公开(公告)号：CN116124807A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202211533709.9

申请日：2022-12-01

申请人： 江西省科学院应用物理研究所

发明人： 徐敬 ,  管博 ,  张冠华 ,  余贵全 ,  刘秋香 ,  邹晋 ,  胡强 ,  张友亮 ,  马传明

IPC分类号： G01N23/20008

摘要： 本发明提供了一种异质金属增强铜基复合材料EBSD试样的制备方法。该方法包括将：复合材料进行线切割，获得待处理样品；将待处理样品进行手动研磨，后用乙醇清洗并干燥，获得磨光样品；使用磨抛机将磨光样品进行机械抛光，抛光过程中持续加入过氧化氢+二氧化硅抛光液混合液，获得异质金属增强铜基复合材料EBSD测试样品。机械抛光中转速控制在100～200转/分钟，时间20～40min，过氧化氢+二氧化硅抛光液混合液中过氧化氢溶液的体积控制在20％～30％。针对不同强度异质金属颗粒增强铜基复合材料来说，该方式均能制备出大面积的抛光区域，满足铜基复合材料的EBSD测试需求，可同时标定出异质金属增强相和铜基体相，标定率可达到90％以上。

公开(公告)号：CN116106344A

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN202310118257.6

申请日：2023-02-10

申请人： 中国科学院生态环境研究中心

发明人： 蔡亚岐 ,  牛红云 ,  李莉

IPC分类号： G01N23/20008 ,  B09C1/08 ,  G01N23/207 ,  G01N23/2273 ,  G01N23/2202 ,  G01N21/65 ,  G01N1/34

摘要： 本发明提供了一种监测污染土壤修复过程的方法，通过将微纳米反应器加入至湿润的污染土壤中，转移至密闭容器中混合均匀，进行土壤修复过程，在修复过程的不同时间段采集样品，使用浮选法或筛分法将微纳米反应器与土壤分离，得到表面带有目标污染物或目标污染物的降解产物的微纳米反应器。利用谱学技术对分离后的微纳米反应器的表面状态及目标污染物或降解产物进行分析，判断目标污染物的分布和元素价态、纳米金属或金属氧化物的形貌、晶型及价态的变化；用有机溶剂洗涤分离后的微纳米反应器，对洗涤出的目标污染物或降解产物进行分析，判断其种类；根据分析结果得出土壤修复的进程以及微纳米反应器中各组分与土壤中污染物的相互作用方式。

公开(公告)号：CN116106343A

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN202310016489.0

申请日：2023-01-06

申请人： 中国科学院化学研究所

发明人： 袁震 ,  梁同玲

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/207 ,  G01N21/84

摘要： 本发明提供了一种X射线单晶衍射样品封管装置及使用方法，X射线单晶衍射样品封管装置包括底座、取样管和密封阀，所述底座上具有贯穿其底部的腔室，所述取样管气密连接于所述腔室顶壁上，所述取样管底端与所述腔室顶端连通，所述密封阀螺纹旋合于所述腔室内，所述密封阀内具有连通所述腔室顶端和所述腔室底端的内部通道，所述密封阀顶端面和所述腔室顶壁之间具有密封件，所述密封件可与所述密封阀配合密封所述取样管底端。与现有技术相比，本发明能够实现对空气敏感样品的密封转移，具有操作简便、可重复使用等优点。

公开(公告)号：CN116087253A

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202211097878.2

申请日：2022-09-08

申请人： 成都先进金属材料产业技术研究院股份有限公司

发明人： 李靖 ,  肖东平 ,  税烺 ,  周扬

IPC分类号： G01N23/2251 ,  G01N23/2202 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/203 ,  G01N23/20008

摘要： 本发明涉及热处理技术领域，公开了一种富C的高温合金中非金属夹杂物的检测方法，包括：对试样进行热变形处理；将经过热变形处理后的所述试样进行固溶处理；将固溶处理后的所述试样制备成金相样；对所述金相样进行扫描。本发明通过先对基体中的碳化物进行回溶处理，从而在自动分析检测过程中避免碳化物的干扰，夹杂物的统计结果准确、且效率高。

公开(公告)号：CN116046821A

公开(公告)日：2023-05-02

申请号：CN202310011237.9

申请日：2023-01-05

申请人： 桂林电子科技大学

发明人： 彭治国 ,  刘海洋 ,  刘海浪 ,  唐腾飞 ,  马彬隽 ,  季传尚

IPC分类号： G01N23/203 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/20008

摘要： 本发明涉及电子光学成像技术领域，尤其涉及一种背散射电子闪烁体探测器装置及探测方法，装置包括背散射电子接收传感器、光学聚光组、光学传输组、光电转化系统和探测器保护机构，通过使用闪烁体作为传感器，接收工业电子枪电子束偏扫产生的背散射电子信号，再将背散射电子携带的电子信息转化为光学信号并传输至远离工件区域，最后由光电转化系统形成高信噪比的电压模拟信号，避免了在现有技术模拟信号传输过程中存在的空间噪声及其他干扰信号对微弱信号传输的影响，对于细致的形貌特征可以展现出较高的分辨率的背散射电子图像。

公开(公告)号：CN116026867A

公开(公告)日：2023-04-28

申请号：CN202211103590.1

申请日：2022-09-09

申请人： 东方电气集团东方电机有限公司

发明人： 谢志辉 ,  张小俊 ,  何海洋 ,  刘雁 ,  周进 ,  张跃 ,  唐丽 ,  黄泽 ,  何明鹏 ,  杨帅

IPC分类号： G01N23/046 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/201 ,  G01N15/08 ,  G01N1/28

摘要： 本申请涉及电气设备绝缘技术领域，公开了一种发电机定子绕组绝缘老化程度评定方法，本方法利用二维小角X射线散射技术对发电机定子绕组绝缘老化程度进行检测评定，本技术为无损检测，检测过程不会对样品进行破坏，因此整个检测评定过程获取的数据是真实且准确的，能够客观真实的反应发电机定子绕组绝缘的老化程度。

公开(公告)号：CN115950906A

公开(公告)日：2023-04-11

申请号：CN202211685626.1

申请日：2022-12-27

申请人： 纳克微束(北京)有限公司

发明人： 何伟 ,  胡继闯 ,  陈志明 ,  张景龙 ,  张子豪 ,  牛辉

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/203 ,  G01N23/20091 ,  G01N23/22 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/223 ,  G01N23/2254

摘要： 本发明涉及一种探测系统，属于扫描电子显微镜技术领域，能够解决当前EBSD测试时必须样品台旋转、硬件限制所导致的测试角度受限、样品容易掉落、容易碰撞的问题；该系统包括第一物镜、第二物镜、EBSD探测器、样品台和PC端；第一物镜设于样品台正上方，第二物镜设于样品台斜上方；第一物镜和第二物镜的电子束会聚在样品表面的同一位置；EBSD探测器设于样品台的斜上方、第二物镜的对侧，并与PC端连接；第一物镜的电子束在样品表面的入射角度为90゜；第二物镜的电子束在样品表面的入射角度为5゜‑20゜；所述系统还包括EDS探测器，EDS探测器设于第一物镜的侧边，并与PC端连接。

公开(公告)号：CN115931933A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202310016252.2

申请日：2023-01-06

申请人： 长鑫存储技术有限公司

发明人： 刘传涛 ,  王欣

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N1/28

摘要： 本公开是关于一种透射电子显微镜栅氧样品的制作方法及其结构，透射电子显微镜栅氧样品的制作方法包括：提供样品；于样品上选择待检测区；暴露有源区；暴露单排有源区。本公开通过依次沿待检测区长度方向去除初始保护层周边部分样品、沿样品上有源区排布方向去除部分样品，使样品上的有源区暴露出来，通过调整样品相对于透射电子显微镜发出的电子束的角度，例如使透射电子显微镜的机台转动同待检测区长度方向与样品上位线长度方向的夹角一致的角度，即可实现该电子束垂直于样品上的位线长度方向或垂直于样品上的有源区排布方向，达到单一样品上存在沿有源区排布方向的切面和位线长度方向的切面的目的，进而通过单次制样进行不同角度的检测。

公开(公告)号：CN115931672A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211531269.3

申请日：2022-12-01

申请人： 国能神东煤炭集团有限责任公司 ,  中国神华能源股份有限公司神东煤炭分公司 ,  北京低碳清洁能源研究院

发明人： 梁鼎成 ,  高天强 ,  谢飞 ,  曹志国 ,  赵泽 ,  郭俊廷 ,  李鹏 ,  杨毅 ,  武洋

IPC分类号： G01N15/08 ,  G01N23/201 ,  G01N23/20008

摘要： 本发明提供了一种样品孔隙结构的测试方法，用于测试受热易挥发的固体样品，样品孔隙结构的测试方法包括：将样品研磨成粉末状，并对研磨后的样品进行烘干；通过小角X射线散射仪获取烘干后的样品的孔隙结构参数；通过软件对小角X射线散射仪获取的数据进行分析和拟合，以得到样品的孔径分布规律。采用该方案，首先将样品研磨后烘干，随后通过小角X射线散射仪即可对烘干后的样品的孔隙结构参数进行获取，最后可以通过软件对小角X射线散射仪获取的数据进行分析和拟合，从而得到样品的孔径分布规律。相较于传统的气体吸脱附仪，在对样品进行处理时，不需将温度设定在100℃以上，这样避免出现对于受热易挥发的固体样品不能测试的情况。

公开(公告)号：CN113533397B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202110744044.5

申请日：2021-07-01

申请人： 上海大学

发明人： 吕文来 ,  陈飞 ,  冯振杰 ,  葛军饴 ,  张金仓

IPC分类号： G01N23/20058 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20033

摘要： 本发明提供了一种原位研究二维材料低温晶体结构的装置及方法。包括低温控制系统、RHEED系统、衬底台、衬底台升降器、中空Z轴驱动器、真空系统。通过调节衬底台与换热装置的相对距离在低温和高温两种工作模式间进行切换。低温工作模式：衬底台背面和换热装置底端完全接触，适于二维材料的低温晶体结构测试和低熔点金属薄膜制备；高温工作模式：换热装置远离衬底台，高真空环境保证了极小的气体对流漏热。本发明在RHEED系统中集成低温控制系统，为二维材料的晶体结构测试提供了低温环境。其中，本发明的有益效果是：结构简单，操作方便，适合原位二维材料的低温晶体结构分析且不破坏样品结构。