用于模拟β辐射源的电子束发生器及测试方法

    公开(公告)号:CN114200504B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202111517466.5

    申请日:2021-12-13

    IPC分类号: G01T1/29

    摘要: 本发明公开了用于模拟β辐射源的电子束发生器及测试方法,电子束发生器包括电子光学系统,所述电子光学系统包括电子枪、正极、一级磁透镜和二级磁透镜;所述电子枪用于在尖端发射电子,所述电子枪与电压范围为0‑60kV的高压电源连接;所述正极设置在电子枪后端;用于加速在尖端发射的电子;所述一级磁透镜设置在正极后端,用于汇聚加速后的电子;所述二级磁透镜设置在一级磁透镜后端,用于将过焦点再次发散的电子束变成平行电子束。本发明所述电子束发生器不仅能够模拟β辐射源,且能够可产生能量密度不同的加速电子面光源,能够提高束流测量的准确性。

    一种堆外探测器中子灵敏度校准装置及方法

    公开(公告)号:CN113866818A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111199580.8

    申请日:2021-10-14

    IPC分类号: G01T3/00 G01T7/00

    摘要: 本发明公开了一种堆外探测器中子灵敏度校准装置及方法,该装置包括线中子源、贮源容器、屏蔽体、慢化体、探测器定位孔和校准孔道;线中子源用于产生快中子;屏蔽体用于该装置在工作状态时屏蔽线中子源;慢化体用于将线中子源产生的快中子慢化成热中子;校准孔道作为热中子形成的热中子场所在的空间,用于反射热中子提高热中子注量率;堆外探测器通过探测器定位孔放置于该校准装置的热中子场中,且探测器根据检定人员通过控制系统发出的指令可沿探测器孔道上下移动。本发明装置操作简便,是目前国内唯一堆外探测器中子灵敏度校准装置,可以产生符合要求的热中子场用于中子灵敏度的校准,为反应堆的安全运行提供了可靠的计量保证。

    一种用于研究堆内材料形变的测量装置及试验装置

    公开(公告)号:CN113418462A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202110699238.8

    申请日:2021-06-23

    摘要: 本发明公开了一种用于研究堆内材料形变的测量装置,包括:夹持组件和形变测量组件,所述夹持组件内设置有与试验件适配的试验件安装槽,所述试验件固定在所述试验件安装槽内,所述夹持组件的侧面设置有形变测量组件安装孔,所述形变测量组件的测量端穿过所述形变测量组件安装孔与所述试验件接触,且所述形变测量组件与所述形变测量组件安装孔固定连接。本发明通过变测量组件对试验件的形变进行实时测量,使得其在进行形变测量的过程中,可以满足实时反映形变参数、辐照过程中的辐照性能的需求,能够实时反馈核材料在堆内辐照情况,并准确获取相关辐照参数。

    一种Ni-63溶液γ核素去除方法

    公开(公告)号:CN108977658B

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201810877693.0

    申请日:2018-08-03

    IPC分类号: C22B3/42 C22B23/00 G21F9/12

    摘要: 本发明公开了一种Ni‑63溶液γ核素去除方法,包括:向待分离溶液中加入适量的反载体,并将溶液转为适合于柱分离的体系,得到样品溶液,通过反载体法来提高γ去除率。第二步、一次柱分离:采用阴离子交换树脂,通过控制淋洗液的浓度及用量来去除Ni‑63粗品中强γ核素,得到一次分离后的Ni‑63样品溶液Y2,一次分离γ去除率高达99.96%。为了进一步的提高Ni‑63产品溶液的纯度,可进行二次分离。采用本方案,将一次分离后的树脂柱再生后直接进行二次分离,得到最终Ni‑63产品溶液Y4,总γ去除率高达99.999%;成功制备高纯度的63NiCl2溶液,为Ni‑63β源的制备和测量奠定了技术基础,同时实施成本低。