一种基于延伸发光引物的实时定量PCR测定Kd值的方法

    公开(公告)号:CN113249449B

    公开(公告)日:2021-10-12

    申请号:CN202110718435.X

    申请日:2021-06-28

    IPC分类号: C12Q1/6851

    摘要: 本发明公开了一种基于延伸发光引物的实时定量PCR测定Kd值的方法。以展青霉素PAT为例,采用单一荧光基团标记,基于配体‑受体相互作用来测定PAT与截短核酸适配体之间的亲和常数Kd。本发明首次构建了基于延伸发光引物的实时定量PCR方法并应用于Kd值的检测,利用引物核酸构型的变化实现荧光信号的放大。本发明与已公布的Kd值测量方法比较结果证实本方法测得Kd值的有效性。依托本方法测定,本发明简单归纳出PAT适配体冗余序列截短导致的解离常数Kd值的变化规律。本发明极大地降低了普通Kd值测定方法的成本费用,并且易操作,可行性强,为适配体Kd值的测量提供了一个新的方法。

    一种基于裁剪和进化筛选的高亲和性副溶血性弧菌适配体

    公开(公告)号:CN116426531A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310381244.8

    申请日:2023-04-11

    摘要: 本发明公开了一种基于裁剪和进化筛选的高亲和性副溶血性弧菌适配体,包括:(1)基于裁剪得到的高结合性能的副溶血性弧菌短适配体;(2)适配体进化筛选方法;(3)基于进化筛选得到的高亲和力、高特异性的副溶血性弧菌适配体。首先基于截断、茎‑环裁剪和逐步缩短对适配体进行裁剪并利用qPCR进行结果验证,得到结合性能更优异的副溶血性弧菌短适配体序列;为了进一步提升适配体性能,将裁剪后的短适配体序列引入文库进行创新式进化筛选,得到高亲和性和特异性的副溶血性弧菌适配体。本发明的适配体在副溶血性弧菌快速检测方面具有潜在的应用前景。

    一种基于金纳米识别适配体冗余碱基的方法

    公开(公告)号:CN113252658B

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110716945.3

    申请日:2021-06-28

    摘要: 本发明公开了一种基于金纳米识别适配体冗余碱基的方法,以展青霉素PAT原始适配体链为例。其中PAT原始适配体序列是本申请人首次发现的PAT高亲和性核酸序列,在此基础上利用DNA结构预测软件mfold预测78‑mer的PAT适配体的二级结构,通过逐渐剔除侧翼碱基得到一系列截短适配体。然后,依据适配体与金纳米和靶标PAT之间的亲和力不同,通过在高盐条件下金纳米无核酸序列保护会发生聚沉伴随颜色变化,进而实现适配体冗余碱基的识别。同时结合定点突变和圆二色谱技术(CD)确定了PAT适配体的冗余碱基和核心序列。本申请利用AuNPs比色法具有肉眼可判定、不需要大型仪器设备的优势,可以扩展应用于其他的靶标适配体的截短研究。

    一种基于金纳米识别适配体冗余碱基的方法

    公开(公告)号:CN113252658A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110716945.3

    申请日:2021-06-28

    摘要: 本发明公开了一种基于金纳米识别适配体冗余碱基的方法,以展青霉素PAT原始适配体链为例。其中PAT原始适配体序列是本申请人首次发现的PAT高亲和性核酸序列,在此基础上利用DNA结构预测软件mfold预测78‑mer的PAT适配体的二级结构,通过逐渐剔除侧翼碱基得到一系列截短适配体。然后,依据适配体与金纳米和靶标PAT之间的亲和力不同,通过在高盐条件下金纳米无核酸序列保护会发生聚沉伴随颜色变化,进而实现适配体冗余碱基的识别。同时结合定点突变和圆二色谱技术(CD)确定了PAT适配体的冗余碱基和核心序列。本申请利用AuNPs比色法具有肉眼可判定、不需要大型仪器设备的优势,可以扩展应用于其他的靶标适配体的截短研究。

    一种基于延伸发光引物的实时定量PCR测定Kd值的方法

    公开(公告)号:CN113249449A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110718435.X

    申请日:2021-06-28

    IPC分类号: C12Q1/6851

    摘要: 本发明公开了一种基于延伸发光引物的实时定量PCR测定Kd值的方法。以展青霉素PAT为例,采用单一荧光基团标记,基于配体‑受体相互作用来测定PAT与截短核酸适配体之间的亲和常数Kd。本发明首次构建了基于延伸发光引物的实时定量PCR方法并应用于Kd值的检测,利用引物核酸构型的变化实现荧光信号的放大。本发明与已公布的Kd值测量方法比较结果证实本方法测得Kd值的有效性。依托本方法测定,本发明简单归纳出PAT适配体冗余序列截短导致的解离常数Kd值的变化规律。本发明极大地降低了普通Kd值测定方法的成本费用,并且易操作,可行性强,为适配体Kd值的测量提供了一个新的方法。