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公开(公告)号：CN112731116B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202110011814.5
申请日：2021-01-06
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种控制针卡在线复用增减针的方法，包括基准水平固定结构及可调整的活动结构；基准水平固定结构，为所有针的底面，为基准水平面，固定在针卡电路板上，保证所有针接触pad时在一致的水平面，避免针因水平不一引起的pad扎针深浅的问题，该基准水平固定结构带螺纹；可调整活动结构，需要增减的问题针，放置在这个结构上，该结构带螺纹；本发明提供的一种控制针卡在线复用增减针的方法，可应用于上述提及的集成电路测试。该方法可大大避免因特定的集成电路设计，导致的针卡扎熔丝结构pad导致基准电压测试异常，从而需要分两张针卡进行测试的成本问题。
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公开(公告)号：CN109848798B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201811472063.1
申请日：2018-12-04
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法及装置，将放置磨针单元的底座设计成抽屉式柱状体，抽屉式柱状体最外圈除了正前方那面，其余三面用铁板固定起来，垂直于底座，在铁板中间用隔板将中间区域等分出来，用于放置磨针单元，在底座上用一个可旋转的铁棒来固定所有磨针单元；本发明提供的一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法及装置，通过对探针台放置cleaning unit的底座结构进行改造，做成抽屉式柱状体，来达到可以存放多个cleaning unit的目的，多个cleaning unit上可以放置不同的砂纸类型，方便随时更换进行实验对比。
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公开(公告)号：CN104597392B
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201510012571.1
申请日：2015-01-09
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了一种测试数据深度溯源的方法，包括以下步骤：实时的从服务器上获取与被测产品相关的信息；通过正则表达式读取从所述服务器上获取的所述信息，并将所述信息里的关键信息分类存储，并绘制良率图；根据所述良率图获取所述被测产品的良率、失效分布状况、所述被测产品上失效芯片的具体失效信息以及所述被测产品上测试通过测试的芯片的具体信息。通过正则表达式对所述被测产品相关的关键信息进行分类存储，并绘制良率图，工程师可以根据良率图很直观的看出所述被测产品的良率及失效分布状况；可以获取所述被测产品上失效芯片的具体失效信息，提高失效分析的效率；还可以获取通过测试的芯片的具体测试信息，提高正常的数据分析效率。
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公开(公告)号：CN107368100A
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201710493534.6
申请日：2017-06-26
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种调整悬臂探针卡针迹的方法，探针尾部通过铜线与探针卡板焊点焊接在一起，焊点和测试机的通道资源相连，针尖与晶圆芯片上的管脚接触进行测试，绝缘网格固定装置与探针卡板固定，针臂上有一凸出矩形，将矩形切入网格固定装置中网格中，以此来固定探针；当需要调整针迹时，打开网格固定装置上面的盖板，根据探针台给出的实际扎出的针迹来判断调整方向，借助放大镜，记住原来的网格具体位置，然后将网格固定装置中网格往需要调整的方向调整，再将针臂上矩形切入到调整后的网格里，重新盖上盖板，完成调整。网格固定装置来替换悬臂探针卡的环氧树脂部分，来达到精确调整针迹的目的，降低了操作的难度性，节省了时间和成本，提高了效率。
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公开(公告)号：CN106370992A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610675934.4
申请日：2016-08-17
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2601
摘要： 本发明提供了一种用于半导体芯片测试的UID写入系统，包括彼此连接的半导体芯片、自动测试设备和片上系统，所述片上系统包含所述半导体芯片的UID信息；所述自动测试设备控制所述片上系统对所述半导体芯片写入UID信息。本发明还相应地提供用于半导体芯片测试的UID写入方法，在自动测试设备和被测芯片之间增加一块片上系统，通过USB或者串口方式来控制并传输UID数据，由于USB或串口通信的时间相比ATE动态修改向量的时间几乎可以忽略不计，因此该方法极大的提高了写入/读取UID的速度。
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公开(公告)号：CN104316731A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410597407.7
申请日：2014-10-29
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明提供一种芯片测试板及芯片测试系统，其中芯片测试板包括：由第一横杆、第二横杆、第三横杆、第四横杆依次垂直连接而成的固定框架，及至少一个与所述固定框架可拆卸式连接的PCB板，使所述PCB板在所述固定框架中选择性放置。至少一个PCB板可拆卸式连接于所述固定框架，根据不同器件的测试需要，设计相应大小的PCB板，还可以根据实际需要选择不同数量的PCB板，将多个PCB板组合使用，共享测试资源，实现资源复用，减小单块PCB板的制作面积，降低成本，所述PCB板在所述固定框架中选择性放置，合理利用测试机台上的资源。所述PCB板与所述固定框架之间安装、拆卸简单，操作方便。
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公开(公告)号：CN101908112B
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201010241690.1
申请日：2010-07-30
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G06F21/57
摘要： 本发明揭示了一种安全芯片的测试方法与系统，利用移位寄存器将芯片内的随机数实时取出进行寄存，而后独立对移位寄存器内所存储的随机数进行加解密操作。从而，大大简化了芯片测试平台的设计要求，降低了测试成本。另外，移位寄存器可以自动将随机数进行实时完整的寄存，保证了测试实时性的要求，提高了安全芯片测试的可操作性与测试效率。以上方法包括：从安全芯片的接口读取其送出的随机数；将所述随机数通过移位寄存器后进行加密或解密；将所述加密或解密的结果送到所述安全芯片接口；所述安全芯片对所述加密或解密的结果与其自身的处理结果进行比对，比对结果一致，则通过身份确认，对所述安全芯片进行测试。
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公开(公告)号：CN102738011A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210236892.6
申请日：2012-07-09
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种芯片引脚调整装置，包括：一个底座，用于承载至少一个具有本体和引脚的芯片；至少一个卡槽，位于所述底座上表面，所述芯片的本体卡扣于所述卡槽内，所述芯片的引脚跨过所述卡槽向外延伸；多个栅栏，位于所述底座上表面且位于所述卡槽外侧，且每个栅栏的空隙用于放置所述芯片的引脚。本发明的调整装置采用底座上的卡槽卡扣芯片的本体以及底座上与芯片的引脚相对应的栅栏将左右偏移的引脚调整到栅栏的合适空隙中，有效避免调整时芯片引脚易断问题，并缩短调整时间，降低劳动强度，提高调整效率。
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公开(公告)号：CN102707219A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210206597.6
申请日：2012-06-21
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明涉及一种用于半导体器件测试的测试装置，所述半导体器件的下表面设有多个连接点，所述用于半导体器件测试的测试装置包括：一上表面设有多个连接点的测试板，一用于夹持所述待测半导体器件的测试夹具以及一位于所述待测半导体器件与所述测试板之间并连接所述待测半导体器件的连接点与所述测试板的连接点的导电栅格，通过导电栅格增大了所述待测半导体器件的连接点与所述测试板的连接点的接触率，从而提高测试准确性。
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公开(公告)号：CN114264930A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111523044.9
申请日：2021-12-13
申请人： 上海华岭集成电路技术股份有限公司
摘要： 本发明提供了一种芯片筛选测试的方法，包括：建立芯片测试的智能学习模型；将每个所述芯片的待测试参数进行分类，并将所述待测试参数按照分类号依次排列；按照排列好的顺序依次测试所述待测试参数，将测试结果使用智能学习模型进行处理，预测各个待测试参数失效的概率，将概率最大的待测试参数的分类号提到排列顺序的前列，以使得概率最大的待测试参数优先测试。本发明通过智能学习模型将目前已经测试的待测试参数的测试结果经过处理输出待测试参数的失效率，将失效率大的测试参数提到前列，在之后的测试过程中优先测试，可以减少芯片的测试时间，提高芯片的测试效率。
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