(41)的各强度；测定波谱显示机构(14)，该测定波谱显示机构(14)将检测元件(7)的排列方向的位置和检测元件的检测强度的关系作为测定波谱而显示于显示器(15)中；检测区域设定机构(16)，该检测区域设定机构(16)设定峰值区域和本底区域；定量机构(17)，该定量机构(17)根据峰值区域的峰值强度、本底区域的本底强度与本底补偿系数，计算作为净强度的测定对象的荧光X射线的强度，进行定量分析。
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公开(公告)号：CN110312928A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201880012059.9
申请日：2018-03-14
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。
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公开(公告)号：CN107209132B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201680006771.9
申请日：2016-08-26
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/207 , G01N23/2076 , G01N23/2209 , G01N2223/076
摘要： 本发明的扫描型的荧光X射线分析装置包括定量分析条件设定机构(13)，该机构根据标准试样(14)的定性分析结果和半定量分析结果，针对预先确定的试样组成元素以外的新检测元素，根据荧光X射线相对分析对象元素的分析值的吸收激励影响度、与干扰线相对分析对象元素的分析线的重叠影响度，判断是否应作为分析对象元素来追加。
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