位姿测量系统
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113624135A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110979423.2

    申请日:2021-08-25

    Abstract: 本发明实施例提供了一种位姿测量系统,包括:导轨,所述导轨上方设有可分离的凸台,所述凸台设有沿导轨方向延伸的安装槽;直线电机,位于所述安装槽内;工作台,设置在所述凸台上,并受所述直线电机驱动沿所述导轨移动;测量镜,固定在所述工作台的工作平台上;及测量组件,位于所述导轨的一端,用于配合所述测量镜检测所述工作台的位姿。本发明实施例通过设置所述测量组件,并在工作台配置为所述测量镜,以使所述测量镜配合所述测量组件检测所述工作台的位姿,提高了位姿的测量精准度,满足了当前机器人高精度位姿测量校准需求。

    位姿测量系统
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113624135B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202110979423.2

    申请日:2021-08-25

    Abstract: 本发明实施例提供了一种位姿测量系统,包括:导轨,所述导轨上方设有可分离的凸台,所述凸台设有沿导轨方向延伸的安装槽;直线电机,位于所述安装槽内;工作台,设置在所述凸台上,并受所述直线电机驱动沿所述导轨移动;测量镜,固定在所述工作台的工作平台上;及测量组件,位于所述导轨的一端,用于配合所述测量镜检测所述工作台的位姿。本发明实施例通过设置所述测量组件,并在工作台配置为所述测量镜,以使所述测量镜配合所述测量组件检测所述工作台的位姿,提高了位姿的测量精准度,满足了当前机器人高精度位姿测量校准需求。

Patent Agency Ranking