一种刻度方法和装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109323994B

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN201811374130.6

    申请日:2018-11-19

    摘要: 本发明实施例公开了一种刻度方法和装置,所述刻度方法包括:当满足第一预设条件或第二预设条件或第三预设条件或第四预设条件时,分别对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1,n2,n3,n4次采样,计算n1,n2,n3,n4次采样值的平均值;其中,n1,n2,n3,n4为大于或等于1的整数;根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值,根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值;记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。本发明实施例实现了对光谱分析仪进行刻度得到刻度参数。