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公开(公告)号：CN114526856A
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN202210169010.2
申请日：2022-02-23
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01L5/14
Abstract: 本发明公开了一种冲击波获取装置、冲击波测试系统及测试方法，其中，冲击波获取装置包括两端开口的装配腔体，所述装配腔体的一端开口处固定设置有光学玻璃板，所述光学玻璃板远离所述装配腔体侧设置有应力发光片，且所述应力发光片远离所述光学玻璃板侧和所述装配腔体的外壁均设置有不透光的薄膜；所述装配腔体的另一端开口处固定设置有耦合光纤接头，且所述耦合光纤接头与所述光学玻璃板之间存在空隙。本发明的目的在于提供一种冲击波获取装置、冲击波测试系统及测试方法，在实现冲击波到达时间测试的同时，可以实现冲击波到达强度的测试，具备抗电磁干扰能力。
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公开(公告)号：CN103413338B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310205376.1
申请日：2013-05-29
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法。本发明针对现有技术中存在的问题，提供基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建算法，以减少CT重建时所需的投影数目,从而减少CT对人体的辐射剂量或CT扫描时间,适用于不完全投影数据CT图像重建问题。本发明通过建立CT扫描成像模型的投影矩阵形式，进而建立用于图像重建的优化模型；然后对图像重建的优化模型中的图像进行优化求解，得到重建数据；再建立广义变分最小化的图像修正模型，对重建模型的重建数据进行修正，获得修正后的重建图像；最后判断修正后的重建图像是否满足迭代停止准则等步骤实现，本发明应用于CT图像重建设计领域。
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公开(公告)号：CN105873344A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610164479.1
申请日：2016-03-22
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: H05H1/00
CPC classification number: H05H1/005
Abstract: 本发明提供了一种基于横向梯度多层膜反射元件的X射线单能成像方法，该方案针对一定发射度的点发射X射线光源，通过元件参数的特殊设计，使多层膜上各个位置处都满足对同一光子能量的反射/衍射，达到X射线单能成像的目的。本发明克服了采用具有对数螺旋面型的晶体元件作为反射元件，受反射元件面型的影响而具有较大像差的劣势，同时，多层膜元件的带宽较大，反射光子通量较高，其在线调节也相对容易。本发明应用于X射线单能成像领域，包括Z箍缩、ICF过程中的等离子体自发光成像，点投影背光成像，和基于实验室X射线光源的吸收衬度成像和相位衬度成像等。
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公开(公告)号：CN103017657A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210521497.2
申请日：2012-12-07
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及非接触尺寸测量领域，尤其是一种针对危险目标源尺寸光学测量方法及装置。本发明为了克服现有技术中针对危险目标源测量中存在危险性或不方便直接测量的问题，提供一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置，本方法及装置可以实现对危险目标源的远距离非接触式测量，大大降低对危险源尺寸测量的危险性或更为方便进行危险目标源间接测量，还可针对运动危险目标源进行测量，且测量精度较高，装置紧凑，可在野外作业。本发明通过光学测量装置测量L1、L2、D，处理得到实际危险目标源尺寸。本发明应用于非接触尺寸测量领域。
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公开(公告)号：CN102997870A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210524925.7
申请日：2012-12-10
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明涉及一种同轴度检测领域，尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法，该方法可以实现非接触测量，且测量精度较高。同时由计算机处理图像，检测快速，可大大提高圆杆的同轴度检测效率。本发明通过检测采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号得到θ1、θ2等参数计算基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数。本发明应用于同轴度检测领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114441568A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202210213109.8
申请日：2022-03-04
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种激光加载材料动态破碎行为的X光成像方法及靶结构，靶结构包括背光丝靶、支撑板、靶架和加载靶，靶架包括背光部和加载部，背光丝靶设置于支撑板，支撑板设置于背光部，加载靶设置于加载部；背光丝靶指向加载靶，且背光丝靶和加载靶在同一轴线上。本方法与传统针孔辅助成像方法中所采用的靶结构相比，利用背光丝靶结构代替针孔结构，可将背光源的尺寸约束至10～15μm，相较于传统针孔约束后的50μm左右的背光源尺寸，可利用本靶结构获得均匀的次级光场分布，从而提高对材料动态破碎行为的高时空分辨X光成像效果精度。本靶结构对于X光成像效果的高时间分辨能达到fs～ns级别，高空间分辨能达到μm级别，且光子能量具有灵活可调的特点。
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公开(公告)号：CN102997870B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201210524925.7
申请日：2012-12-10
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明涉及一种同轴度检测领域，尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法，该方法可以实现非接触测量，且测量精度较高。同时由计算机处理图像，检测快速，可大大提高圆杆的同轴度检测效率。本发明通过检测采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号得到θ1、θ2等参数计算基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数。本发明应用于同轴度检测领域。
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公开(公告)号：CN103017657B
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201210521497.2
申请日：2012-12-07
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及非接触尺寸测量领域，尤其是一种针对危险目标源尺寸光学测量方法及装置。本发明为了克服现有技术中针对危险目标源测量中存在危险性或不方便直接测量的问题，提供一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置，本方法及装置可以实现对危险目标源的远距离非接触式测量，大大降低对危险源尺寸测量的危险性或更为方便进行危险目标源间接测量，还可针对运动危险目标源进行测量，且测量精度较高，装置紧凑，可在野外作业。本发明通过光学测量装置测量L1、L2、D，处理得到实际危险目标源尺寸。本发明应用于非接触尺寸测量领域。
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公开(公告)号：CN103413338A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310205376.1
申请日：2013-05-29
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建方法。本发明针对现有技术中存在的问题，提供基于广义变分最小化的少量投影CT图像重建算法，以减少CT重建时所需的投影数目,从而减少CT对人体的辐射剂量或CT扫描时间,适用于不完全投影数据CT图像重建问题。本发明通过建立CT扫描成像模型的投影矩阵形式，进而建立用于图像重建的优化模型；然后对图像重建的优化模型中的图像进行优化求解，得到重建数据；再建立广义变分最小化的图像修正模型，对重建模型的重建数据进行修正，获得修正后的重建图像；最后判断修正后的重建图像是否满足迭代停止准则等步骤实现，本发明应用于CT图像重建设计领域。
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公开(公告)号：CN202994108U
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201220673302.1
申请日：2012-12-10
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/27
Abstract: 本实用新型涉及同轴度检测领域，尤其是一种同轴度光学检测装置。本实用新型所要解决的技术问题是：为了克服现有的圆杆同轴度采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本实用新型提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测装置，该装置可以实现非接触测量，且测量精度较高。一种同轴度光学检测装置包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。本实用新型主要应用于同轴度检测领域。
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