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公开(公告)号：CN105678820A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610013575.6
申请日：2016-01-11
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
CPC classification number: G06T11/003 , G06T1/20
Abstract: 本发明公开了一种基于CUDA的S-BPF重建算法加速方法，克服了现有技术中，CT成像的图像重建算法时间长的问题。该发明含有如下步骤：步骤1：从硬盘上读取若干投影并在CPU中计算用于有限Hilbert逆变换的常数C；步骤2：将若干投影从内存传入显存并在GPU中实现求导-反投影，得到DBP图像；步骤3：对步骤2得到的DBP图像进行有限Hilbert逆变换并将结果从显存传回内存。本发明解决了重建算法的GPU加速已经取得了显著的加速效果，通信时延成为了限制现有加速策略的瓶颈。实验结果表明：本发明可获得的加速比约为现有策略的2倍。
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公开(公告)号：CN105205842A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510545646.2
申请日：2015-08-31
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明公开了一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法，克服了现有技术中，已有变电流投影融合技术中，人工选择融合阈值的缺陷问题。该发明具体步骤如下：（1）采集成像物体在各投影角度下不同电流的投影数据；（2）构造不同电流投影的灰度值-有效边缘梯度序列；（3）使用动态时间弯曲方法求解最佳融合阈值；（4）计算缩放因子；（5）投影图像融合；（6）CT图像重建。该发明方法能够避免人工选择融合阈值的主观性，有效扩展探测器的动态范围。探测器动态范围得到扩展后，实验对于探测器的成像需求得到降低，从而减少硬件成本。基于融合后投影的CT图像SNR优于传统人工选择固定阈值的融合方法。
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公开(公告)号：CN106204673B
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201610509259.8
申请日：2016-06-29
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于能谱滤波和图像残差重投影的CT图像金属伪影校正方法，首先根据初始射线能谱和能量相关的物质衰减系数变化率曲线计算得到滤光片厚度；并通过计算比较不同材料滤光片的有效高能射线透过率，确定最优滤光片；通过原始重建图像目标区域外杂散噪声提取和扣除，有效抑制原始图像中的散射伪影，提高图像对比度。本发明通过残差重投影方法在原始投影中去除散射噪声，不依赖结构复杂的探测器后准直器或散射校正板，也不需要成像物理等先验条件，能够去除原投影图像中大量的散射噪声，有效提高被检测目标内外轮廓的成像质量。
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公开(公告)号：CN107016655A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710201826.8
申请日：2017-03-30
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
CPC classification number: G06T5/006 , G06T7/0004 , G06T2207/10072 , G06T2207/30141 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明公开了一种锥束CL几何全参数迭代校正方法，克服了现有技术中，CL几何校正方法仅校正部分几何参数的缺陷。该发明含有如下步骤：确定CL系统几何参数中对CT几何参数校正方法的敏感参数；将敏感参数作为待求变量，根据CL实际系统与理想系统之间几何误差重新构建包含敏感参数的目标函数；用高斯‑牛顿算法对目标函数进行迭代求解。其中敏感参数为：射线源焦点坐标S(sx,sy,sz)、射线源焦点投影坐标P(px,0,pz)、转轴旋转角η和几何放大比t。本发明提出了一种适合锥束CL的几何标定算法，能求解系统所有的几何参数。仿真实验结果表明，具有收敛速度快、计算精度高。对射线源焦点投影纵坐标，射线源焦点坐标，几何放大比的求解精度均有提高。
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公开(公告)号：CN105374006A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510808472.4
申请日：2015-11-21
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于遗传算法的CT图像重建反投影加速方法，克服了现有技术中，利用CUDA加速CT重建反投影的实现方式存在访存带宽受限、自适应程度低等问题。该发明其在CUDA编程框架下，基于CUDA的反投影并行计算策略如下：（1）一次反投影核函数运算处理多个投影；（2）合理设计线程网格（grid）和线程块（block）的维度和顺序来保证全局存储器的合并访问；（3）使用常数存储器保存反投影中的常数；（4）使用纹理存储器实现双线性插值，减少算术指令的运算时间；（5）约简反投影运算中的相同因子。本发明不需要人为来识别，加速策略的自适应程度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105261048A
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201510577321.2
申请日：2015-09-11
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
CPC classification number: G06T2207/10081
Abstract: 本发明公开了一种小球中心锥束投影位置的精确定位方法，克服了现有技术中，几何定标方法采用小球投影的中心或质心近似代替中心投影，存在较大误差的问题。该发明含有以下步骤：（1）投影数据采集；（2）阈值分割；（3）椭圆拟合；（4）椭圆参数提取；（5）计算小球中心锥束投影位置m。本发明利用定标体模（小球）的投影特点，深度挖掘投影边缘的椭圆参数与系统几何参数之间的内在联系，经推导得到一种仅使投影边缘的椭圆参数描述中心投影的解析表达式。相比现有方法使用投影的中心或质心近似代替中心投影，可精确求解出中心投影位置。提高了中心投影的定位精度，可有效提高短扫描CT系统的几何定标精度。
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公开(公告)号：CN105787905B
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201610176008.2
申请日：2016-03-24
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法，克服了现有技术中，重建图像中有环状伪影残留问题。该发明含有以下步骤：步骤1、利用动态电流下探元响应与管电流是否满足线性关系，将探元分为坏点和响应不一致探元两类；步骤2、判断不同管电流下单个探元响应的增量是否为零，对第一类坏点进行检测；步骤3、计算每一个探元的输出响应与管电流的相关系数，利用相关性分析的方法对第二类坏点进行检测；步骤4、计算探元响应和管电流间的线性回归方程，以单个管电流下所有探元响应的均值为基准，计算探元的一致性校正参数矩阵。本发明解决了现有坏点检测方法阈值确定困难的问题，本发明方法对环状伪影校正效果较好，通用性较强。
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公开(公告)号：CN105205842B
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201510545646.2
申请日：2015-08-31
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明公开了一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法，克服了现有技术中，已有变电流投影融合技术中，人工选择融合阈值的缺陷问题。该发明具体步骤如下：（1）采集成像物体在各投影角度下不同电流的投影数据；（2）构造不同电流投影的灰度值‑有效边缘梯度序列；（3）使用动态时间弯曲方法求解最佳融合阈值；（4）计算缩放因子；（5）投影图像融合；（6）CT图像重建。该发明方法能够避免人工选择融合阈值的主观性，有效扩展探测器的动态范围。探测器动态范围得到扩展后，实验对于探测器的成像需求得到降低，从而减少硬件成本。基于融合后投影的CT图像SNR优于传统人工选择固定阈值的融合方法。
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公开(公告)号：CN105222730B
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201510545714.5
申请日：2015-08-31
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法，克服了现有技术中，一些工业CT几何尺寸测量方法仍需改进的问题。该发明具体步骤如下：（1）投影数据采集；（2）重建射束硬化校正后的CT图像；（3）计算二维PSF；（4）图像复原；（5）几何尺寸测量。与现有技术相比，本发明基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法具有以下优点：使用该发明方法复原后的CT图像，其模糊退化效应能得到有效抑制，并且能够获得更好的几何尺寸测量精度。
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公开(公告)号：CN107202805A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201710401166.8
申请日：2017-05-31
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
Abstract: 本发明涉及一种锥束CT散射伪影校正方法，特别是一种基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法，包括：对被测物进行CT扫描，得到投影数据；估算X射线的初始的光子数N0；利用初始光子数N0计算探测器上的光子数分布；计算X射线散射分布；从原始投影数据中扣除散射分布。本技术方案提出了一种新的卷积核，其中最关键的部分是散射核函数的求解，针对同材质均匀物体，分析X射线与物质相互作用的每个过程，并用数学公式加以描述，从而求得整个平面的散射分布。
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