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公开(公告)号：CN118712248A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202410855305.4
申请日：2024-06-28
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： H01L31/0352 , H01L31/112 , B82Y15/00 , B82Y30/00
摘要： 本发明公开了一种硒化镉量子点增强的二硫化钼光电探测器，属于光电探测技术领域；其包括基底、二硫化钼、硒化镉量子点、源电极和漏电极；二硫化钼位于基底上表面；所述硒化镉量子点、源电极和漏电极均位于二硫化钼上表面，源电极和漏电极位于硒化镉量子点两端。本发明相较于现有的可见光电探测器，具有更高的光电流、更大的响应度和比探测率；比现有可见光电探测器操作更简便、成本更低，具有更高的研发性价比。
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公开(公告)号：CN118867008A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410855111.4
申请日：2024-06-28
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： H01L31/032 , H01L31/112
摘要： 本发明公开了一种高性能多层硒化铟光电探测器，属于光电探测技术领域；其包括基底、硒化铟、源电极和漏电极，所述硒化铟、源电极和漏电极均位于基底上表面，所述源电极和漏电极分别位于硒化铟的两端。本发明比现有可见光电探测器操作更简便、成本更低，具有更高的研发性价比。
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公开(公告)号：CN116934594A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310891185.9
申请日：2023-07-20
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G06T3/40 , G06T9/00 , G06N3/0499 , G06N3/08 , G06N3/084
摘要： 本发明提出了一种基于Transformer的超高分辨率图像计算方法，属于深度学习技术领域，用于实现超高分辨率图像的人工智能计算。该方法可以将具有较大分辨率的图像切分并转换成统一的数据类型，在保存原有数据的空间或时间位置信息的同时采用Transformer编码器完成计算。极大的解决了由于图像分辨率过大而导致的中间特征数据巨多的问题，降低了对于硬件的要求也提高计算效率；通过Transformer的自注意力机制和位置嵌入方法，在提高特征提取能力的同时关注特征位置信息，实现了面向超高分辨率图像的人工智能计算；具备较高的适用性，可适用于任意分辨率的图像。
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公开(公告)号：CN118468770A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410637448.8
申请日：2024-05-22
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G06F30/3308
摘要： 本发明公开了一种针对SR‑IOV芯片数据搬运功能的验证系统，属于芯片验证领域。该系统包括待测设计和验证平台，待测设计与验证平台通过验证平台提供的接口相连；验证平台包括测试用例层、业务层、驱动层和协议层；测试用例层用于创建全局配置对象并对其余各层配置；业务层为每个DMA描述符队列产生一系列业务层激励对象并传递给驱动层；驱动层接收业务层激励对象并转换为对协议层的具体调用操作；协议层与待测设计直接交互，完成测试数据的初始化、测试激励的驱动和响应的采集。本发明能够根据待测设计参数和验证需求快捷生成针对SR‑IOV芯片数据搬运功能的验证环境和仿真激励，避免对数量庞大的DMA描述符队列进行人工生成和维护的成本，显著提高验证工作效率。
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公开(公告)号：CN113466675B
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202110576360.6
申请日：2021-05-26
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明提供了一种测试向量生成方法，属于电路测试技术领域。本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，采用对数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量。该方法主要由待测电路仿真、确定向量周期、逐点提取数据、合并向量数据和生成时序文件步骤组成，最终由向量数据和时序文件组成测试向量。本方法既可以实现任意数量通道上信号任意速率的向量转换，又可以省却VCD文件生成和VCD文件转换成测试向量这两个过程，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。
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公开(公告)号：CN107480382A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710716457.6
申请日：2017-08-21
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5081 , G06F2217/64
摘要： 本发明公开了一种快速收敛的覆盖率驱动验证方法，属于集成电路设计技术领域。它包括制定验证计划、搭建覆盖率驱动的验证平台、嵌入断言、运行测试向量仿真、分析覆盖率和反复迭代测试等步骤。本发明采用新型的覆盖率驱动验证平台，验证平台增加了功能覆盖率的反馈机制，能够根据每次仿真后的覆盖率值来控制下一次的随机变量的生成，通过记录当前的功能覆盖信息，并据此来约束随机变量的生成，以减少随机种子的重复配置，避免功能点的过度覆盖，从而快速达到覆盖率收敛的目的。
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公开(公告)号：CN117395266A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311491661.4
申请日：2023-11-09
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： H04L67/1097 , H04L67/2885
摘要： 本发明公开了一种iSCSI跨层系统，它涉及网络存储技术领域；其包括Application、SCSI、iSCSI、TCP、IP、MAC等模块，尤其是将其中的SCSI、iSCSI、TCP进行合并优化设计SCSI‑iSCSI‑TCP模块。此跨层设计方法，可以使得iSCSI目标器受网络的影响小，可应用于状态不好的网络；也使得iSCSI目标器受协议栈分层的影响小，使得iSCSI目标器受环境的影响小，可应用于远距离的网络环境。同时也具有实现硬件成本低、操作简单维护方便、扩充性强等优点。此方法可广泛应用于各种iSCSI系统设计中，具有很好的社会效益和经济效益。
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公开(公告)号：CN117113168A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310891542.1
申请日：2023-07-20
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G06F18/241 , G06F18/10 , G06F18/213 , G06N3/0499 , G06N3/08 , G06N3/084
摘要： 本发明公开了一种基于Transformer的多模态计算方法，属于深度学习技术领域，其用于将多模态的数据转成同一数据类型，并通过位置编码的方式保存原有数据的空间或时间位置信息，最终通过Transformer编码器完成计算。本发明具备较高的适用性；并且降低了对于硬件的要求，计算效率高、计算开销小。
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公开(公告)号：CN107885925B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201711067061.X
申请日：2017-11-03
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G06F30/398
摘要： 本发明公开了一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括组建寄存器测试平台、编写寄存器测试程序以及寄存器测试等步骤。本发明测试过程中，寄存器测试程序减少了对测试场景的依赖性，可贯穿整个EDA验证阶段，并实现了最大化的随机测试，是对现有技术的一个重要改进。
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公开(公告)号：CN113466675A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110576360.6
申请日：2021-05-26
申请人： 中国电子科技集团公司第五十四研究所
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本发明提供了一种测试向量生成方法，属于电路测试技术领域。本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，采用对数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量。该方法主要由待测电路仿真、确定向量周期、逐点提取数据、合并向量数据和生成时序文件步骤组成，最终由向量数据和时序文件组成测试向量。本方法既可以实现任意数量通道上信号任意速率的向量转换，又可以省却VCD文件生成和VCD文件转换成测试向量这两个过程，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。
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