一种冲击波获取装置、冲击波测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN114526856A

    公开(公告)日:2022-05-24

    申请号:CN202210169010.2

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本发明公开了一种冲击波获取装置、冲击波测试系统及测试方法,其中,冲击波获取装置包括两端开口的装配腔体,所述装配腔体的一端开口处固定设置有光学玻璃板,所述光学玻璃板远离所述装配腔体侧设置有应力发光片,且所述应力发光片远离所述光学玻璃板侧和所述装配腔体的外壁均设置有不透光的薄膜;所述装配腔体的另一端开口处固定设置有耦合光纤接头,且所述耦合光纤接头与所述光学玻璃板之间存在空隙。本发明的目的在于提供一种冲击波获取装置、冲击波测试系统及测试方法,在实现冲击波到达时间测试的同时,可以实现冲击波到达强度的测试,具备抗电磁干扰能力。

    激光辐照光学元件的损伤形貌变化瞬态诊断系统及方法

    公开(公告)号:CN118190776A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410461585.0

    申请日:2024-04-17

    Abstract: 本发明公开了激光辐照光学元件的损伤形貌变化瞬态诊断系统及方法,涉及激光损伤诊断技术领域,系统包括:激光器、光学快门、加载诊断光路、光学标准具和光学相机;激光器用于以特定频率发出脉冲激光;脉冲激光交替通过光学快门,经分束镜、反射镜等分成两束照射至待测光学表面,对光学元件造成持续间断的损伤,由光学相机记录下每次损伤的干涉图像,实现对损伤动态过程的瞬时记录,补充准确的损伤过程瞬态数据为损伤机理的准确研究提供了数据基础。

    一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构

    公开(公告)号:CN114441568A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202210213109.8

    申请日:2022-03-04

    Abstract: 本发明公开了一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构,靶结构包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶,靶架包括背光部和加载部,背光丝靶设置于支撑板,支撑板设置于背光部,加载靶设置于加载部;背光丝靶指向加载靶,且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本方法与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比,利用背光丝靶结构代替针孔结构,可将背光源的尺寸约束至10~15μm,相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸,可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布,从而提高对材料动态破碎行为的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs~ns级别,高空间分辨能达到μm级别,且光子能量具有灵活可调的特点。

    一种用于X射线的透镜制造方法以及透镜

    公开(公告)号:CN116417175A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310442930.1

    申请日:2023-04-23

    Abstract: 本发明涉及光学元器件,具体涉及一种用于X射线的透镜制造方法,还涉及一种透镜,包括以下步骤:选择中间层基底材料,将该基底材料制备为基片;进行镀膜,镀膜时选择不同材料依次逐层镀膜,以在基片两侧形成对称的逐层不同材料的膜层;完成镀膜后形成块体,沿平行于镀膜层或基片的平行面方向钻孔,使块体一侧形成弧面,形成弧面块体;将弧面块体的弧面进行打磨抛光,形成透镜。本发明在实现X射线折射聚焦的同时,通过引入不同折射率材料,形成复合材料透镜,采用本方法,通过圆形剖面实现X射线无球差聚焦,同时降低加工难度。

    一种瞬态连续温度的单点测量方法及系统

    公开(公告)号:CN114216566A

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202111614910.5

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种瞬态连续温度的单点测量方法及系统,该系统包括:光谱分光成像系统、条纹相机和计算机,所述光谱分光成像系统和条纹相机沿待测目标的辐射光传输的方向依次设置,所述计算机连接条纹相机,该方法包括光谱分光成像系统接收目标点发出的辐射光并色散成像至条纹相机的入射狭缝,条纹相机通过设置采集时间和扫描速度得到包含时间轴和光谱轴的二维数字图像传输至计算机;计算机通过标定的条纹相机探测器各像素对应的光谱和时间,通过已获取的数字图像的获得单点随时间变化的瞬态连续温度。本发明提供的方法及系统通过结合光谱分光成像系统和具有纳秒甚至皮秒时间分辨的条纹相机系统实现瞬态连续温度的单点测量。

    一种光栅的二维线密度测量方法及系统

    公开(公告)号:CN109738167A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910162265.4

    申请日:2019-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种光栅的二维线密度测量方法及系统,所述系统中,缩束准直器、一维π位相片、偏振分束镜、1/4波片、两块平面反射镜和电动二维平移台依次设置在激光发射器发射的激光的光路上;双平面反射镜设置在电动旋转台上;待测光栅放置在电动二维平移台上,激光经缩束准直器、一维π位相片、偏振分束镜、1/4波片和两块平面反射镜后照射到待测光栅表面;电动旋转台用于旋转带动双平面反射镜使光沿原光路返回,在返回的光路上依次设置所述两块平面反射镜、1/4波片、偏振分束镜、聚焦镜和CCD探测器。本发明能够实现不同面型、不同线密度的光栅的二维线密度的高精度测量。

    一种冲击波获取装置
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216746414U

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202220373088.1

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种冲击波获取装置,其中,冲击波获取装置包括两端开口的装配腔体,所述装配腔体的一端开口处固定设置有光学玻璃板,所述光学玻璃板远离所述装配腔体侧设置有应力发光片,且所述应力发光片远离所述光学玻璃板侧和所述装配腔体的外壁均设置有不透光的薄膜;所述装配腔体的另一端开口处固定设置有耦合光纤接头,且所述耦合光纤接头与所述光学玻璃板之间存在空隙。本实用新型的目的在于提供一种冲击波获取装置,用于将无形的冲击波转换为肉眼可见电信号,以便测试人员根据该电信号的波形、电信号的开始产生时间以及冲击波的开始产生时间实现冲击波到达时间的测试以及便于获得测试冲击波信号强弱的基础。

    一种用于激光加载材料动态破碎行为的X光成像的靶结构

    公开(公告)号:CN217033711U

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202220465782.6

    申请日:2022-03-04

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于激光加载材料动态破碎行为的X光成像的靶结构,包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶,靶架包括背光部和加载部,背光丝靶设置于支撑板,支撑板设置于背光部,加载靶设置于加载部;背光丝靶指向加载靶,且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本实用新型与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比,利用背光丝靶结构代替针孔结构,可将背光源的尺寸约束至10~15μm,相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸,可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布,从而提高对材料动态破碎行位的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs~ns级别,高空间分辨能达到μm级别,且光子能量具有灵活可调的特点。

    一种瞬态连续温度的单点测量系统

    公开(公告)号:CN216483525U

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202123321236.X

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本实用新型公开了一种瞬态连续温度的单点测量方法及系统,该系统包括:光谱分光成像系统、条纹相机和计算机,所述光谱分光成像系统和条纹相机沿待测目标的辐射光传输的方向依次设置,所述计算机连接条纹相机,该系统利用光谱分光成像系统接收目标点发出的辐射光并色散成像至条纹相机的入射狭缝,条纹相机通过设置采集时间和扫描速度得到包含时间轴和光谱轴的二维数字图像传输至计算机;计算机通过标定的条纹相机探测器各像素对应的光谱和时间,通过已获取的数字图像的获得单点随时间变化的瞬态连续温度。本实用新型提供的方法及系统通过结合光谱分光成像系统和具有纳秒甚至皮秒时间分辨的条纹相机系统实现瞬态连续温度的单点测量。

    一种光栅的二维线密度测量系统

    公开(公告)号:CN209485664U

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201920273923.2

    申请日:2019-03-05

    Abstract: 本实用新型公开了一种光栅的二维线密度测量系统,所述系统中,缩束准直器、一维π位相片、偏振分束镜、1/4波片、两块平面反射镜和电动二维平移台依次设置在激光发射器发射的激光的光路上;双平面反射镜设置在电动旋转台上;待测光栅放置在电动二维平移台上,激光经缩束准直器、一维π位相片、偏振分束镜、1/4波片和两块平面反射镜后照射到待测光栅表面;电动旋转台用于旋转带动双平面反射镜使光沿原光路返回,在返回的光路上依次设置所述两块平面反射镜、1/4波片、偏振分束镜、聚焦镜和CCD探测器。本实用新型能够实现不同面型、不同线密度的光栅的二维线密度的高精度测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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