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公开(公告)号：CN111487668B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202010466419.1
申请日：2020-05-28
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，通过瞄准激光组件依次调节所述伽马滤片堆栈谱仪模块、所述电子‑质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块，使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子‑质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴；采用本发明所提供的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，可实现对多辐射源的透射激光角分布、质子、电子角分布和能谱以及伽玛射线能谱等物理量的同时同轴测量，并且排除了激光发次的抖动以及不同测量角度的影响，获得了更加关联和精准的物理量数据，对于理解激光靶物理过程具有重要意义。
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公开(公告)号：CN110568474B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN201910948786.2
申请日：2019-10-08
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开一种宽能谱范围的带电粒子谱仪。所述带电粒子谱仪包括：准直器、磁场发生装置、电子探测器组件、绝缘盘、电场发生装置、离子探测器组件和瞄准激光组件。本发明中，通过激光加速产生的带电粒子穿过准直器，注入到磁场发生装置，然后电子偏转到磁场发生装置侧面的电子探测器上被记录；穿出磁场发生装置的离子注入到电场发生装置中，然后偏转到离子探测器上被记录。本发明电子只受到磁场作用，而离子在穿过磁场后再通过电场发生装置，从而将不同种类的离子分辨开来。此外本发明磁场发生装置的磁场分布具有一个上升沿，从而可以在满足高能端诊断需求的情况下，降低电子能量诊断阀值，可以实现相同空间立体角电子和离子的宽能谱范围诊断。
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公开(公告)号：CN116773562B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311057121.5
申请日：2023-08-22
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明提供了基于单束激光的双粒子高时空分辨背光照相方法和装置，包括：利用单束激光作用背光靶产生X射线源和质子源；X射线和质子束穿过待测客体，并携带所述待测客体的面密度分布信息和电磁场分布信息；利用质子记录设备对携带所述电磁场分布信息的质子束进行拦截和记录，得到质子背光照相图像；利用光学成像器件对携带所述面密度分布信息的X射线进行X射线成像；利用X射线图像记录设备接收所述X射线成像，得到X射线背光照相图像；以实现单束激光一次打靶产生双粒子对待测客体进行同一角度高时空分辨背光照相。
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公开(公告)号：CN116773562A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202311057121.5
申请日：2023-08-22
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明提供了基于单束激光的双粒子高时空分辨背光照相方法和装置，包括：利用单束激光作用背光靶产生X射线源和质子源；X射线和质子束穿过待测客体，并携带所述待测客体的面密度分布信息和电磁场分布信息；利用质子记录设备对携带所述电磁场分布信息的质子束进行拦截和记录，得到质子背光照相图像；利用光学成像器件对携带所述面密度分布信息的X射线进行X射线成像；利用X射线图像记录设备接收所述X射线成像，得到X射线背光照相图像；以实现单束激光一次打靶产生双粒子对待测客体进行同一角度高时空分辨背光照相。
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公开(公告)号：CN117110329A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311091598.5
申请日：2023-08-26
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明提供了一种多能量段照相方法、系统、设备及介质，所述方法包括：产生X射线并让所述X射线穿过测量客体；收集所述X射线穿过测量客体后产生的X射线图像；分析所述X射线图像，按照所述测量客体不同位置处的密度将所述X射线图像分离为多个能量段图像；基于所述X射线图像分离后产生的多个所述能量段图像，生成所述测量客体在不同密度下对应的测量图像。具有扩大X射线密度测量范围的效果。
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公开(公告)号：CN111522055A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010499521.1
申请日：2020-06-04
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01T1/36
摘要： 本发明涉及一种离子信号在线探测记录系统。所述探测记录系统包括：CMOS平板探测器、CMOS成像芯片和混合像素探测器；CMOS平板探测器设置在低能离子的出射区域，CMOS成像芯片设置在中能离子的出射区域，混合像素探测器设置在高能离子的出射区域，低能离子、中能离子和高能离子均是由激光打靶产生的。本发明根据激光加速离子束的能谱分布特点，提出了分段式在线探测记录方式，采用三种不同探测器对低、中、高三个能量段的离子信号进行在线探测记录，实现宽能谱范围离子信号在线探测记录，并且能够提高对高能离子的探测灵敏度。
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公开(公告)号：CN111522056B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202010522388.7
申请日：2020-06-10
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法。所述质子绝对能谱测量装置包括：从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈；辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔；中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合；汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点；实验靶点用于接收实验打靶激光，并使实验打靶激光加速产生质子，激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量，小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本发明综合这两套设备的诊断结果，能够实现宽范围下的高精度能谱测量。
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公开(公告)号：CN117629783A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311602764.3
申请日：2023-11-28
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明提供了一种用于柱形材料微喷研究的实验装置及其微喷图像分析方法，涉及柱形样品微喷图像分析领域，该装置包括：激光器发出的纳秒激光辐照柱形样品，在柱形样品中产生汇聚冲击波，形成微喷物质；诊断光线与成像接收装置在同一水平面上；诊断光线在调节纳秒激光的辐照参数以及柱形样品的相关参数的基础上，通过柱形样品的中心轴对柱形样品中的微喷物质进行成像；成像接收装置获取在纳秒激光加载下不同条件的柱形样品中微喷物质的微喷图像；图像分析仪基于所述微喷图像，分析不同条件下的柱形样品的微喷特性。本发明具有灵活性高的特点，且能够对不同条件下的柱形样品的微喷特性进行研究。
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公开(公告)号：CN116300293A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310140160.5
申请日：2023-02-20
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G03B42/02
摘要： 本发明涉及激光聚变研究领域和X射线探测技术领域，尤其是提供一种基于单束激光的双时刻X射线背光照相系统及方法，其中背光照相方法包括基于单束激光首次聚焦作用初级靶产生初级X射线源；未作用在初级靶上的透射激光从初级靶外侧透射至聚焦光学器件上，利用聚焦光学器件二次聚焦并将透射激光焦斑变小；基于二次聚焦后的透射激光作用次级靶产生次级X射线源；利用图像采集装置实现背光照相。其目的在于，用以解决现有激光X射线照相方法中单束激光作用靶一次只能够产生一个X射线源的技术问题，实现基于单束激光同轴或双轴的双时刻X射线背光照相的技术效果。
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公开(公告)号：CN111522056A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010522388.7
申请日：2020-06-10
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法。所述质子绝对能谱测量装置包括：从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈；辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔；中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合；汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点；实验靶点用于接收实验打靶激光，并使实验打靶激光加速产生质子，激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量，小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本发明综合这两套设备的诊断结果，能够实现宽范围下的高精度能谱测量。
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