一种瞬态质子荧光检测系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116754431A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202311040265.X

    申请日:2023-08-18

    摘要: 本发明公开一种瞬态质子荧光检测系统,涉及等离子体物理和核探测技术领域,系统包括质子源产生模块、荧光测量模块和质子成像模块;所述质子源产生模块用于产生质子束;质子束入射到混合材料,产生特征X射线;所述特征X射线入射到所述荧光测量模块,透过混合材料的质子入射到所述质子成像模块;所述荧光测量模块包括准直狭缝、金属滤片和混合像素探测器;所述特征X射线从所述准直狭缝射入所述金属滤片;穿过所述金属滤片的特征X射线被所述混合像素探测器探测;所述混合像素探测器用于进行单光子成像记录;所述质子成像模块用于进行质子成像诊断。本发明能解决目前材料混合动态演化过程中无法对混合过程中低含量材料的识别问题。

    一种用于激光靶场的小尺度焦斑定位系统

    公开(公告)号:CN109470223A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811570428.4

    申请日:2018-12-21

    IPC分类号: G01C15/00 G02B27/00 H01S3/10

    摘要: 本发明公开了一种用于激光靶场的小尺度焦斑定位系统。所述系统包括:激光发出装置和成像系统;激光发出装置用于产生激光,并将激光注入靶室,靶室内的聚焦元件将激光进行聚焦,得到焦斑,并将焦斑投射至靶室内的平面靶上,平面靶将焦斑散射至成像系统;成像系统用于形成平面靶像,并对平面靶像中的焦斑进行定位;激光发出装置包括:超短脉冲激光器、光纤激光器、设置在光纤激光器的输出光路上的聚焦透镜、设置在聚焦透镜的输出光路上的第一分光棱镜、设置在第一分光棱镜的反射光路上的准直物镜、设置在超短脉冲激光器的输出光路与准直物镜的输出光路的交界处的半透半反镜。本发明能够提高小尺度焦斑的定位精度。

    一种X射线光谱测量和分幅成像系统

    公开(公告)号:CN106199677B

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201610780888.4

    申请日:2016-08-30

    IPC分类号: G01T1/29 G01T1/36

    摘要: 本发明公开了一种X射线光谱测量和分幅成像系统,包括滤片,针孔阵列板,屏蔽片,弯晶分析器,限光狭缝,光谱记录介质和成像记录介质。针孔阵列板与成像记录介质组成X射线分幅成像通道,每一个弯晶分析器、限光狭缝和一个光谱记录介质组成一个X射线光谱测量通道。该光谱测量和成像系统主要用于激光聚变、实验室天体物理等产生的等离子体X射线诊断,在同一次实验,同一个诊断孔中即可获得等离子体发射的光谱信息和具有时间分辨、空间分辨的等离子体演化图像。该系统具有测谱范围宽,能谱分辨率高,多分幅成像,应用范围广,空间体积小等优点。

    一种啁啾脉冲速度干涉仪

    公开(公告)号:CN104730279B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201310706464.X

    申请日:2013-12-20

    IPC分类号: G01P3/68 G01N21/45

    摘要: 本发明公开了一种啁啾脉冲速度干涉仪。该干涉仪中:宽带脉冲激光光源输出的宽带激光脉冲,经过起偏器和脉冲展宽器后变成线偏振的线性啁啾脉冲;线性啁啾脉冲通过偏振分光棱镜产生偏振方向相互垂直的S偏振光和P偏振光,它们先后入射到被测样品表面;反射光以一定的夹角进行拍频干涉,由成像型光谱仪记录产生的拍频干涉条纹。所述S偏振光和P偏振光入射到样品表面前具有一定的延迟时间差,被样品表面反射后,通过光程补偿实现同步传输;所述起偏器和检偏器的透振方向相互垂直。本发明啁啾脉冲速度干涉仪可以实现亚皮秒量级的时间分辨,相应的记录系统为成像型光谱仪,避免了使用昂贵的条纹相机记录系统,从而有效控制了测试系统成本。

    一种聚变反应热斑区质子成像方法

    公开(公告)号:CN105280246B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201510573724.X

    申请日:2015-09-11

    IPC分类号: G21B1/25

    摘要: 本发明提供了一种聚变反应热斑区质子成像方法及标定装置和实验装置,使用由永磁铁制造的微型磁四极透镜对聚变反应热斑区产生的质子进行成像,以获得热斑压缩状态信息。该方法包括四个步骤:在标定装置中进行的质子成像微型磁四极透镜的标定、在实验装置中进行的微型磁四极透镜物距和像距的调节、等效光学透镜瞄准以及在线实验诊断。本发明适用于激光驱动惯性约束聚变、等离子体放电中子源、Z箍缩等装置中聚变反应热斑区域形状的诊断。本发明对质子源进行直接成像,无需编码和解码过程,不引入数字噪声,相对于编码成像方法,具有更大的接收立体角,可以在低1~2个数量级的质子产额条件下,实现相同的空间分辨率。

    一种光阳极质子源
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103310865B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201310201054.X

    申请日:2013-05-28

    IPC分类号: G21G4/04 G21G4/06

    摘要: 本发明公开了一种光阳极质子源,适用于高分辨质子照相,质子诊疗,高能量密度物质的产生,以及作为高能质子加速器的注入器。所述的光阳极质子源包括激光光源和真空靶室。本发明中的超短超强激光束穿过真空靶室窗口照射到靶室内的平面反射镜上,反射后的激光束由离轴抛面反射聚焦镜聚焦到富氢磁带靶上,产生MeV量级的连续谱质子束。质子束的能谱与发散角通过后面的束流品质调整系统后得到改善。螺线管的使用实现了束流的准直;准直后的束流通过RF腔后其能谱也受到调制,产生一系列准单能峰;最后束流通过狭缝-弯铁-狭缝结构的选能系统,产生了需要的单能峰质子束。本发明的光阳极质子源结构简单,具有良好的准直性、单色性、稳定性。