开关柜传感器布置优化方法及系统

    公开(公告)号:CN118465456A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410609750.2

    申请日:2024-05-16

    IPC分类号: G01R31/12 G01R1/02 G01K13/00

    摘要: 本发明公开一种开关柜传感器布置优化方法及系统,方法包括在开关柜内放置绝缘缺陷模型和局放传感器;对绝缘缺陷模型施加电压以使绝缘缺陷模型进行局部放电,并利用局放传感器采集开关柜内的局部放电信号;调整局放传感器的安装位置,在开关柜内局部放电信号总量最大时对应的安装位置作为局部放电传感器的最佳布置位置;在开关柜上安装触头发热缺陷模型,调整第一温度传感器在开关柜的手车室内壁上的安装位置,将不同安装位置时所测量的温度值与两次通电电流值计算不同安装位置对应的温度变化率,将温度变化率取值最大时对应的安装位置作为温度传感器的最佳安装位置;本发明提高了传感器灵敏度和检测有效性,有效的提高高压开关柜状态感知水平。

    高压开关柜局部放电传感器布点方法及系统

    公开(公告)号:CN118465457A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410609753.6

    申请日:2024-05-16

    IPC分类号: G01R31/12 G01R1/02

    摘要: 本发明公开一种高压开关柜局部放电传感器布点方法及系统,方法包括针对每一局部放电源,确定局部放电传感器在开关柜上的待安装位置;根据局部放电源产生的空间电磁场,评估各待安装位置处的空间辐射幅值;选取空间辐射幅值较大的若干待安装位置作为待优化位置并布置局部放电传感器,并对局部放电传感器的各通道信号幅值进行归一化处理,得到每一局部放电传感器各通道的归一化测量值;基于各局部放电传感器不同通道的归一化测量值,计算每一局部放电传感器的平均归一化测量值,选取平均归一化测量值较大的若干位置作为优化后的布点位置;利用优化后局部放电传感器的布点位置,可更加准确地检测和定位开关柜内的局部放电源。

    高压开关柜触头温度反演方法及系统

    公开(公告)号:CN117232683A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311143087.3

    申请日:2023-09-05

    IPC分类号: G01K13/00 G06F17/15 G06F17/11

    摘要: 本发明公开一种高压开关柜触头温度反演方法及系统,方法包括测量梅花触头电阻值以及测量开关柜通入不同电流时对应的各测点的温度,所述测点包括触头、上触臂、下触臂和开关柜内壁处;基于所述梅花触头电阻值以及各测点的温度,构建反演方程t1j=k2jt2j+k3jt3j+k4jt4j+krr;采用最小二乘法求解所述反演方程,得到系数k2j、k3j、k4j、kr的取值;对系数k2j、k3j、k4j进行插值处理,得到系数与电流I之间的关系式;在开关柜运行时,基于系数与电流I之间的关系式,计算当前触头温度;本发明能够在不将温度传感器长时间安装在触头的同时,准确地实现触头温度的实时监控。

    一种脉冲电场测量系统的开环校准方法

    公开(公告)号:CN117871968B

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410257619.4

    申请日:2024-03-07

    IPC分类号: G01R29/08 G01R35/00 G01R15/24

    摘要: 本发明涉及脉冲电场测量技术领域,公开了一种脉冲电场测量系统的开环校准方法。该方法首先搭建测量系统的数学模型,包括系统的频域模型和时域模型,据此得到测量系统的频率响应特性和线性工作范围;再判断测量系统的特定器件和光纤插入损耗是否变化;当测量系统的特定器件和光纤插入损耗均不变化时,直接使用已计算出的频率响应特性和线性工作范围对测量系统进行标定;当测量系统的特定器件和/或光纤损耗插入发生变化时,将改变的器件参数和/或光纤插入损耗参数代入数学模型中,得到测量系统修改后的频率响应特性和线性工作范围,重新标定以完成对测量系统的开环校准。本发明显著降低了对测量系统进行校准的成本和难度。