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公开(公告)号：CN113406421A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110680635.0
申请日：2021-06-18
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 本申请提供一种耐久老化加载测试系统及方法，所述系统包括加载测试柜和高温试验箱，其中：待测产品放置于所述高温试验箱中，以通过所述高温试验箱控制所述待测产品的环境温度；所述加载测试柜上的负载端口输出的负载值可被调节；所述待测产品与所述加载测试柜上的所述负载端口电性相连，以通过所述负载端口输出的负载值对所述待测产品进行带载控制。本发明提供的技术方案，能够提高耐久老化测试的效率，进而极大地缩短测试周期。
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公开(公告)号：CN112054860B
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202010972083.6
申请日：2020-09-15
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本发明提供了射频故障复现方法和系统，应用于客户端，包括：将第一控制指令信息发送给故障设备的通讯模块，以使通讯模块根据第一控制指令信息以最大功率输出第一电磁波信号；判断故障设备是否故障复现；如果故障设备没有故障复现，则在故障设备处于不同工况条件下，将第二控制指令信息发送给故障设备的通讯模块，以使通讯模块根据第二控制指令信息以最大功率输出第二电磁波信号，重复执行以上处理，直至故障设备出现故障复现，通过模拟故障设备在不同工况条件下的干扰情况，从而达到故障复现的目的。
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公开(公告)号：CN112054860A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010972083.6
申请日：2020-09-15
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本发明提供了射频故障复现方法和系统，应用于客户端，包括：将第一控制指令信息发送给故障设备的通讯模块，以使通讯模块根据第一控制指令信息以最大功率输出第一电磁波信号；判断故障设备是否故障复现；如果故障设备没有故障复现，则在故障设备处于不同工况条件下，将第二控制指令信息发送给故障设备的通讯模块，以使通讯模块根据第二控制指令信息以最大功率输出第二电磁波信号，重复执行以上处理，直至故障设备出现故障复现，通过模拟故障设备在不同工况条件下的干扰情况，从而达到故障复现的目的。
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公开(公告)号：CN113359580A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110779111.7
申请日：2021-07-09
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 本发明公开了CAN总线测试系统，包括：上位机、分析仪、电控单元、可调电源以及温控箱；上位机用于将控制指令发送至分析仪；分析仪用于根据控制指令发送第一通信报文给CAN总线进行传输；可调电源用于控制电控单元的供电电压；电控单元用于在可调电源输出的供电电压下发送第二通信报文给CAN总线进行传输；温控箱用于控制CAN总线所处的环境温度。本发明通过CAN总线压力测试与环境测试相结合，提高了CAN总线测试覆盖实际工况的程度，测试全面。
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公开(公告)号：CN111490836A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202010527527.5
申请日：2020-06-10
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
IPC分类号： H04B17/345 , H04W24/08
摘要： 本申请提供一种射频信号干扰测试系统及方法，涉及通信技术领域。该系统包括：屏蔽箱、待测设备和控制终端；其中，待测设备包括：射频通讯模块、处理器和至少一个待测电路，处理器与每个待测电路连接；射频通讯模块与控制终端通信连接，用以接收控制终端发送的控制指令；处理还与控制终端通信连接，控制终端获取处理器对待测电路的输出信号进行转换处理后生成的机器码，根据机器码判定待测电路是否耐受射频信号干扰。在该系统中，通过控制终端获取处理器对待测电路的输出信号进行转换处理后生成的机器码，来判定待测电路是否耐受射频信号的干扰，使得可以简单快速的定位到待测电路中设计薄弱的电路模块，提高了射频信号干扰测试的效率。
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公开(公告)号：CN111614412B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202010435685.8
申请日：2020-05-21
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本申请提供了一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，其中，所述射频测试方法包括：向待测终端内部的采样电路输入测试电压；在测试电压作用下，监测采样电路在射频测试过程中所输出的电压波形；基于电压波形，检测采样电路是否受到射频干扰；在确定采样电路未受到射频干扰的情况下，测试待测终端的射频参数，并基于射频参数，确定待测终端的射频性能。这样，通过输入测试电压的方式进行测试，在射频测试过程中可以确保待测终端内部的采样电路不受到射频干扰，使测试结果能够准确地反映待测终端的射频性能，从而为待测终端的后续优化提供方向和理论依据。
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公开(公告)号：CN111614412A
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN202010435685.8
申请日：2020-05-21
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本申请提供了一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，其中，所述射频测试方法包括：向待测终端内部的采样电路输入测试电压；在测试电压作用下，监测采样电路在射频测试过程中所输出的电压波形；基于电压波形，检测采样电路是否受到射频干扰；在确定采样电路未受到射频干扰的情况下，测试待测终端的射频参数，并基于射频参数，确定待测终端的射频性能。这样，通过输入测试电压的方式进行测试，在射频测试过程中可以确保待测终端内部的采样电路不受到射频干扰，使测试结果能够准确地反映待测终端的射频性能，从而为待测终端的后续优化提供方向和理论依据。
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公开(公告)号：CN111967105B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202010833775.2
申请日：2020-08-18
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种共振消除方法、装置、可读存储介质及电子设备，所述方法包括，首先针对目标产品的每个待检测位置，分别获取该待检测位置在预设频率范围内不同频率下的振动幅值；接着判断所有待检测位置在所述预设频率范围内是否存在共振点，其中，所述共振点为所述待检测位置的响应曲线中，极大值超过幅值阈值处；然后在存在所述共振点时，根据所有待检测位置的所述共振点对应的共振频率，重新确定所述目标产品的各个部件的共振属性参数，以消除所述目标产品中各个待检测位置在所述预设频率范围内的共振点，其中，所述共振属性参数为影响部件共振频率的参数。本申请的方案，能够提高减小产品的共振，提高产品质量。
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公开(公告)号：CN114490143A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210045005.0
申请日：2022-01-14
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本发明提供一种循环开关机压力测试方法、装置及系统，该方法包括：接收循环开关机压力测试的控制参数和至少一组供电参数；在预设测试环境下，基于所述控制参数和所述至少一组供电参数，控制待测显示设备循环开关机；其中，所述预设测试环境是基于至少一组预设环境参数设置得到的；基于所述待测显示设备循环开关机过程中的图像信息，获取所述待测显示设备的开关机压力测试结果。本发明实现了不同工况下对显示设备异常的全面测试，有效保证了测试结果的有效性。
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公开(公告)号：CN111967105A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010833775.2
申请日：2020-08-18
申请人： 上海华兴数字科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种共振消除方法、装置、可读存储介质及电子设备，所述方法包括，首先针对目标产品的每个待检测位置，分别获取该待检测位置在预设频率范围内不同频率下的振动幅值；接着判断所有待检测位置在所述预设频率范围内是否存在共振点，其中，所述共振点为所述待检测位置的响应曲线中，极大值超过幅值阈值处；然后在存在所述共振点时，根据所有待检测位置的所述共振点对应的共振频率，重新确定所述目标产品的各个部件的共振属性参数，以消除所述目标产品中各个待检测位置在所述预设频率范围内的共振点，其中，所述共振属性参数为影响部件共振频率的参数。本申请的方案，能够提高减小产品的共振，提高产品质量。
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