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公开(公告)号：CN115097252A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210851735.X
申请日：2022-07-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电子元件检测系统。所述电子元件检测系统包括：多个老化板；多个样品板，各样品板上均设有待测电子元件；样品板设置于老化板上，与老化板一一对应设置，并与老化板一一对应电连接；多个驱动板，与老化板一一对应电连接；检测控制装置，与各驱动板均电连接；检测控制装置用于设定测试条件、测试判定条件及测试控制信号，将测试控制信号传输至驱动板，并实时监测待测电子元件在测试过程中的运行状态，运行状态包括正常工作状态和失效状态；驱动板用于根据测试控制信号对待测电子元件进行测试。采用该电子元件检测系统能够提高检测效率。
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