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公开(公告)号：CN117388905A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311335516.7
申请日：2023-10-16
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明公开了一种放射源物质定位装置，包括放射性射线隔离基座，放射性射线隔离基座的周面上绕其中心线方向均匀间隔凹设有多个探测器安装孔，探测器安装孔内嵌装有放射性射线探测器，放射性射线隔离基座上安装有中央处理单元、数据显示模块和供电模块，供电模块用于对各部件进行供电，各个探测器前端电路分别与中央处理单元电连接，数据显示模块与中央处理单元电连接，放射性射线隔离基座的顶面上绕放射性射线隔离基座中心线方向环设有一圈角度刻度值。本发明还公开了一种放射源物质的定位方法，利用多个放射源物质定位装置进行方向角度的定位，最终得到放射源物质的位置。本发明的定位装置探测视野范围大，操作使用方便可靠。
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公开(公告)号：CN115469351A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211329225.2
申请日：2022-10-27
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明公开了一种放射性定位检测方法及安检门，安检门包括两立柱和横梁，在横梁和至少一根立柱上各自间隔均匀设有多个放射性物质检测用探测器，横梁上探测器的闪烁体面朝下，立柱上探测器的闪烁体面朝另一根立柱；所有探测器的输出接处理单元，处理单元根据横梁上所有探测器的探测信号和立柱上所有探测器的探测信号分别确定横梁上信号强度最强的探测器以及立柱上信号强度最强的探测器，并将两信号强度最强的探测器对应方向的交点或者交点附近确定为放射性物质所在位置。本发明不但能检测出有无放射性物质，而且能够检测出放射性物质的位置。
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公开(公告)号：CN118292104A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410422245.7
申请日：2024-04-09
申请人： 中电科芯片技术(集团)有限公司 , 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明涉及一种均匀集成钨片的闪烁晶体阵列的制备方法，包括以下步骤：预先获得一种定型模具，定型模具具有若干呈阵列排布的竖向的晶体条容置腔，晶体条容置腔上下两端敞口；将定型模具放置在水平的底板上；将晶体条一一插入所有晶体条容置腔中，并采用粘接剂使晶体条固定于对应的晶体条容置腔内，晶体条的四个侧面和上表面均覆有一层反射层；固化成型后，拆除底板和定型模具不需要的部分，使定型模具留下部分作为闪烁晶体阵列的组成部分且材质为钨材，同时预先使晶体条容置腔壁厚为拟集成钨片的厚度。本发明能保证钨片与晶体反射层之间的距离是均匀的，优化晶体和钨片之间的界面耦合，有助于提高闪烁晶体阵列的分辨率和探测性能。
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公开(公告)号：CN117066164A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311193893.1
申请日：2023-09-15
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明公开了一种闪烁晶体自动筛选系统，包括：上料盘用于放置若干待筛选闪烁晶体；所有下料盘分别用于放置筛选后不同性能等级的闪烁晶体；上料拾放单元用于将上料盘内的待筛选闪烁晶体输送至性能检测单元；性能检测单元用于对待筛选闪烁晶体进行检测，并得到闪烁晶体的概率分布谱，并将闪烁晶体概率分布谱传送至控制单元；控制单元储存有标准样品峰位，根据接收到的闪烁晶体概率分布谱输出闪烁晶体的全能峰信息，并计算得到闪烁晶体相对光输出比值；控制单元与下料拾放单元连接，便于控制下料拾放单元将闪烁晶体输送至对应性能等级的下料盘中。本发明能自动对闪烁晶体进行筛选，工作效率高，且能有效减少工作人员受到放射源的辐射损伤。
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公开(公告)号：CN117492060A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311187198.4
申请日：2023-09-14
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明公开了一种辐照装置及其测试辐射探测器和闪烁晶体性能的方法，该辐照装置包括箱体，箱体内水平设有若干隔板，所有隔板上下间隔以将箱体分成若干腔室，在每个腔室内设有辐照单元；辐照单元包括转动机构，转动机构上设有用于放置放射源的放置槽，且所述转动机构可水平转动，在箱体一侧壁设有操作口，便于转动机构转动一定角度后使得放置槽从操作口处伸出箱体外，以便工作人员更换放置槽内的放射源；箱体底板和所有隔板上设有与放置槽一一对应的准直孔，便于转动机构转动后使得放置槽位于准直孔正上方，所有准直孔位于同一直线上。本发明可用于闪烁晶体性能测试以及辐射探测器标定以及刻度实验，且能有效减少辐射对工作人员的损伤。
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公开(公告)号：CN117139085A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311115898.2
申请日：2023-08-31
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
IPC分类号： B05C13/02
摘要： 本发明公开了一种灌封闪烁体晶条的夹具及方法，所述夹具包括夹具本体，所述夹具本体为平板结构且所述夹具本体厚度大于待灌封闪烁体晶体厚度，在夹具本体上设有若干贯穿夹具本体两端面的限位孔，所述限位孔用于对待灌封闪烁体晶条进行限位，所述限位孔的宽度大于待灌封闪烁体晶条宽度；所述夹具本体以及限位孔表面具有一层硅胶。本发明的夹具操作方便，能重复使用，对操作人员的技术水平要求低，能有效提高工作效率，且使用本夹具能有效避免灌封后的闪烁体晶条底部出现黄斑，减少气泡的产生。
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公开(公告)号：CN115856990A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211440982.7
申请日：2022-11-17
申请人： 中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘要： 本发明公开了一种闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法，本测试系统将X射线源发射的X射线通过X射线准直器进入待测闪烁晶体阵列发出闪烁光，闪烁光进入光电二极管阵列探测器，通过数据读出系统和数据采集系统到达控制系统，进入上位机，在X射线照射稳定的情况下通过测试计算每个像素的光输出数据获得待测闪烁晶体阵列的光产额和一致性，X射线挡块在滑轨上快速滑动将X射线准直器的狭缝挡住，实现X射线快速斩断，斩断时间≤1ms，测试斩断后的光输出值随时间变化的情况，计算得到闪烁晶体阵列各像素的余辉值。本发明在有效提高短余辉闪烁晶体阵列余辉的准确性时，同时实现了闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性同时测试。
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