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公开(公告)号:CN112951314A
公开(公告)日:2021-06-11
申请号:CN202110136085.6
申请日:2021-02-01
Applicant: 上海航天计算机技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于TSC695处理器的可加载型通用RAM自测试方法,包括以下步骤:编译生成低地址段的测试程序模块,编译生成高地址段的测试程序模块,低、高两部分测试模块连接生成加载程序,加载程序通过串口加载到RAM中运行,判断低地址段程序是否发生RAM异常和测试结束,运行低地址段测试模块测试高地址段RAM读写,将高地址段测试模块代码转存至高地址段,跳转至高地址段,判断高地址段测试程序是否发生RAM异常和测试结束和运行高地址段测试模块测试低地址段RAM读写。本发明解决了计算机验收测试时将测试程序加载到RAM上实现RAM自测试时测试难以全面覆盖的问题。
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公开(公告)号:CN117539440A
公开(公告)日:2024-02-09
申请号:CN202310944194.X
申请日:2023-07-28
Applicant: 上海航天计算机技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于BM501集成电路的航天器在轨编程方法,为实现在轨航天器单机CPU或FPGA在轨编程FLASH并动态刷新和启动,包括:接收在轨编程遥控包、设置BM501禁止刷新、判断在轨编程地址域是否擦除过、擦除指定扇区、将数据写入FLASH地址域、增量方式计算CRC校验和、判断是否最后一包、BM501复位、发送FLASH存储码流起始地址、发送FLASH存储码流结束地址、向BM501写入CRC码、判断芯片反馈的校验结果是否正确、BM501指令重配置和设置BM501允许刷新。本发明解决了数管分系统对载荷单机(含CPU、FPGA)大容量程序实现在轨编程及刷新的问题,取得了对基于FLASH存储器的航天器单机高可靠和高效率在轨编程的有益效果。
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公开(公告)号:CN112951314B
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202110136085.6
申请日:2021-02-01
Applicant: 上海航天计算机技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于TSC695处理器的可加载型通用RAM自测试方法,包括以下步骤:编译生成低地址段的测试程序模块,编译生成高地址段的测试程序模块,低、高两部分测试模块连接生成加载程序,加载程序通过串口加载到RAM中运行,判断低地址段程序是否发生RAM异常和测试结束,运行低地址段测试模块测试高地址段RAM读写,将高地址段测试模块代码转存至高地址段,跳转至高地址段,判断高地址段测试程序是否发生RAM异常和测试结束和运行高地址段测试模块测试低地址段RAM读写。本发明解决了计算机验收测试时将测试程序加载到RAM上实现RAM自测试时测试难以全面覆盖的问题。
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