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公开(公告)号:CN115407287A
公开(公告)日:2022-11-29
申请号:CN202210839161.4
申请日:2022-07-18
申请人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC分类号: G01S7/40
摘要: 本发明提供一种基于多状态流程重构的收发组件快速安全测试系统和方法,涉及相控阵雷达技术领域。本发明包括用于根据待测指标产生测试系统的第一控制信号和控制测试系统的主控制器;用于根据第一控制信号进行信号采集与分析、产生第二控制信号的数据采集与控制单元;用于根据第一控制信号和第二控制信号进行链路切换的开关矩阵,用于根据链路切换选通不同的测试仪表,对待测指标进行测试和显示的测试仪表组。本发明能够根据收发组件不同的工作状态,实现测试指标和仪表扫描设置的所有状态和流程的一次下发,然后整体读取技术,能够最大限度的减少测试过程中的状态切换和数据读取的时间,提升了测试效率。
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公开(公告)号:CN115792411A
公开(公告)日:2023-03-14
申请号:CN202211279357.9
申请日:2022-10-19
申请人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
摘要: 本发明提供一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法,涉及有源相控阵雷达天线测试技术领域。本发明基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块分别通过相应总线连接时序控制模块和射频幅相分析模块,射频信号切换模块连接射频幅相分析模块。该装置占用的暗室资源少,且功能全面,测试效率高。
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公开(公告)号:CN110542875A
公开(公告)日:2019-12-06
申请号:CN201910809791.5
申请日:2019-08-29
申请人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC分类号: G01R35/00
摘要: 本发明涉及一种光纤型电磁场探针幅相校准的装置,包括:矢量网络分析仪,用于测量校准装置中幅度和相位值;功率放大器,用于进行微波功率放大;可调衰减/移相器,用于改变校准装置中的幅度和相位值;双定向耦合器,用于耦合GTEM小室的输入功率和GTEM小室的反射功率;第一功率计;第二功率计;GTEM小室,用于形成稳定均匀的电磁场;探针,用于感应所在位置的电磁场幅度和相位变化;解调装置,用于将光载波中携带的电磁波信息分离出,获得电磁波信号的幅度和相位信息。本发明还公开了一种光纤型电磁场探针幅相校准的方法。本发明结构封闭、传输损耗低、不易受外界干扰;幅度校准范围大;更易搭建实现,适合光纤型电磁场探针的现场快速校准。
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