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公开(公告)号：CN102564805A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201010619932.6
申请日：2010-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC分类号： G01N27/622
摘要： 本发明提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。
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公开(公告)号：CN102539455A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110392173.9
申请日：2007-10-05
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01V5/00
摘要： 本发明公开了一种通过双能CT成像来对液态物品进行快速安全检查的方法及设备。首先借助CT扫描和双能重建方法，获得包含被检液体物理属性的一层或多层CT图像；然后通过图像处理和分析方法，从CT图像中获取每一件被检液体的物理属性值；最后将所获得的物理属性值和该液态物品的参考物理属性值进行比较，判断被检液态物品是否藏有毒品。其中，CT扫描方法既包括常规的断层CT扫描技术，也可用螺旋CT扫描技术实现；在使用常规断层CT扫描技术时，既可设置一系列特定的位置进行扫描，也可借助DR图像由操作员指定扫描位置，还可以通过对DR图像的自动分析来确定液体部分的位置，引导CT扫描。
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公开(公告)号：CN101576515B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200810005766.3
申请日：2008-02-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/083
CPC分类号： A61B6/484
摘要： 一种X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线发射装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束发射方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并转换为电信号；以及数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，用于构建物体的图像。另外，还可利用一旋转结构，旋转物体实现CT成像模式，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。本发明使用通常的X光机，以及十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。
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公开(公告)号：CN102456227A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G06T11/00
CPC分类号： G06T11/006 , G06T2211/421
摘要： 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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公开(公告)号：CN102376096A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
摘要： 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN102315720A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010223277.2
申请日：2010-06-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： H02K7/00
摘要： 本发明公开一种毫米波检查设备的摆动反射装置，包括：支撑架；摆动反射板，所述摆动反射板转动地支撑在所述支撑架上；和驱动电机，所述驱动电机与所述摆动反射板直接刚性连接，用于驱动所述摆动反射板往复摆动。与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于驱动电机与摆动反射板直接刚性连接，因此，用较小型号的驱动电机就能够驱动摆动反射板高速往复运动。另外，由于摆动反射板采用了网状框架和具有筛孔的薄板，因此能够减轻摆动反射板的质量，从而有利于进一步提高摆动反射板往复运动的速度，而且还可以减少机械运动时的刚性传导噪声。
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公开(公告)号：CN102313912A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010223295.0
申请日：2010-06-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V13/00
摘要： 本发明公开了一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于为辐射计设置了专门的高低温校准装置，因此能够对辐射计的初值和增益实时地校准，从而避免了环境温度变化和辐射计自身温度变化所带来的不利影响，从而提高了辐射计的检测精度。
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公开(公告)号：CN102313774A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010223331.3
申请日：2010-06-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于离子迁移谱仪的离子门结构，其包括用于存储来自离子迁移谱仪的电离源的离子的存储电极，其中所述存储电极包括锥形电极和等电位电极，所述等电位电极在离子存储阶段与所述锥形电极等电位，并且其中所述锥形电极包括中心孔和分布在所述中心孔周围的多个分流气孔。由于锥形电极上设置有多个分流气孔，能够分流或削弱用于携带样品分子或离子的大流量载气，避免存储在存储电极中的样品离子被强大的载气流带走，从而能够有效地提高离子迁移谱仪的存储效率和灵敏度。
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公开(公告)号：CN102297856A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010219542.X
申请日：2010-06-25
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/65
CPC分类号： G01N21/65 , G01J3/28 , G01J3/44 , G01J3/4412 , G01N21/274 , G01N21/276
摘要： 本发明涉及一种拉曼光谱检测系统，包括光源，用于发射激发被检物发出拉曼光的激发光；外光路系统，用于将光源发射的光照射到被检物上并收集被检物发出的拉曼光；光检测装置，用于接收外光路系统收集的拉曼光，并检测该拉曼光以获得该拉曼光的光谱数据；控制装置，用于控制所述激发光源提供所述激发光，控制光检测装置对拉曼光的检测，接收从光检测装置输出的光谱数据并对该光谱数据进行分析以识别所述被检物；以及自动校准装置，用于放置标准样品以用于自动校准该系统。本发明还涉及利用拉曼光谱检测系统对物体进行检测的方法，以及对拉曼光谱检测系统进行自动校准的方法。
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公开(公告)号：CN102279970A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201010208314.2
申请日：2010-06-13
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G06T1/20
摘要： 公开了一种基于GPU的螺旋锥束CT重建方法，其中，在GPU中执行以下步骤：对投影数据进行预处理；对预处理后的数据进行三维反投影，得到重建的图像数据。其中预处理的步骤可包括求导、重排、滤波等操作。通过GPU实现上述方法，能大大提高重建速度，从而使在实际应用中进行实时重建成为可能。
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