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公开(公告)号：CN1349100A
公开(公告)日：2002-05-15
申请号：CN01135783.5
申请日：2001-10-16
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 为了在板检测时所占有的空间中更换显示板或电路板、以消除通常更换时所必需的侧部空间并减小显示板或电路板的检测装置,提供一种显示板或电路板检测装置,其中探测块B的检测终端4与显示板或电路板P的电极垫3压接触,其中探测器支撑框架2是可扩大和缩小的结构,探测块支撑框架扩大和板支撑框架相对前进、使显示板或电路板P通过扩大的探测器支撑框架2的开口部分16突出到探测块B终端4远端的前方,从而可更换板支撑框架1上的显示板或电路板P。
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公开(公告)号：CN1393696A
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：CN02124859.1
申请日：2002-06-21
Applicant: 株式会社双晶技术
CPC classification number: G01R1/06705
Abstract: 本发明提供了一种检测器，其中，支承传导块和附加压力传递弹性体的导线部分实现了良好的可回弹移动操作，在传导块和外部接触点之间产生摩擦接触作用，从而将传导块和外部接触点完全地按压接触起来。一种检测器的按压接触结构，包括一个绝缘镀层1和在该绝缘镀层1上的表面上以阵列形式排布的许多导线2，每根导线2的一端上形成有一个按压接触传导块3，一个悬臂梁倾斜端部分7通过向上推起每根导线2的一端和绝缘镀层1的一端，导线2的该端放置在绝缘镀层的该端上，以及通过一个附加压力传递弹性体4而形成，传导块3支承在带有附加压力传递弹性体4的悬臂梁倾斜端部分7上，悬臂梁倾斜端部分7在挤压附加压力传递弹性体4的同时向减少其倾斜角的方向移动，当传导块3与电子零件的外部接触点按压接触时，通过附加压力传递弹性体4的回复力可以获得一个传导块3相对于外部接触点的按压接触力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1355436A
公开(公告)日：2002-06-26
申请号：CN01137825.5
申请日：2001-11-08
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R1/07364
Abstract: 本发明提供一种上面平行安装有检测探头组件的装置,其中多个检测探头组件通过滑动件插入导轨中和从其中移去,以便可以装载或更换探头组件。各探头组件沿导轨滑动以便在导轨的延伸长度内进行位置调节。通过在支承基座上插入和拆下不同的探头组件,可以仅采用一种公共支承基座,并可进行位置调节。上面平行安装有检测探头组件的装置包括:一个支承基座1和各具有多个组件2并平行设置于支承基座1上的多个检测探头组件3,各检测探头组件3的探头2与显示板或接线电路板4的电极5接触,以进行检测,其中导轨7设置于支承基座1上,检测探头组件3通过滑动件8可滑动地安装到导轨7上,各检测探头组件3在预定的滑动位置被固定到支承基座1上。
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公开(公告)号：CN1188733C
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN01132880.0
申请日：2001-09-12
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
IPC: G02F1/1333
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 在一种试验装置中，提供了一种用于显示板或能与不同尺寸的显示板一致的探测器块的支撑框架，通过移动支撑显示板的框架(1)或移动装有探测器块的框架(1)的框架件(2、3、4、5)，可以扩大和缩小由相应支撑框架(1)限定的开口(或空间)。
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公开(公告)号：CN1145066C
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN00117970.5
申请日：2000-06-06
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
Inventor： 奥野敏雄
IPC: G02F1/1333 , G01R31/28
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/06705 , G01R31/2887 , G02F1/1309
Abstract: 一个平板显示器或一个测试探针块的一种矩形支撑框架，包括：一个上横向框板，一个下横向框板，左纵向框板，和右纵向框板，其能相对于下横向框板单独沿横向移动，并能随上横向框板的水平运动而横向移动，上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个由上、下横向框板和左、右纵向框板限定的窗口，平板显示器或探针块支撑在上、下横向框板和左、右纵向框板上，框板面对增大或缩小的窗口，其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。
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公开(公告)号：CN1343901A
公开(公告)日：2002-04-10
申请号：CN01132880.0
申请日：2001-09-12
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
IPC: G02F1/1333
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 在一种试验装置中,提供了一种用于显示板或能与不同尺寸的显示板一致的探测器块的支撑框架,通过移动支撑显示板的框架1或移动装有探测器块的框架1的框架件2、3、4、5,可以扩大和缩小由相应支撑框架1限定的开口(或空间)。
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公开(公告)号：CN1291728A
公开(公告)日：2001-04-18
申请号：CN00117970.5
申请日：2000-06-06
Applicant: 株式会社双晶技术 , 株式会社阿迪泰克工程
Inventor： 奥野敏雄
IPC: G02F1/1333 , G01R31/28
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/06705 , G01R31/2887 , G02F1/1309
Abstract: 一个平板显示器或一个测试探针块的一种矩形支撑框架,包括:一个上横向框板,一个下横向框板,左纵向框板,和右纵向框板,其能相对于下横向框板单独沿横向移动,并能随上横向框板的水平运动而横向移动,上、下横向框板和左、右纵向框板的纵向运动和横向运动增大或缩小了一个由上、下横向框板和左、右纵向框板限定的窗口,平板显示器或探针块支撑在上、下横向框板和左、右纵向框板上,框板面对增大或缩小的窗口,其中探针块受压与布置在平板显示器一个周边部分的电极贴片接触。
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