一种联合RTDS和RT-LAB的MMC仿真系统

    公开(公告)号:CN104950694B

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201510364950.7

    申请日:2015-06-26

    IPC分类号: G05B17/02

    摘要: 本发明公开了一种联合RTDS和RT‑LAB的MMC仿真系统,包括:RTDS仿真器和RT‑LAB仿真器;RTDS仿真器用于模拟MMC主电路;RTDS仿真器包括MMC阀仿真器(1)和除MMC阀以外的交直流仿真器(2);RT‑LAB仿真器用于模拟MMC系统级控制器、站级控制器和阀级控制器;RT‑LAB仿真器包括站级控制器仿真器(3)、阀级控制器仿真器(4)和系统级控制器仿真器(5)。以上技术方案有效联合了RTDS和RT‑LAB仿真系统,能够适用于不同MMC拓扑结构的控制器设计、不同系统场景下控制器的改进设计和参数整定,进而有利于研究人员对MMC相关工作的展开。