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公开(公告)号：CN105204602B
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201510557148.X
申请日：2015-09-02
申请人： 上海兆芯集成电路有限公司
IPC分类号： G06F1/28
CPC分类号： G06F1/3206 , G01K13/00 , G06F1/3296 , H02M3/04 , H03L1/022 , Y02D10/172
摘要： 一种电源控制装置，用以产生并控制一供应电压。电源控制装置包括可变延迟链、取样电路、比较电路以及电源管理器。可变延迟链具有延迟长度。可变延迟链接收初始信号，且根据延迟长度来对初始信号进行延迟操作以产生延迟信号。取样电路接收延迟信号，且对延迟信号进行取样以产生取样信号。比较电路接收取样信号，且对取样信号以及参考信号进行比较以产生比较结果信号。电源管理器接收比较结果信号，且根据比较结果信号来调整供应电压。本发明能够减少能耗。
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公开(公告)号：CN112345924A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011188517.X
申请日：2020-10-30
申请人： 上海兆芯集成电路有限公司
IPC分类号： G01R31/3185
摘要： 本发明提供一种扫描链控制电路，包括：通过测试电路板上的接口进行芯片测试而不需要通过引线端外接引线进行测试，当上述扫描链控制电路在管脚移位时钟的作用下时，该扫描链控制电路将管脚输入数据输入至扫描链测试电路并在进行测试后将测试完成的测试数据输出；当上述扫描链控制电路在寄存器移位时钟信号的作用下时，该扫描链控制电路将寄存器输入数据输入至扫描链测试电路进行测试后将测试完成的测试数据输出。本发明能够实现扫描链测试电路的测试数据输入/输出控制，提高测试灵活性之外，亦可在测试管脚不易外露或接触不良时仍得以测试芯片是否能正确运作。
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公开(公告)号：CN105204602A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510557148.X
申请日：2015-09-02
申请人： 上海兆芯集成电路有限公司
IPC分类号： G06F1/28
CPC分类号： G06F1/3206 , G01K13/00 , G06F1/3296 , H02M3/04 , H03L1/022 , Y02D10/172
摘要： 一种电源控制装置，用以产生并控制一供应电压。电源控制装置包括可变延迟链、取样电路、比较电路以及电源管理器。可变延迟链具有延迟长度。可变延迟链接收初始信号，且根据延迟长度来对初始信号进行延迟操作以产生延迟信号。取样电路接收延迟信号，且对延迟信号进行取样以产生取样信号。比较电路接收取样信号，且对取样信号以及参考信号进行比较以产生比较结果信号。电源管理器接收比较结果信号，且根据比较结果信号来调整供应电压。本发明能够减少能耗。
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公开(公告)号：CN112345925A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011192678.6
申请日：2020-10-30
申请人： 上海兆芯集成电路有限公司
IPC分类号： G01R31/3185
摘要： 本发明提供一种扫描链控制电路，包括：一寄存器控制器，输出一使能时钟信号及一寄存器输入数据，并传送上述寄存器输入数据至一扫描链测试电路；一时钟控制器耦接至上述寄存器控制器，接收来自上述寄存器控制器传送的上述使能时钟信号，并输出一移位时钟信号控制上述寄存器输入数据在上述扫描链测试电路中移位；一模式控制器耦接至上述寄存器控制器，接收来自上述寄存器控制器传送的上述使能时钟信号，并输出一模式测试时钟信号及一模式扫描使能时钟信号控制上述寄存器输入数据的输出。本发明能够实现扫描链测试电路的测试数据输入/输出控制，提高测试灵活性之外，亦可在测试管脚不易外露或接触不良时仍得以测试芯片是否能正确运作。
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公开(公告)号：CN108710554A
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201810489793.6
申请日：2018-05-21
申请人： 上海兆芯集成电路有限公司
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G06F11/2236 , G06F11/2273
摘要： 本发明提供一种处理器侦错系统及方法，该侦错系统包括：一除错器，具有一侦错识别码、以及可对一处理器进行测试的一至多个操作功能物件；一接口装置；以及一测试者端装置，通过上述接口装置连接上述除错器，用以控制上述除错器对上述处理器进行测试。上述测试者端装置撷取上述侦错识别码以判定上述除错器是否符合其测试的需求，若符合，则控制上述除错器以上述操作功能物件对上述处理器进行测试。本发明可满足处理器的调试需求。
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