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公开(公告)号：CN118068170A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410172570.2
申请日：2024-02-07
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明涉及芯片测试技术领域，具体地说是一种新型的并行测试系统与方法，包括测试控制器、设备搭载系统、数据处理系统、校准系统和多个通过探针卡与设备连接的测试头，本发明通过增加了多套并行的测试头，配合测试控制器对各测试头的高精度同步指令，实现了多个测试步骤的同步进行，极大提高了测试效率，无需额外增加其他部件压力和成本，因此其直接提高了测试的效率，根据测试步骤的时间可设置效率最大化，也间接降低了测试的成本。
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公开(公告)号：CN117974110A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410172099.7
申请日：2024-02-07
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G06Q10/20 , G06F18/20 , G06F18/2433
摘要： 本发明涉及设备维护技术领域，具体地说是一种新型的设备智能预测性维护方法，通过智能状态监控传感器收集正常状况和故障状况的数据，对收集的数据进行预处理并进行数据格式的转换和分析，提取状态指示器，状态提示器用于区分正常状况和故障状况，提取的状态训练机器学习模型，通过分析历史数据来预测设备或系统在未来的行为，预测设备是否异常，是否即将发生故障，本发明通过智能状态监控传感器作为数据记录器，收集和预处理设备内的数据，通过AI预测模型分析设备的运行数据预测故障，预测模型包括统计监测，将测得的数据与设备健康运行状态参数进行比较，从而判断否即将发生故障，并将预测结果反馈给维护团队制定维护策略并及时调整。
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公开(公告)号：CN114252666A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202210049197.2
申请日：2022-01-17
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本公开提供了一种获取探针卡上测试针位置分布的方法，包括：响应于启动指令，启动晶圆测试台里的摄像装置拍摄探针卡的照片；根据所述探针卡的照片识别出所述探针卡上的探针站点，获得探针站点分布图；以及在所述站点分布图中设置参考站点，并以所述参考站点为坐标原点，建立XY坐标系，获取各个探针站点在所述XY坐标系的坐标值，将所述坐标值作为所述测试针的位置分布参数。利用本公开提供的方法可以准确获取探针卡上探针的位置。
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公开(公告)号：CN116593496A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310441946.0
申请日：2023-04-23
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01N21/956 , G01N21/01
摘要： 本公开提供了一种电路板检测系统及方法，检测系统包括：发射器，其用于向待测电路板发射激光；接收器用于接收经过待测电路板的反射激光；建模装置用于基于反射激光构建待测电路模型，待测电路模型中带有坐标系，通过坐标系确定电子元件的位置；对比装置用于对待测电路模型与标准电路模型进行对比，得到检测结果。本公开提供的电路板检测系统通过发射器发射激光对待测电路板进行扫描并接收反射激光，可以准确的掌握待测电路板的数据，再通过与标准电路模型进行对比完成检测。采用本公开的检测系统对电路板进行检测可以大量减少手工检测的时间，也不会在焊点与电子元件上留下痕迹，避免造成松脱或焊接不良的元件引脚，避免了对电子元件的损伤。
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公开(公告)号：CN115902593A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202310065093.5
申请日：2023-01-13
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明提供一种芯片测试装置及测试方法，通过光控开关单元在芯片的测试结束时控制测试机台的电源断开，如此，可以在芯片测试结束时，及时的使测试机台的电源断开，由此避免在测试机台未断电的情况下取出芯片，从而避免损伤芯片或者机台。以及，通过计时单元在芯片的测试结束时记录芯片的测试时间，并通过报警单元在芯片的测试时间小于或者大于预设测试时间时发出报警，如此，在芯片的测试时间未达到预设测试时间或者超出预设时间时能够及时提醒，从而能够及时发现异常，避免损坏芯片或者测试机台，提高了芯片和机台的安全稳定性。
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