一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法

    公开(公告)号:CN103413338B

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201310205376.1

    申请日:2013-05-29

    IPC分类号: G06T11/00 G06T5/00 A61B6/03

    摘要: 本发明涉及图像处理领域,尤其涉及一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法。本发明针对现有技术中存在的问题,提供基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建算法,以减少CT重建时所需的投影数目,从而减少CT对人体的辐射剂量或CT扫描时间,适用于不完全投影数据CT图像重建问题。本发明通过建立CT扫描成像模型的投影矩阵形式,进而建立用于图像重建的优化模型;然后对图像重建的优化模型中的图像进行优化求解,得到重建数据;再建立广义变分最小化的图像修正模型,对重建模型的重建数据进行修正,获得修正后的重建图像;最后判断修正后的重建图像是否满足迭代停止准则等步骤实现,本发明应用于CT图像重建设计领域。

    一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置

    公开(公告)号:CN103017657A

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201210521497.2

    申请日:2012-12-07

    IPC分类号: G01B11/00 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及非接触尺寸测量领域,尤其是一种针对危险目标源尺寸光学测量方法及装置。本发明为了克服现有技术中针对危险目标源测量中存在危险性或不方便直接测量的问题,提供一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置,本方法及装置可以实现对危险目标源的远距离非接触式测量,大大降低对危险源尺寸测量的危险性或更为方便进行危险目标源间接测量,还可针对运动危险目标源进行测量,且测量精度较高,装置紧凑,可在野外作业。本发明通过光学测量装置测量L1、L2、D,处理得到实际危险目标源尺寸。本发明应用于非接触尺寸测量领域。

    一种同轴度光学检测方法及装置

    公开(公告)号:CN102997870A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210524925.7

    申请日:2012-12-10

    IPC分类号: G01B11/27

    摘要: 本发明涉及一种同轴度检测领域,尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点,本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法,该方法可以实现非接触测量,且测量精度较高。同时由计算机处理图像,检测快速,可大大提高圆杆的同轴度检测效率。本发明通过检测采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号得到θ1、θ2等参数计算基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数。本发明应用于同轴度检测领域。

    一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构

    公开(公告)号:CN114441568A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202210213109.8

    申请日:2022-03-04

    IPC分类号: G01N23/083

    摘要: 本发明公开了一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构,靶结构包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶,靶架包括背光部和加载部,背光丝靶设置于支撑板,支撑板设置于背光部,加载靶设置于加载部;背光丝靶指向加载靶,且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本方法与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比,利用背光丝靶结构代替针孔结构,可将背光源的尺寸约束至10~15μm,相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸,可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布,从而提高对材料动态破碎行为的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs~ns级别,高空间分辨能达到μm级别,且光子能量具有灵活可调的特点。

    一种同轴度光学检测方法及装置

    公开(公告)号:CN102997870B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201210524925.7

    申请日:2012-12-10

    IPC分类号: G01B11/27

    摘要: 本发明涉及一种同轴度检测领域,尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点,本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法,该方法可以实现非接触测量,且测量精度较高。同时由计算机处理图像,检测快速,可大大提高圆杆的同轴度检测效率。本发明通过检测采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号得到θ1、θ2等参数计算基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数。本发明应用于同轴度检测领域。

    一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置

    公开(公告)号:CN103017657B

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:CN201210521497.2

    申请日:2012-12-07

    IPC分类号: G01B11/00 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及非接触尺寸测量领域,尤其是一种针对危险目标源尺寸光学测量方法及装置。本发明为了克服现有技术中针对危险目标源测量中存在危险性或不方便直接测量的问题,提供一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置,本方法及装置可以实现对危险目标源的远距离非接触式测量,大大降低对危险源尺寸测量的危险性或更为方便进行危险目标源间接测量,还可针对运动危险目标源进行测量,且测量精度较高,装置紧凑,可在野外作业。本发明通过光学测量装置测量L1、L2、D,处理得到实际危险目标源尺寸。本发明应用于非接触尺寸测量领域。

    一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法

    公开(公告)号:CN103413338A

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201310205376.1

    申请日:2013-05-29

    IPC分类号: G06T11/00 G06T5/00 A61B6/03

    摘要: 本发明涉及图像处理领域,尤其涉及一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法。本发明针对现有技术中存在的问题,提供基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建算法,以减少CT重建时所需的投影数目,从而减少CT对人体的辐射剂量或CT扫描时间,适用于不完全投影数据CT图像重建问题。本发明通过建立CT扫描成像模型的投影矩阵形式,进而建立用于图像重建的优化模型;然后对图像重建的优化模型中的图像进行优化求解,得到重建数据;再建立广义变分最小化的图像修正模型,对重建模型的重建数据进行修正,获得修正后的重建图像;最后判断修正后的重建图像是否满足迭代停止准则等步骤实现,本发明应用于CT图像重建设计领域。

    一种用于激光加载材料动态破碎行为的X光成像的靶结构

    公开(公告)号:CN217033711U

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202220465782.6

    申请日:2022-03-04

    IPC分类号: G01N23/083

    摘要: 本实用新型公开了一种用于激光加载材料动态破碎行为的X光成像的靶结构,包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶,靶架包括背光部和加载部,背光丝靶设置于支撑板,支撑板设置于背光部,加载靶设置于加载部;背光丝靶指向加载靶,且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本实用新型与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比,利用背光丝靶结构代替针孔结构,可将背光源的尺寸约束至10~15μm,相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸,可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布,从而提高对材料动态破碎行位的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs~ns级别,高空间分辨能达到μm级别,且光子能量具有灵活可调的特点。

    直穿式抗辐照X光数字相机

    公开(公告)号:CN202886833U

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201220521591.3

    申请日:2012-10-12

    IPC分类号: G03B42/02 H04N5/32

    摘要: 本实用新型涉及一种X光数字相机,尤其是涉及一种直穿式抗辐照X光数字相机。一种直穿式抗辐照X光数字相机,包括闪烁体、第一成像镜头、相机外壳、第一镜头卡口、可见光数字相机、X光防护玻璃,所述闪烁体置于相机外壳内壁一侧,所述第一成像镜头通过第一镜头卡口与可见光数字相机连接并放置于相机外壳内壁另一侧,所述可见光数字相机置于相机外壳内壁侧,第一成像镜头置于闪烁体一侧,所述X光防护玻璃放置于闪烁体与第一成像镜头之间。本装置是针对现有技术中问题,提供一种使得本装置结构紧凑并且可用于能量范围较宽X光照相的数字相机,同时也可用于X光能量较高的X光照相机。本实用新型主要应用于X光数字相机设计领域。

    一种同轴度光学检测装置
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202994108U

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201220673302.1

    申请日:2012-12-10

    IPC分类号: G01B11/27

    摘要: 本实用新型涉及同轴度检测领域,尤其是一种同轴度光学检测装置。本实用新型所要解决的技术问题是:为了克服现有的圆杆同轴度采用接触式测量和测量精度较低的缺点,本实用新型提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测装置,该装置可以实现非接触测量,且测量精度较高。一种同轴度光学检测装置包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器,所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号,所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。本实用新型主要应用于同轴度检测领域。