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公开(公告)号：CN119781003A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202510005166.0
申请日：2025-01-02
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的便携式核辐射成像模块测试系统，包括信号输入接口、模数转换器、FPGA、数据缓存模块、HDMI显示器；信号输入接口用于将核辐射成像探测器模块输出的四路模拟信号接入并通过模数转换器转换为数字信号，数字信号在FPGA内依次经数字滤波、极零相消、基线扣除、堆积判弃、峰值提取处理后得到有效的四路符合信号的峰值，并计算得到若干对坐标值，存储在数据缓存模块中，达到设定的存储深度后在FPGA内部经由散点图图像绘制模块计算得到散点图像，散点图像发送到显示器上进行显示。本发明能够实现对核辐射成像探测器模块成像结果的快速准确测试，且体积小巧，使用方便，具有便携性和普适性。
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公开(公告)号：CN118292104A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410422245.7
申请日：2024-04-09
Applicant: 中电科芯片技术(集团)有限公司 , 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明涉及一种均匀集成钨片的闪烁晶体阵列的制备方法，包括以下步骤：预先获得一种定型模具，定型模具具有若干呈阵列排布的竖向的晶体条容置腔，晶体条容置腔上下两端敞口；将定型模具放置在水平的底板上；将晶体条一一插入所有晶体条容置腔中，并采用粘接剂使晶体条固定于对应的晶体条容置腔内，晶体条的四个侧面和上表面均覆有一层反射层；固化成型后，拆除底板和定型模具不需要的部分，使定型模具留下部分作为闪烁晶体阵列的组成部分且材质为钨材，同时预先使晶体条容置腔壁厚为拟集成钨片的厚度。本发明能保证钨片与晶体反射层之间的距离是均匀的，优化晶体和钨片之间的界面耦合，有助于提高闪烁晶体阵列的分辨率和探测性能。
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公开(公告)号：CN117066164A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311193893.1
申请日：2023-09-15
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种闪烁晶体自动筛选系统，包括：上料盘用于放置若干待筛选闪烁晶体；所有下料盘分别用于放置筛选后不同性能等级的闪烁晶体；上料拾放单元用于将上料盘内的待筛选闪烁晶体输送至性能检测单元；性能检测单元用于对待筛选闪烁晶体进行检测，并得到闪烁晶体的概率分布谱，并将闪烁晶体概率分布谱传送至控制单元；控制单元储存有标准样品峰位，根据接收到的闪烁晶体概率分布谱输出闪烁晶体的全能峰信息，并计算得到闪烁晶体相对光输出比值；控制单元与下料拾放单元连接，便于控制下料拾放单元将闪烁晶体输送至对应性能等级的下料盘中。本发明能自动对闪烁晶体进行筛选，工作效率高，且能有效减少工作人员受到放射源的辐射损伤。
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公开(公告)号：CN114152971B
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202111466301.X
申请日：2021-12-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统，测量方法的步骤包括：S1、放射源产生的高能辐射在闪烁晶体中产生闪烁光子，然后被光电倍增管收集和倍增并通过光电效应转换成电信号，示波器读取光电倍增管的电信号而得到关于电压脉冲信号的波形；S2、通过对关于电压脉冲信号的波形拟合处理，即得到闪烁晶体的发光衰减时间。测量系统包括：光电倍增管底座、与光电倍增管底座相连接的光电倍增管以及计算机，光电倍增管底座输入连接有高压电源，用于对光电倍增管供电；光电倍增管光阴极中心通过硅脂耦合放置有待测闪烁晶体,并通过遮光罩覆盖待测闪烁晶体。本发明能够准确测量不同闪烁晶体发光衰减时间，测试过程操作简单、快捷。
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公开(公告)号：CN117492060A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311187198.4
申请日：2023-09-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种辐照装置及其测试辐射探测器和闪烁晶体性能的方法，该辐照装置包括箱体，箱体内水平设有若干隔板，所有隔板上下间隔以将箱体分成若干腔室，在每个腔室内设有辐照单元；辐照单元包括转动机构，转动机构上设有用于放置放射源的放置槽，且所述转动机构可水平转动，在箱体一侧壁设有操作口，便于转动机构转动一定角度后使得放置槽从操作口处伸出箱体外，以便工作人员更换放置槽内的放射源；箱体底板和所有隔板上设有与放置槽一一对应的准直孔，便于转动机构转动后使得放置槽位于准直孔正上方，所有准直孔位于同一直线上。本发明可用于闪烁晶体性能测试以及辐射探测器标定以及刻度实验，且能有效减少辐射对工作人员的损伤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115856990A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211440982.7
申请日：2022-11-17
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法，本测试系统将X射线源发射的X射线通过X射线准直器进入待测闪烁晶体阵列发出闪烁光，闪烁光进入光电二极管阵列探测器，通过数据读出系统和数据采集系统到达控制系统，进入上位机，在X射线照射稳定的情况下通过测试计算每个像素的光输出数据获得待测闪烁晶体阵列的光产额和一致性，X射线挡块在滑轨上快速滑动将X射线准直器的狭缝挡住，实现X射线快速斩断，斩断时间≤1ms，测试斩断后的光输出值随时间变化的情况，计算得到闪烁晶体阵列各像素的余辉值。本发明在有效提高短余辉闪烁晶体阵列余辉的准确性时，同时实现了闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性同时测试。
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公开(公告)号：CN114152971A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111466301.X
申请日：2021-12-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统，测量方法的步骤包括：S1、放射源产生的高能辐射在闪烁晶体中产生闪烁光子，然后被光电倍增管收集和倍增并通过光电效应转换成电信号，示波器读取光电倍增管的电信号而得到关于电压脉冲信号的波形；S2、通过对关于电压脉冲信号的波形拟合处理，即得到闪烁晶体的发光衰减时间。测量系统包括：光电倍增管底座、与光电倍增管底座相连接的光电倍增管以及计算机，光电倍增管底座输入连接有高压电源，用于对光电倍增管供电；光电倍增管光阴极中心通过硅脂耦合放置有待测闪烁晶体,并通过遮光罩覆盖待测闪烁晶体。本发明能够准确测量不同闪烁晶体发光衰减时间，测试过程操作简单、快捷。
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公开(公告)号：CN119224823A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411423480.2
申请日：2024-10-12
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明具体公开了一种闪烁晶体阵列光串扰的检测系统及检测方法，其中一检测系统包括屏蔽箱体、三维移动模块、载物台、光敏器件、射线源、信号处理模块和计算机；三维移动模块、载物台、光敏器件、射线源和信号处理模块设于屏蔽箱体内；三维移动模块设于屏蔽箱体底部，载物台水平放置在三维移动模块上，光敏器件放置在载物台上用于与待检测闪烁晶体阵列耦合，三维移动模块能在水平方向和竖直方向移动；射线源设置在屏蔽箱体顶部，在射线源下方设有准直器；信号处理模块与光敏器件连接，用于处理电信号，信号处理模块与计算机连接。本发明能用于多种规格的闪烁晶体阵列光串扰的自动检测，检测效率高，且能有效保护工作人员，提高安全性。
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公开(公告)号：CN117388905A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311335516.7
申请日：2023-10-16
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种放射源物质定位装置，包括放射性射线隔离基座，放射性射线隔离基座的周面上绕其中心线方向均匀间隔凹设有多个探测器安装孔，探测器安装孔内嵌装有放射性射线探测器，放射性射线隔离基座上安装有中央处理单元、数据显示模块和供电模块，供电模块用于对各部件进行供电，各个探测器前端电路分别与中央处理单元电连接，数据显示模块与中央处理单元电连接，放射性射线隔离基座的顶面上绕放射性射线隔离基座中心线方向环设有一圈角度刻度值。本发明还公开了一种放射源物质的定位方法，利用多个放射源物质定位装置进行方向角度的定位，最终得到放射源物质的位置。本发明的定位装置探测视野范围大，操作使用方便可靠。
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公开(公告)号：CN115469351A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211329225.2
申请日：2022-10-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
Abstract: 本发明公开了一种放射性定位检测方法及安检门，安检门包括两立柱和横梁，在横梁和至少一根立柱上各自间隔均匀设有多个放射性物质检测用探测器，横梁上探测器的闪烁体面朝下，立柱上探测器的闪烁体面朝另一根立柱；所有探测器的输出接处理单元，处理单元根据横梁上所有探测器的探测信号和立柱上所有探测器的探测信号分别确定横梁上信号强度最强的探测器以及立柱上信号强度最强的探测器，并将两信号强度最强的探测器对应方向的交点或者交点附近确定为放射性物质所在位置。本发明不但能检测出有无放射性物质，而且能够检测出放射性物质的位置。
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