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公开(公告)号：CN107992675A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711224057.X
申请日：2017-11-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种EDA验证阶段的仲裁电路测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括搭建集成EDA验证平台、提取仲裁逻辑编写相关组件、运行测试向量等步骤。本发明采用了一种从仲裁数据源到待测设计测试激励的反馈机制，实现了仲裁逻辑测试工作的快速收敛，极大地提高了验证工程师的工作效率，是对现有技术的一种重要改进。
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公开(公告)号：CN107992675B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201711224057.X
申请日：2017-11-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种EDA验证阶段的仲裁电路测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括搭建集成EDA验证平台、提取仲裁逻辑编写相关组件、运行测试向量等步骤。本发明采用了一种从仲裁数据源到待测设计测试激励的反馈机制，实现了仲裁逻辑测试工作的快速收敛，极大地提高了验证工程师的工作效率，是对现有技术的一种重要改进。
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公开(公告)号：CN107885925A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201711067061.X
申请日：2017-11-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081 , G06F17/5009
Abstract: 本发明公开了一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括组建寄存器测试平台、编写寄存器测试程序以及寄存器测试等步骤。本发明测试过程中，寄存器测试程序减少了对测试场景的依赖性，可贯穿整个EDA验证阶段，并实现了最大化的随机测试，是对现有技术的一个重要改进。
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公开(公告)号：CN107885925B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201711067061.X
申请日：2017-11-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括组建寄存器测试平台、编写寄存器测试程序以及寄存器测试等步骤。本发明测试过程中，寄存器测试程序减少了对测试场景的依赖性，可贯穿整个EDA验证阶段，并实现了最大化的随机测试，是对现有技术的一个重要改进。
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