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公开(公告)号：CN116295843A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211618397.1
申请日：2022-12-15
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01J4/00
摘要： 本发明涉及等离子物理核探测技术领域，尤其是提供一种短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法，其中测量方法包括：入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子，并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号；利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1，基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0；利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置；基于散射光子像素位置，然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。其目的在于，用以解决现有偏振测量仪无法在未知X射线偏振方向的情况下，快速测量偏振度并实现对入射X射线能量测量的问题，实现对短脉冲X射线源偏振度和能谱的单发测量功能。
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公开(公告)号：CN108490012B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN201810331761.3
申请日：2018-04-13
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01N23/2208
摘要： 本发明公开了基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备，包括超快激光束；反射镜，所述超快激光束会被反射的激光束将会汇集于一点；金属靶，被反射的激光束会入射到金属靶上后会产生X射线、质子束和电子束；定位块，所述定位块位于金属靶后方；质子探测器，所述质子束探测器位于定位块后方，用于探测并记录质子束拍摄到的质子图像；偏转磁铁，所述偏转磁铁用于将质子束、电子束偏转；X射线探测器，所述X射线探测器位于偏转磁铁后方，用于探测并记录X射线拍摄到的X射线图像。该设备中各器件均十分易得，组合安放十分便利，并且使用该设备对客体进行拍摄可在一次检测中完成不同物质密度客体及其携带电磁场信息的测量。
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公开(公告)号：CN107037476B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN201710020665.2
申请日：2017-01-12
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种基于Halbach二极磁铁的汤姆逊离子谱仪，其特征在于，包括准直圆盘、锥形磁场屏蔽铁、Halbach二极磁铁、电极板、两根电源线、成像板、装配内壳和装配外壳；准直圆盘中心带有准直通孔；锥形磁场屏蔽铁内部开有锥形通孔，其锥形小端和锥形通孔的锥形小端在同一侧；Halbach二极磁铁为由八瓣不同极化方向的永磁铁形成的带柱状通孔的圆柱体；该八瓣不同极化方向的永磁铁均为弧度为45°柱状体。本发明中的汤姆逊离子谱仪占用的空间更小，所产生的磁场强度更高。本发明中在Halbach二极磁铁前设计了一个锥形磁铁屏蔽铁，在一定长宽比情况下，可以有效屏蔽掉外部磁场，同时减小内部磁场损失。
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公开(公告)号：CN111522056B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202010522388.7
申请日：2020-06-10
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法。所述质子绝对能谱测量装置包括：从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈；辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔；中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合；汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点；实验靶点用于接收实验打靶激光，并使实验打靶激光加速产生质子，激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量，小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本发明综合这两套设备的诊断结果，能够实现宽范围下的高精度能谱测量。
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公开(公告)号：CN116754431B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311040265.X
申请日：2023-08-18
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01N9/24 , G01N23/223 , G01N23/04 , G01B15/04
摘要： 本发明公开一种瞬态质子荧光检测系统，涉及等离子体物理和核探测技术领域，系统包括质子源产生模块、荧光测量模块和质子成像模块；所述质子源产生模块用于产生质子束；质子束入射到混合材料，产生特征X射线；所述特征X射线入射到所述荧光测量模块，透过混合材料的质子入射到所述质子成像模块；所述荧光测量模块包括准直狭缝、金属滤片和混合像素探测器；所述特征X射线从所述准直狭缝射入所述金属滤片；穿过所述金属滤片的特征X射线被所述混合像素探测器探测；所述混合像素探测器用于进行单光子成像记录；所述质子成像模块用于进行质子成像诊断。本发明能解决目前材料混合动态演化过程中无法对混合过程中低含量材料的识别问题。
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公开(公告)号：CN111522056A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010522388.7
申请日：2020-06-10
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法。所述质子绝对能谱测量装置包括：从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈；辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔；中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合；汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点；实验靶点用于接收实验打靶激光，并使实验打靶激光加速产生质子，激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量，小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本发明综合这两套设备的诊断结果，能够实现宽范围下的高精度能谱测量。
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公开(公告)号：CN110568474B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN201910948786.2
申请日：2019-10-08
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开一种宽能谱范围的带电粒子谱仪。所述带电粒子谱仪包括：准直器、磁场发生装置、电子探测器组件、绝缘盘、电场发生装置、离子探测器组件和瞄准激光组件。本发明中，通过激光加速产生的带电粒子穿过准直器，注入到磁场发生装置，然后电子偏转到磁场发生装置侧面的电子探测器上被记录；穿出磁场发生装置的离子注入到电场发生装置中，然后偏转到离子探测器上被记录。本发明电子只受到磁场作用，而离子在穿过磁场后再通过电场发生装置，从而将不同种类的离子分辨开来。此外本发明磁场发生装置的磁场分布具有一个上升沿，从而可以在满足高能端诊断需求的情况下，降低电子能量诊断阀值，可以实现相同空间立体角电子和离子的宽能谱范围诊断。
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公开(公告)号：CN116990855A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202311264020.5
申请日：2023-09-28
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种在线电子磁谱仪，涉及等离子体物理和核探测技术领域，包括装配屏蔽盒以及安装于所述装配屏蔽盒内的磁铁组件和传像探测器；其中，所述磁铁组件用于实现电子束限束和偏转，从而实现不同能量电子空间上的分离；所述传像探测器包括装配盒、闪烁体、光纤面板以及CMOS传感器，所述闪烁体、所述光纤面板以及所述CMOS传感器均安装于所述装配盒上，所述闪烁体通过所述光纤面板与所述CMOS传感器连接，所述电子束经过所述磁铁组件后能够入射到所述闪烁体上，并产生闪烁光，所述闪烁光能够通过所述光纤面板传输至所述CMOS传感器。本发明能够实现对CMOS传感器芯片的有效保护，避免CMOS传感器性能变差。
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公开(公告)号：CN108490012A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810331761.3
申请日：2018-04-13
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC分类号： G01N23/2208
摘要： 本发明公开了基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备，包括超快激光束；反射镜，所述超快激光束会被反射的激光束将会汇集于一点；金属靶，被反射的激光束会入射到金属靶上后会产生X射线、质子束和电子束；定位块，所述定位块位于金属靶后方；质子探测器，所述质子束探测器位于定位块后方，用于探测并记录质子束拍摄到的质子图像；偏转磁铁，所述偏转磁铁用于将质子束、电子束偏转；X射线探测器，所述X射线探测器位于偏转磁铁后方，用于探测并记录X射线拍摄到的X射线图像。该设备中各器件均十分易得，组合安放十分便利，并且使用该设备对客体进行拍摄可在一次检测中完成不同物质密度客体及其携带电磁场信息的测量。
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公开(公告)号：CN116990855B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311264020.5
申请日：2023-09-28
申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
摘要： 本发明公开了一种在线电子磁谱仪，涉及等离子体物理和核探测技术领域，包括装配屏蔽盒以及安装于所述装配屏蔽盒内的磁铁组件和传像探测器；其中，所述磁铁组件用于实现电子束限束和偏转，从而实现不同能量电子空间上的分离；所述传像探测器包括装配盒、闪烁体、光纤面板以及CMOS传感器，所述闪烁体、所述光纤面板以及所述CMOS传感器均安装于所述装配盒上，所述闪烁体通过所述光纤面板与所述CMOS传感器连接，所述电子束经过所述磁铁组件后能够入射到所述闪烁体上，并产生闪烁光，所述闪烁光能够通过所述光纤面板传输至所述CMOS传感器。本发明能够实现对CMOS传感器芯片的有效保护，避免CMOS传感器性能变差。
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