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公开(公告)号：CN102497952A
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN201080041830.9
申请日：2010-07-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克
IPC分类号： B23K26/04
CPC分类号： B23K26/046
摘要： 本发明涉及通过工作激光束(108)处理工件的激光处理头(100)，具有：具有在束路径中布置在其前方的成像透镜系统(116)的相机(102)，用于观察由工作激光束(108)处理的工件的处理区域；用于将工作激光束(108)聚焦至工件表面(104)上或者聚焦至相对于工件表面(104)而定义的位置的聚焦透镜系统(114)；以及设计为通过成像透镜系统(116)在光轴方向上的调整行程(ΔdKL)来计算校正调整行程(ΔzOS，ΔzB)，以在聚焦透镜系统(114)的焦点偏移时重新聚焦图像的评估单元(122)，该校正调整行程补偿聚焦透镜系统(114)相对于工件表面(104)或相对于工件表面(104)而定义的位置的焦点偏移。
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公开(公告)号：CN102292187A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN200980155381.8
申请日：2009-11-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克格南特韦斯博格
摘要： 本发明涉及一种用于监控要在工件上实施的激光加工过程的方法，具有下面的步骤：借助监视激光加工过程的至少一个传感器检测至少两个当前测量值，根据所述至少两个当前测量值求得至少两个当前特性值，其中，所述至少两个当前特性值共同描述特性值空间中的一当前鉴别特征，提供特性值空间中的一预确定的点集，通过检测当前鉴别特征相对于特性值空间中的该预给定的点集的位置来对激光加工过程分类。
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公开(公告)号：CN102281984B
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN200980147217.2
申请日：2009-11-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克格南特韦斯博格
摘要： 本发明涉及一种用于监视要在工件上实施的激光加工过程的方法，具有下面的步骤：借助至少一个监视激光加工过程的传感器检测至少两个当前测量值，根据所述至少两个当前测量值求得至少两个当前特性值，其中，所述至少两个当前特性值共同描述特性值空间中的一当前指纹，提供特性值空间中的一预确定的点集，通过检测当前指纹相对于特性值空间中的该预给定的点集的位置来对激光加工过程分类。
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公开(公告)号：CN102281984A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN200980147217.2
申请日：2009-11-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克格南特韦斯博格
摘要： 本发明涉及一种用于监视要在工件上实施的激光加工过程的方法，具有下面的步骤：借助至少一个监视激光加工过程的传感器检测至少两个当前测量值，根据所述至少两个当前测量值求得至少两个当前特性值，其中，所述至少两个当前特性值共同描述特性值空间中的一当前指纹，提供特性值空间中的一预确定的点集，通过检测当前指纹相对于特性值空间中的该预给定的点集的位置来对激光加工过程分类。
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公开(公告)号：CN102292187B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN200980155381.8
申请日：2009-11-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克格南特韦斯博格
摘要： 本发明涉及一种用于监控要在工件上实施的激光加工过程的方法，具有下面的步骤：借助监视激光加工过程的至少一个传感器检测至少两个当前测量值，根据所述至少两个当前测量值求得至少两个当前特性值，其中，所述至少两个当前特性值共同描述特性值空间中的一当前鉴别特征，提供特性值空间中的一预确定的点集，通过检测当前鉴别特征相对于特性值空间中的该预给定的点集的位置来对激光加工过程分类。
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公开(公告)号：CN102497952B
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201080041830.9
申请日：2010-07-20
申请人： 普雷茨特两合公司 , 普雷茨特ITM有限公司
发明人： I·施托克
IPC分类号： B23K26/046
CPC分类号： B23K26/046
摘要： 本发明涉及通过工作激光束(108)处理工件的激光处理头(100)，具有：具有在束路径中布置在其前方的成像透镜系统(116)的相机(102)，用于观察由工作激光束(108)处理的工件的处理区域；用于将工作激光束(108)聚焦至工件表面(104)上或者聚焦至相对于工件表面(104)而定义的位置的聚焦透镜系统(114)；以及设计为通过成像透镜系统(116)在光轴方向上的调整行程(ΔdKL)来计算校正调整行程(ΔzOS，ΔzB)，以在聚焦透镜系统(114)的焦点偏移时重新聚焦图像的评估单元(122)，该校正调整行程补偿聚焦透镜系统(114)相对于工件表面(104)或相对于工件表面(104)而定义的位置的焦点偏移。
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